WFS40-7AR/M – WFS40方形孔径波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.26 mm
WFS40-7AR/M方形孔径波前传感器基于高精度Shack-Hartmann技术，专为复杂光学系统波前测量设计。产品采用高灵敏度CMOS传感器与150 µm间距增透膜微透镜阵列，结合11.26 mm方形大孔径，实现400-900 nm波段内的高速、高分辨率波前重建。其卓越的波前精度与宽动态范围，可满足各类精密光学检测与自适应光学校正需求。
产品概述
WFS40-7AR/M是一款高性能方形孔径Shack-Hartmann波前传感器，专为精密光学测量与自适应光学系统打造。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦点的位移，从而实现对波前像差的快速、高精度重建。
本传感器配备11.26 mm方形有效传感面积与150 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400至900 nm宽光谱范围内提供超过2000个子孔径的高空间分辨率。结合USB 3.0高速接口与专业WaveFront分析软件，WFS40-7AR/M能够实现大于8 Hz的全孔径波前实时测量，波前精度优于λ/100 RMS，动态范围超过200 λ。其紧凑的M4公制螺纹安装设计，使其易于集成于各类光学实验平台与工业检测系统中。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度、高分辨率波前测量
- 配备150 µm间距增透膜微透镜阵列，提供超2000个子孔径
- 采用高灵敏度CMOS传感器，波前精度优于λ/100 RMS
- 宽光谱响应范围400-900 nm，动态范围大于200 λ
- USB 3.0即插即用接口，支持外部触发与高速数据传输
- 搭载专业WaveFront分析软件，支持实时波前重建与像差分析
- 11.26 mm方形大孔径设计，配备M4公制螺孔，易于系统集成
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜数量 | >2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 配套软件 | WaveFront分析软件 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-7AR/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光束通过微透镜阵列被分割成多个子光束，每个子光束聚焦在CMOS传感器上形成焦斑。当入射波前存在像差时，各焦斑的位置会相对于理想平面波参考位置发生偏移。通过精确计算这些焦斑位移，系统能够实时、准确地重建出完整的三维波前相位分布。
高性能微透镜阵列与CMOS探测
该传感器核心采用150 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400-900 nm波段内具备极高的透过率，有效减少杂散光干扰。结合高灵敏度CMOS图像传感器，提供超过2000个子孔径的空间采样率，确保波前精度优于λ/100 RMS。同时，USB 3.0接口与外部触发功能保障了全孔径波前大于8 Hz的高速测量能力，满足动态波前监测需求。
专业波前重建算法与软件
设备配套专业的WaveFront分析软件，内置先进的波前重建算法，支持Zernike多项式拟合、峰谷值及均方根计算。软件界面直观，提供实时波前3D显示、点扩散函数分析及像差分离功能，帮助用户快速完成光学系统装调、光束质量评估与自适应光学闭环控制。
应用领域
- 自适应光学系统波前校正与闭环控制
- 激光光束质量分析与聚焦光斑检测
- 光学元件面形精度与透射波前检测
- 眼科医疗仪器中的角膜地形图与像差测量
- 天文望远镜主镜波前误差实时监测
- 半导体光刻机光学系统装调与对准
订货信息
本产品型号为 WFS40-7AR/M，下单时请提供完整型号。
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所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
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由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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