Thorlabs WFS31-K2/M,WFS31大面积波前传感器套件

Thorlabs WFS31-K2/M,WFS31大面积波前传感器套件

¥55,580.00
SKU: WFS31-K2/M
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WFS31-K2/M – WFS31大面积波前传感器套件

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-K2/M大面积波前传感器套件基于高精度Shack-Hartmann波前传感技术,专为复杂光学系统波前测量设计。该套件采用高灵敏度CMOS图像传感器,结合可更换的增透膜微透镜阵列,实现高速、高分辨率的波前探测。其大孔径设计与卓越的波前重建能力,可满足各类严苛光学检测需求。

产品概述

WFS31-K2/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器套件,旨在为科研与工业应用提供精确的波前分析解决方案。本产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确捕捉各子光束在焦平面上的焦点位移。通过计算焦点位移量,系统可快速重建出完整的二维波前相位分布。

该套件配备11.25 mm × 7.03 mm大尺寸有效传感面积,提供超过1500个子孔径,确保极高的空间分辨率。同时,套件内含150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列,用户可根据测量需求在空间分辨率与动态范围之间灵活切换。凭借USB 3.0高速接口、外部触发功能以及专业的WaveFront分析软件,WFS31-K2/M能够轻松集成到各类自适应光学和光束质量评估系统中。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度二维波前相位重建与实时分析
  • 波前测量精度优于λ/100 RMS,动态范围超过200 λ,满足严苛检测需求
  • 配备150 µm和300 µm两种间距增透膜微透镜阵列,灵活平衡空间分辨率与动态范围
  • 采用高灵敏度CMOS图像传感器,支持全孔径波前高速测量,帧率大于10 Hz
  • 11.25 mm × 7.03 mm大面积有效传感区域,提供超过1500个子孔径的高密度采样
  • 支持USB 3.0即插即用接口与外部触发输入,便于系统集成与同步控制
  • 搭载专业WaveFront波前分析软件,提供Zernike多项式拟合、PSF计算及3D波前显示

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 400 – 900 nm(增透膜MLA)
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜阵列间距 300 µm(套件含150 µm和300 µm两种)
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-K2/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后,被分割成多个子孔径光束。每个子光束在CMOS传感器焦平面上形成独立的光斑。当入射波前存在像差或倾斜时,光斑位置会偏离理想参考位置。系统通过高精度质心算法计算每个光斑的位移量,从而精确反演出整个波前的局部斜率,并重建出完整的二维波前相位分布。

灵活的微透镜阵列配置

本套件提供150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列。较小的间距(150 µm)可提供更高的空间采样率,适用于评估高频空间像差;较大的间距(300 µm)则能扩大每个子孔径的动态范围,适合测量大像差波前。用户可根据具体应用需求快速更换MLA,无需重新标定系统,极大提升了设备的适用性。

专业波前重建与分析软件

配套的WaveFront分析软件功能强大,支持实时波前显示与数据处理。软件内置Zernike多项式拟合功能,可精准分离离焦、像散、彗差等经典像差。此外,还提供点扩散函数(PSF)计算、调制传递函数(MTF)分析以及直观的3D波前形貌渲染,帮助用户全面评估光学系统性能。

应用领域

  • 自适应光学系统中的实时波前校正与闭环控制
  • 高功率及超快激光光束质量(M²因子)检测与分析
  • 精密光学元件(如透镜、反射镜)的面形误差与像差检测
  • 眼科医疗设备中的角膜地形图与眼内像差测量
  • 天文望远镜主镜及次镜的波前校准与光学对准

订货信息

本产品型号为 WFS31-K2/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS31-K2/M – WFS31大面积波前传感器套件

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-K2/M大面积波前传感器套件基于高精度Shack-Hartmann波前传感技术,专为复杂光学系统波前测量设计。该套件采用高灵敏度CMOS图像传感器,结合可更换的增透膜微透镜阵列,实现高速、高分辨率的波前探测。其大孔径设计与卓越的波前重建能力,可满足各类严苛光学检测需求。

产品概述

WFS31-K2/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器套件,旨在为科研与工业应用提供精确的波前分析解决方案。本产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确捕捉各子光束在焦平面上的焦点位移。通过计算焦点位移量,系统可快速重建出完整的二维波前相位分布。

该套件配备11.25 mm × 7.03 mm大尺寸有效传感面积,提供超过1500个子孔径,确保极高的空间分辨率。同时,套件内含150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列,用户可根据测量需求在空间分辨率与动态范围之间灵活切换。凭借USB 3.0高速接口、外部触发功能以及专业的WaveFront分析软件,WFS31-K2/M能够轻松集成到各类自适应光学和光束质量评估系统中。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度二维波前相位重建与实时分析
  • 波前测量精度优于λ/100 RMS,动态范围超过200 λ,满足严苛检测需求
  • 配备150 µm和300 µm两种间距增透膜微透镜阵列,灵活平衡空间分辨率与动态范围
  • 采用高灵敏度CMOS图像传感器,支持全孔径波前高速测量,帧率大于10 Hz
  • 11.25 mm × 7.03 mm大面积有效传感区域,提供超过1500个子孔径的高密度采样
  • 支持USB 3.0即插即用接口与外部触发输入,便于系统集成与同步控制
  • 搭载专业WaveFront波前分析软件,提供Zernike多项式拟合、PSF计算及3D波前显示

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 400 – 900 nm(增透膜MLA)
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜阵列间距 300 µm(套件含150 µm和300 µm两种)
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-K2/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后,被分割成多个子孔径光束。每个子光束在CMOS传感器焦平面上形成独立的光斑。当入射波前存在像差或倾斜时,光斑位置会偏离理想参考位置。系统通过高精度质心算法计算每个光斑的位移量,从而精确反演出整个波前的局部斜率,并重建出完整的二维波前相位分布。

灵活的微透镜阵列配置

本套件提供150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列。较小的间距(150 µm)可提供更高的空间采样率,适用于评估高频空间像差;较大的间距(300 µm)则能扩大每个子孔径的动态范围,适合测量大像差波前。用户可根据具体应用需求快速更换MLA,无需重新标定系统,极大提升了设备的适用性。

专业波前重建与分析软件

配套的WaveFront分析软件功能强大,支持实时波前显示与数据处理。软件内置Zernike多项式拟合功能,可精准分离离焦、像散、彗差等经典像差。此外,还提供点扩散函数(PSF)计算、调制传递函数(MTF)分析以及直观的3D波前形貌渲染,帮助用户全面评估光学系统性能。

应用领域

  • 自适应光学系统中的实时波前校正与闭环控制
  • 高功率及超快激光光束质量(M²因子)检测与分析
  • 精密光学元件(如透镜、反射镜)的面形误差与像差检测
  • 眼科医疗设备中的角膜地形图与眼内像差测量
  • 天文望远镜主镜及次镜的波前校准与光学对准

订货信息

本产品型号为 WFS31-K2/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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