WFS40-14AR/M – WFS40方形孔径波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.26 mm
WFS40-14AR/M是一款高性能方形孔径Shack-Hartmann波前传感器，专为高精度波前测量设计。它采用先进的CMOS图像传感器与增透膜微透镜阵列，结合Shack-Hartmann波前传感技术，实现了对光束波前像差的快速、精准探测。其高速测量优势与灵活的微透镜配置，可满足各类复杂光学系统对波前分析的高要求。
产品概述
WFS40-14AR/M 是一款基于 Shack-Hartmann 原理的高精度方形孔径波前传感器，专为复杂光学系统的光束质量评估与波前像差校正而设计。该传感器利用微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并通过高灵敏度 CMOS 图像传感器精确探测各子孔径焦点的位移，从而重建出完整的波前相位分布。
产品配备 11.26 mm 方形有效传感区域与 300 µm 间距的增透膜微透镜阵列，在 400 – 900 nm 宽光谱范围内提供卓越的透光率与测量精度。其波前精度优于 λ/100 RMS，动态范围超过 200 λ，能够轻松应对从微弱像差到大梯度波前的各种测量需求。结合 USB 3.0 高速接口与专业波前分析软件，WFS40-14AR/M 可广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测、光学元件面形检测以及眼科医疗等前沿领域，为光学研发与工业检测提供可靠的数据支持。
核心特性
- 基于 Shack-Hartmann 原理，实现高精度波前相位重建与像差分析
- 波前测量精度优于 λ/100 RMS，动态范围大于 200 λ
- 采用高灵敏度 CMOS 传感器，支持全孔径波前高速实时测量
- 配备 300 µm 间距增透膜微透镜阵列，优化 400-900 nm 宽光谱透过率
- 提供 USB 3.0 即插即用接口，支持外部触发同步采集
- 内置 M4 公制螺孔，便于在复杂光路中灵活集成与安装
- 配套专业 WaveFront 分析软件，提供直观的波前重建与数据处理功能
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 300 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 数据接口 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
| 配套软件 | WaveFront分析软件 |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann 波前测量原理
WFS40-14AR/M 采用经典的 Shack-Hartmann 波前传感技术。入射光束首先通过微透镜阵列，被分割成数百个子光束。每个子光束在 CMOS 传感器靶面上聚焦形成光斑。当入射波前存在像差时，局部波前倾斜会导致对应光斑偏离理想位置。系统通过高精度质心算法计算每个光斑的位移量，进而反演出整个波前的三维相位分布，实现纳米级精度的波前重建。
高性能微透镜阵列与 CMOS 探测
本传感器配备了间距为 300 µm 的增透膜微透镜阵列，针对 400 – 900 nm 可见光至近红外波段进行了优化，大幅降低了杂散光干扰并提升了能量利用率。结合高帧率 CMOS 图像传感器，设备能够以超过 8 Hz 的速率完成全孔径波前采集，满足动态波前监测的需求。11.26 mm 的方形大孔径设计，使其能够轻松适配各类大口径光学系统的测试。
专业软件与便捷集成
设备通过 USB 3.0 接口与计算机连接，即插即用，并支持外部硬件触发以实现与脉冲激光器等设备的精确同步。配套的 WaveFront 分析软件提供了强大的数据处理能力，支持泽尼克多项式拟合、点扩散函数计算及斯特列尔比评估，帮助用户直观、全面地分析光束质量与光学系统性能。
应用领域
- 自适应光学系统波前校正与闭环控制
- 激光器光束质量评估与模式分析
- 精密光学元件面形与像差检测
- 眼科医疗与视觉科学中的波前像差测量
- 天文望远镜主镜及次镜波前校准
- 半导体光刻机光学系统装调与检测
订货信息
本产品型号为 WFS40-14AR/M，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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