WFS40-5C – WFS40方形孔径波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 300 – 1100 nm · 11.26 mm
WFS40-5C方形孔径波前传感器基于先进的Shack-Hartmann波前传感技术，专为高精度光学测量设计。其采用高性能CMOS图像传感器与精密铬掩膜微透镜阵列，实现300-1100 nm宽光谱范围内的高分辨率波前探测。凭借出色的波前精度与高速动态测量能力，为复杂光学系统的波前分析与校正提供可靠解决方案。
产品概述
WFS40-5C是一款高性能的Shack-Hartmann方形孔径波前传感器，专为严苛的光学测试与自适应光学应用而设计。该传感器基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过前置的铬掩膜微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测每个子孔径在焦平面上的光斑位移。通过计算光斑偏移量，系统能够实时、精确地重建出完整的波前相位分布。
本产品具备300至1100 nm的宽光谱响应范围，11.26 mm的方形有效孔径和150 µm的微透镜间距，提供超过2000个子孔径的高空间分辨率。结合USB 3.0高速数据传输接口与专业波前分析软件，WFS40-5C能够实现全孔径波前的高速动态测量。其紧凑的设计与8-32英制螺孔安装方式，使其易于集成到各类光学系统中，广泛应用于激光光束质量检测、光学元件面形分析、自适应光学系统及科研实验等领域。
核心特性
- 基于经典Shack-Hartmann原理，实现高精度、实时的波前相位重建与测量。
- 波前测量精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200 λ，满足严苛测试需求。
- 采用高灵敏度CMOS传感器，支持全孔径波前高速动态测量与实时反馈。
- 配备精密铬掩膜微透镜阵列（MLA），提供超过2000个子孔径的高空间分辨率。
- 支持USB 3.0高速接口与外部触发输入，确保数据传输低延迟与系统同步。
- 配套专业WaveFront分析软件，提供直观的波前显示、Zernike多项式拟合及像差分析功能。
- 300-1100 nm宽光谱响应，兼容多种激光光源与宽带照明系统。
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 产品型号 | WFS40-5C |
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 300 – 1100 nm |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜类型 | 铬掩膜微透镜阵列 |
| 微透镜数量 | >2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-5C采用成熟的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后，被分割成多个独立的子光束。每个子光束在CMOS传感器焦平面上会聚形成光斑。当入射波前存在像差或畸变时，局部波前斜率发生变化，导致对应光斑偏离理想参考位置。系统通过高精度质心算法计算每个光斑的位移量，进而反演出整个波前的三维相位分布，实现非接触式的高精度光学检测。
精密微透镜阵列技术
本传感器配备了高品质的铬掩膜微透镜阵列（MLA），有效孔径达11.26 mm，微透镜间距为150 µm。铬掩膜设计有效消除了子孔径间的串扰，显著提高了光斑质心计算的对比度与准确性。超过2000个子孔径的密集排布，在空间分辨率与动态范围之间取得了优异的平衡，能够精细刻画复杂光束的波前细节。
专业波前重建算法与分析软件
WFS40-5C搭配功能强大的WaveFront分析软件。软件内置先进的波前重建算法，支持Zernike多项式拟合、峰谷值（PV）与均方根（RMS）计算、点扩散函数（PSF）及调制传递函数（MTF）分析。用户界面直观，支持实时3D波前显示、像差动态追踪及数据导出，为光学设计验证、系统装调及质量控制提供全面的数据支撑。
应用领域
- 自适应光学系统与望远镜波前实时校正
- 高功率及超快激光光束质量（M²因子）检测
- 精密光学元件面形误差与像差分析
- 半导体光刻机照明系统与投影物镜波前测量
- 眼科医疗中的角膜地形图与眼内像差测量
订货信息
本产品型号为 WFS40-5C，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
评价
目前还没有评价