Thorlabs WFS20-7AR/M,WFS20高速波前传感器,400 – 900 nm

Thorlabs WFS20-7AR/M,WFS20高速波前传感器,400 – 900 nm

¥75,684.00
SKU: WFS20-7AR/M
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WFS20-7AR/M – WFS20高速波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 4.2 mm × 4.2 mm

WFS20-7AR/M 是一款基于Shack-Hartmann原理的高速波前传感器,专为高精度波前测量而设计。它采用高灵敏度CMOS图像传感器与150 µm间距的增透膜微透镜阵列,在400-900 nm宽光谱范围内实现卓越的波前探测能力。凭借< λ/100 RMS的波前精度与高速帧率,该传感器可精准捕捉动态波前变化,是自适应光学与激光光束质量检测的理想选择。

产品概述

WFS20-7AR/M 高速波前传感器是一款基于经典Shack-Hartmann波前传感技术的高性能光学测量仪器。该传感器通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦斑的位移量,从而实现对整体波前相位的高精度重建。

本产品配备150 µm间距的增透膜微透镜阵列,有效工作波长覆盖400至900 nm,提供超过1000个子孔径的丰富空间采样。其波前测量精度优于λ/100 RMS,动态范围高达100 λ以上,能够轻松应对从近平面波到强像差光束的复杂测量需求。结合USB 3.0高速接口与外部触发功能,WFS20-7AR/M不仅能实现全孔径波前的高速实时监测,还能与外部设备完美同步,广泛应用于自适应光学系统、激光光束质量分析、光学元件面形检测等前沿科研与工业领域。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度、高可靠性的波前相位测量与重建
  • 波前精度优于λ/100 RMS,动态范围超过100 λ,满足复杂像差测量需求
  • 采用150 µm间距增透膜微透镜阵列,提供>1000个子孔径的高空间分辨率
  • 搭载高灵敏度CMOS图像传感器,支持全孔径波前高速实时测量
  • 配备USB 3.0高速接口与外部触发输入,确保数据传输与设备同步的高效性
  • 提供专业WaveFront分析软件,支持即插即用与全面的波前数据分析
  • 4.2 mm × 4.2 mm标准孔径与M4安装螺纹,便于快速集成至各类光学系统

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
工作波长范围 400 – 900 nm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
有效孔径尺寸 4.2 mm × 4.2 mm
子孔径数量 >1000个
波前测量精度 < λ/100 RMS (典型值)
波前动态范围 > 100 λ
最大测量帧率 > 20 Hz (全孔径)
数据接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
机械安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度范围 0°C – 45°C
配套分析软件 WaveFront分析软件

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS20-7AR/M的核心在于经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光束首先通过微透镜阵列,被分割成多个独立的子孔径光束。每个子孔径光束在CMOS传感器靶面上聚焦形成光斑。当入射波前存在像差时,局部波前倾斜会导致焦斑偏离理想位置。通过精确计算各焦斑的位移量,系统即可反演出整个波前的相位分布,实现高精度的波前重建。

微透镜阵列与高速CMOS技术

本产品采用150 µm间距的增透膜微透镜阵列,在400-900 nm宽光谱范围内保持高透射率,有效减少杂散光干扰,提供超过1000个子孔径的密集空间采样。结合高灵敏度CMOS图像传感器,传感器能够在保持优异空间分辨率的同时,实现全孔径波前的高速帧率输出,满足动态波前实时监测的严苛要求。

专业软件与便捷集成

设备配备专业的WaveFront分析软件,提供直观的图形用户界面,支持Zernike多项式拟合、波前图显示、点扩散函数计算等高级分析功能。USB 3.0接口保障了海量图像数据的无损高速传输,而外部触发功能则使其能够与自适应光学系统中的变形镜或其他外部设备实现微秒级同步,M4螺纹设计进一步简化了光学系统的机械集成。

应用领域

  • 自适应光学系统波前校正与闭环控制
  • 激光光束质量分析与聚焦光斑检测
  • 光学元件面形误差与像差精密测量
  • 天文望远镜大气湍流探测与波前校正
  • 眼科医疗中的视网膜波前像差检测
  • 半导体光刻机光学系统装调与检测

订货信息

本产品型号为 WFS20-7AR/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS20-7AR/M – WFS20高速波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 4.2 mm × 4.2 mm

WFS20-7AR/M 是一款基于Shack-Hartmann原理的高速波前传感器,专为高精度波前测量而设计。它采用高灵敏度CMOS图像传感器与150 µm间距的增透膜微透镜阵列,在400-900 nm宽光谱范围内实现卓越的波前探测能力。凭借< λ/100 RMS的波前精度与高速帧率,该传感器可精准捕捉动态波前变化,是自适应光学与激光光束质量检测的理想选择。

产品概述

WFS20-7AR/M 高速波前传感器是一款基于经典Shack-Hartmann波前传感技术的高性能光学测量仪器。该传感器通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦斑的位移量,从而实现对整体波前相位的高精度重建。

本产品配备150 µm间距的增透膜微透镜阵列,有效工作波长覆盖400至900 nm,提供超过1000个子孔径的丰富空间采样。其波前测量精度优于λ/100 RMS,动态范围高达100 λ以上,能够轻松应对从近平面波到强像差光束的复杂测量需求。结合USB 3.0高速接口与外部触发功能,WFS20-7AR/M不仅能实现全孔径波前的高速实时监测,还能与外部设备完美同步,广泛应用于自适应光学系统、激光光束质量分析、光学元件面形检测等前沿科研与工业领域。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度、高可靠性的波前相位测量与重建
  • 波前精度优于λ/100 RMS,动态范围超过100 λ,满足复杂像差测量需求
  • 采用150 µm间距增透膜微透镜阵列,提供>1000个子孔径的高空间分辨率
  • 搭载高灵敏度CMOS图像传感器,支持全孔径波前高速实时测量
  • 配备USB 3.0高速接口与外部触发输入,确保数据传输与设备同步的高效性
  • 提供专业WaveFront分析软件,支持即插即用与全面的波前数据分析
  • 4.2 mm × 4.2 mm标准孔径与M4安装螺纹,便于快速集成至各类光学系统

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
工作波长范围 400 – 900 nm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
有效孔径尺寸 4.2 mm × 4.2 mm
子孔径数量 >1000个
波前测量精度 < λ/100 RMS (典型值)
波前动态范围 > 100 λ
最大测量帧率 > 20 Hz (全孔径)
数据接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
机械安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度范围 0°C – 45°C
配套分析软件 WaveFront分析软件

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS20-7AR/M的核心在于经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光束首先通过微透镜阵列,被分割成多个独立的子孔径光束。每个子孔径光束在CMOS传感器靶面上聚焦形成光斑。当入射波前存在像差时,局部波前倾斜会导致焦斑偏离理想位置。通过精确计算各焦斑的位移量,系统即可反演出整个波前的相位分布,实现高精度的波前重建。

微透镜阵列与高速CMOS技术

本产品采用150 µm间距的增透膜微透镜阵列,在400-900 nm宽光谱范围内保持高透射率,有效减少杂散光干扰,提供超过1000个子孔径的密集空间采样。结合高灵敏度CMOS图像传感器,传感器能够在保持优异空间分辨率的同时,实现全孔径波前的高速帧率输出,满足动态波前实时监测的严苛要求。

专业软件与便捷集成

设备配备专业的WaveFront分析软件,提供直观的图形用户界面,支持Zernike多项式拟合、波前图显示、点扩散函数计算等高级分析功能。USB 3.0接口保障了海量图像数据的无损高速传输,而外部触发功能则使其能够与自适应光学系统中的变形镜或其他外部设备实现微秒级同步,M4螺纹设计进一步简化了光学系统的机械集成。

应用领域

  • 自适应光学系统波前校正与闭环控制
  • 激光光束质量分析与聚焦光斑检测
  • 光学元件面形误差与像差精密测量
  • 天文望远镜大气湍流探测与波前校正
  • 眼科医疗中的视网膜波前像差检测
  • 半导体光刻机光学系统装调与检测

订货信息

本产品型号为 WFS20-7AR/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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