WFS31-7AR – WFS31大面积波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.25 mm x 7.03 mm
WFS31-7AR大面积波前传感器基于高精度Shack-Hartmann技术，专为复杂光学系统的波前测量设计。产品采用高性能CMOS传感器与150 µm间距增透膜微透镜阵列，结合大孔径设计，实现高速高分辨率波前探测。其出色的波前精度与宽动态范围，可满足科研与工业检测的严苛需求，是光学测量的理想选择。
产品概述
WFS31-7AR是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器，专为高精度光学波前测量与分析而设计。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用后端高灵敏度CMOS图像传感器精确探测每个子孔径焦点的位移。通过计算焦斑位移量，系统能够实时、准确地重建出完整的二维波前相位分布。
该传感器配备了150 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400至900 nm的宽波长范围内提供优异的透射率与测量精度。11.25 mm × 7.03 mm的有效孔径尺寸结合超过1500个子孔径的数量，确保了大动态范围与高空间分辨率的完美平衡。此外，USB 3.0高速接口与专业WaveFront分析软件的结合，使得数据获取与后处理更加便捷高效。WFS31-7AR广泛应用于自适应光学、激光光束质量评估、光学元件面形检测及眼科医疗等前沿领域。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理的高精度波前测量
- 高性能CMOS传感器，支持高速全孔径波前采集
- 150 µm间距增透膜微透镜阵列，优化宽波段透射率
- 11.25 mm × 7.03 mm大孔径，提供超1500个子孔径
- 波前精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200 λ
- USB 3.0即插即用接口，支持外部触发同步
- 配备专业WaveFront分析软件，实现实时波前重建与评估
- 8-32英制螺孔设计，便于灵活集成至各类光学系统
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 孔径尺寸 | 11.25 mm x 7.03 mm |
| 微透镜数量 | >1500个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 10 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 配套软件 | WaveFront分析软件 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS31-7AR采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经微透镜阵列分割为多个子波前，并在CMOS靶面聚焦。当波前存在像差时，局部倾斜导致焦斑偏离理想位置。系统通过计算焦斑位移量，反演出完整的波前相位分布，实现像差的定量分析。
微透镜阵列与CMOS探测技术
传感器配备专为400-900 nm优化的增透膜微透镜阵列，150 µm间距在分辨率与动态范围间取得极佳平衡。大尺寸有效面积提供超1500个子孔径，确保高精度重建。后端高灵敏度CMOS传感器结合USB 3.0接口，实现全孔径波前的高速数据读取，满足动态实时监测需求。
专业波前重建与软件分析
配套的WaveFront分析软件支持实时波前重建、Zernike多项式拟合及光束质量评估。用户可通过直观界面查看波前3D形貌与残差分析。软件支持外部触发模式，能与脉冲激光器精确同步，为自适应光学闭环控制及瞬态光学研究提供可靠支撑。
应用领域
- 自适应光学系统波前校正
- 激光光束质量与模式检测
- 光学元件面形与像差评估
- 眼科医疗与视觉科学研究
- 天文望远镜波前传感
- 半导体光刻与精密光学检测
订货信息
本产品型号为 WFS31-7AR，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
评价
目前还没有评价