WFS40-K1 – WFS40方形孔径波前传感器套件
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.26 mm
WFS40-K1方形孔径波前传感器套件基于高精度Shack-Hartmann波前传感技术，专为复杂光学系统的波前测量与校正设计。该产品采用高灵敏度CMOS图像传感器，结合可更换的微透镜阵列设计，实现高速、高分辨率的波前探测。其出色的波前精度与大动态范围，使其成为自适应光学、激光光束质量分析及光学元件检测的理想选择。
产品概述
WFS40-K1是一款高性能方形孔径Shack-Hartmann波前传感器套件，旨在为科研与工业应用提供精确的波前测量解决方案。该套件基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确捕捉各子孔径焦斑的位移，从而实时重建出完整的三维波前信息。
本产品配备11.26 mm方形有效传感器面积，并提供两种不同配置的微透镜阵列（铬掩膜与镀增透膜），用户可根据具体应用需求在空间分辨率与动态范围之间灵活切换。凭借小于λ/100 RMS的卓越波前精度、超过200λ的宽动态范围以及USB 3.0高速数据传输接口，WFS40-K1能够轻松应对从静态像差分析到动态波前校正的各类严苛挑战，是光学实验室与精密制造领域的得力工具。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度三维波前实时测量与重建
- 波前精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200λ，满足严苛测量需求
- 套件包含两种微透镜阵列（铬掩膜/增透膜），灵活平衡分辨率与动态范围
- 采用高灵敏度CMOS图像传感器，支持全孔径波前高速测量与外部触发
- USB 3.0即插即用接口，确保海量波前数据的高速稳定传输
- 配备专业WaveFront分析软件，提供直观的波前显示、Zernike多项式拟合及像差分析功能
- 11.26 mm方形孔径设计，带8-32英制螺孔，便于无缝集成至各类光学系统
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 300-1100 nm（铬掩膜）/ 400-900 nm（增透膜） |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜数量 | >2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 数据接口 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-K1采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光束首先通过微透镜阵列，被分割成数百至数千个独立的子孔径。每个子透镜将局部波前聚焦到CMOS传感器上形成光斑阵列。当入射波前存在像差时，局部波前发生倾斜，导致对应光斑偏离理想位置。系统通过精确计算每个光斑的位移量，即可反演出整个波前的相位分布，实现高精度的三维波前重建。
灵活的微透镜阵列配置
为满足不同应用场景的需求，本套件标配两种微透镜阵列（MLA）。铬掩膜MLA适用于宽光谱范围（300-1100 nm），提供极高的空间分辨率，适合精密静态像差分析；镀增透膜MLA则在可见光波段（400-900 nm）具有更高的光通量和透过率，有效提升信噪比。用户可轻松更换MLA，在空间分辨率与测量动态范围之间取得最佳平衡。
专业软件与高速数据处理
配套的WaveFront分析软件功能强大，支持实时波前显示、Zernike多项式分解、点扩散函数（PSF）计算及斯特列尔比评估。结合USB 3.0高速接口与外部触发功能，系统能够以超过8 Hz的帧率捕获全孔径波前数据，完美适配自适应光学闭环控制、动态激光光束质量监测等对时间分辨率要求极高的应用场景。
应用领域
- 自适应光学系统闭环波前校正
- 激光光束质量与模式分析
- 光学元件面形与像差检测
- 眼科医疗与视觉科学研究
- 天文望远镜波前误差监测
订货信息
本产品型号为 WFS40-K1，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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