Thorlabs S175C 显微镜载玻片型热敏功率探头 300 nm – 10.6 µm 100 µW – 2 W
S175C热电堆探头，300nm至10.6µm，100µW至2W量程，兼容PM100系列。
产品概述
S175C是一款基于热电堆（Thermopile）探测技术的热功率探头，专为连续波（CW）和低重频脉冲激光的功率测量设计。该探头采用BB吸收涂层，光谱响应范围覆盖300 nm至10.6 µm，功率测量量程为100 µW至2 W，能够满足从紫外到远红外波段的宽光谱测量需求。
在关键性能方面，S175C具备高损伤阈值，其坚固的封装与吸收涂层设计提供了良好的散热和抗损伤能力。探头适配特定的光斑尺寸，提供多种通光孔径选项。其响应时间处于毫秒至秒级，采用自然无源冷却方式，无需外部水冷或热电制冷即可在特定中高功率下保持稳定工作。
S175C配备SM1螺纹接口，可直接与Thorlabs SM1螺纹光学元件兼容，并无缝接入PM100D、PM100USB及PM400等功率计控制台。出厂校准不确定度达到±6%或更优，广泛适用于激光加工过程监测、科研实验及工业检测等需要精确功率测量的典型应用场景。
核心规格参数
核心特点
- 采用热电堆（Thermopile）探测原理，适用于连续波（CW）和低重频脉冲激光功率测量。
- 光谱响应范围宽，覆盖300 nm至10.6 µm，满足紫外至远红外波段的测量需求。
- 功率量程覆盖100 µW至2 W，针对特定中高功率激光应用进行了优化设计。
- 配备BB吸收涂层，具备高损伤阈值，坚固的封装设计提供良好的散热与抗损伤能力。
- 采用自然无源冷却方式，无需外部水冷或主动制冷即可维持稳定的热力学测量环境。
- 提供多种通光孔径选项，适配不同光斑尺寸，确保光束完全进入探测区域。
- 兼容Thorlabs PM100D、PM100USB和PM400等多种功率计控制台，实现即插即用。
- 具备SM1螺纹接口，便于在光学面包板或光具座上进行标准化的机械安装与对准。
同系列产品对比
| 型号 | 类型 | 波长范围 | 功率范围 | 孔径 |
|---|---|---|---|---|
| S401C | 表面吸收 | 0.19 – 20 µm | 10 µW – 1 W | Ø10 mm |
| S405C | 表面吸收 | 0.19 – 20 µm | 100 µW – 5 W | Ø10 mm |
| S415C | 表面吸收 | 0.19 – 20 µm | 2 mW – 10 W | Ø15 mm |
| S425C | 表面吸收 | 0.19 – 20 µm | 2 mW – 10 W | Ø25.4 mm |
| S425C-L | 表面吸收 | 0.19 – 20 µm | 2 mW – 50 W | Ø25.4 mm |
| S350C | 表面吸收 | 0.19 – 1.1 µm/10.6 µm | 10 mW – 40 W | Ø40 mm |
| S370C | 体吸收 | 0.4 – 5.2 µm | 10 mW – 10 W | Ø25 mm |
| S470C | 体吸收 | 0.25 – 10.6 µm | 100 µW – 5 W | Ø15 mm |
| S440C | 位置传感 | 0.19 – 20 µm | 0.5 mW – 5 W | 17×17 mm |
| S442C | 位置传感 | 0.19 – 20 µm | 10 mW – 50 W | Ø17.5 mm |
| S322C | 表面吸收(风冷) | 0.25 – 11 µm | 100 mW – 200 W |
详细技术参数
产品详情
S175C热功率探头的核心工作原理基于热电堆（Thermopile）效应。当激光照射到探头表面的BB吸收涂层时，光能被转化为热能，导致吸收体温度升高。热电堆传感器通过测量吸收体与热沉之间的温差，产生与入射光功率成正比的微弱电压信号。这种热探测机制使其具有极佳的光谱平坦度，不依赖于光子能量，从而实现了从300 nm到10.6 µm的宽光谱响应。
在性能设计上，S175C采用了高吸收率的BB涂层，该涂层在紫外至远红外波段均表现出优异的吸收特性。坚固的封装结构不仅保护了内部精密的热电堆元件，还提供了高效的热传导路径。结合自然无源冷却方式，探头能够在100 µW至2 W的功率范围内有效散热，避免热饱和现象，同时具备较高的损伤阈值，确保在连续波和低重频脉冲激光测量中的长期稳定性。
S175C专为与Thorlabs功率计控制台配合使用而设计。通过标准电缆连接至PM100D、PM100USB或PM400等仪表后，控制台会自动识别探头类型并加载相应的校准系数。用户只需在仪表菜单中选择对应的传感器型号，即可直接读取精确的功率值。这种即插即用的设计大幅简化了测量流程，降低了人为计算误差的风险。
机械接口方面，S175C配备了标准的SM1螺纹接口，可直接旋入Thorlabs的SM1螺纹镜架或光学调整架中，确保光路对准的机械稳定性。探头提供多种通光孔径选项，用户可根据实际激光光斑尺寸选择合适的型号，确保光束完全进入探测区域而不产生截断。对于需要更长操作距离的场景，还可选择延长电缆以优化实验室布局。
每一台S175C探头在出厂前均经过严格的功率校准，校准不确定度控制在±6%或更优。校准数据被存储在探头的内部芯片或随附的校准证书中，确保测量结果的可追溯性。这种严格的质量控制体系使其能够满足激光加工过程监测、精密科研实验以及工业检测等领域对功率测量准确度的严苛要求。
应用领域
- 连续波(CW)固体及气体激光器的输出功率实时监测
- 低重频脉冲激光器的平均功率测量与稳定性评估
- 紫外至远红外宽光谱激光光源的功率标定与校准
- 激光加工（如切割、焊接）过程中的能量监控
- 光学实验室中激光二极管及泵浦源的功率表征
- 工业激光检测系统中的在线功率反馈控制
- 医疗激光设备（如红外理疗、手术激光）的输出功率验证
常见问题 (FAQ)
Q1: S175C探头能否用于高重频脉冲激光的测量？
S175C专为连续波（CW）和低重频脉冲激光设计。对于高重频脉冲激光，其热响应时间（毫秒至秒级）可能无法准确分辨单个脉冲，且平均功率若超出2W量程或热积累过快可能导致测量误差，建议选用光电二极管探头或更高功率的热探头。
Q2: 如何确保S175C在测量时的准确性？
为确保准确性，请将S175C连接至PM100D或PM100USB等兼容控制台，仪表会自动读取探头内置的校准系数。同时，确保激光光斑完全进入探头的通光孔径内，避免光束截断，并在自然冷却环境下给予足够的热平衡时间。
Q3: S175C的BB涂层能否用于10.6 µm的CO2激光测量？
可以。S175C配备的BB涂层具有宽光谱吸收特性，其光谱响应范围覆盖至10.6 µm，能够有效吸收CO2激光并将其转化为热能，从而实现准确的功率测量。
Q4: 探头是否需要外部水冷或主动制冷？
不需要。S175C在100 µW至2 W的量程范围内采用自然无源冷却方式。其坚固的封装设计提供了良好的散热路径，无需连接外部水冷机或热电制冷器即可正常工作。
免责声明
1. 产品规格和参数以Thorlabs官方最新数据为准，如有变更恕不另行通知。
2. 产品图片仅供参考，具体以实物为准。
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