产品概述
pco.flim X是埃赛力达第一款频域(FD)荧光寿命成像显微镜(FLIM)相机的新版本,采用每像元两个读出端的快速可调制CMOS传感器。该产品提供更强制冷功能,通过强制风冷可使图像传感器温度达到-5°C,水冷可达到-20°C。这些条件可令读出噪音水平大大降低至15 [e-]以下,并将可用曝光时间从2秒延长到4秒。因此,pco.flim X仍然是市场上分辨率最高(1008 x 1008像素)、最高帧速最快(45个双帧/秒)的频域FLIM相机系统。
1008 x 1008像素的出色分辨率 可测量1ns – 100µs的荧光寿命 图像传感器可热电冷却至-5°C(风冷)/ -20 °C(水冷) 全幅分辨率下最大帧速为45个双帧/秒
核心特性与优势
- 市场最高分辨率:1008 x 1008像素,最高帧速45个双帧/秒的频域FLIM相机
- 超强制冷性能:风冷降至-5°C,水冷降至-20°C,读出噪音低于15 [e-]
- 宽荧光寿命测量范围:可测量1ns – 100µs的荧光寿命
- 14位A/D动态范围,峰值量子效率达39%
- 适用于FLIM、FRET、共聚焦转盘显微镜、半导体质控等多种前沿应用
技术参数
| 参数项 | 参数值 |
|---|---|
| 分辨率 | 1008 x 1008像素 |
| 像元大小 | 5.6 x 5.6 µm |
| 调制频率(输出) | 5 kHz – 40 MHz |
| 调制频率(输入) | 500 kHz – 40 MHz |
| 峰值量子效率 | 39 % |
| 动态范围A/D | 14位 |
文档与下载
相关软件
应用领域
- 光片荧光显微镜结合荧光寿命成像
- 宽场显微镜高分辨率荧光寿命成像
- 利用供体荧光寿命进行快速FRET测量
- 光学化学传感器二维测量
- 利用内源荧光寿命进行数字染色
- 半导体质量控制
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- 共聚焦转盘显微镜
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