AOK8/M – 压电DM自适应光学套件（40致动器）
Thorlabs 原厂品质 · 自适应光学套件 · 40个 · CMOS Shack-Hartmann（夏克-哈特曼）波前传感器
AOK8/M压电DM自适应光学套件集成了40致动器有保护层银膜变形镜与CMOS Shack-Hartmann波前传感器，提供高效闭环波前校正能力。该套件具备高速响应与纳米级控制精度，采用即插即用一体化设计，可实时补偿光学系统像差，显著提升光束质量与成像分辨率，是科研与工业应用的理想选择。
产品概述
AOK8/M是一款高性能压电驱动自适应光学套件，专为复杂光学系统中的波前畸变校正而设计。该套件创新性地集成了40致动器有保护层银膜变形镜与高灵敏度CMOS Shack-Hartmann波前传感器，通过实时闭环控制架构，精确测量并动态补偿光学像差。
其核心压电变形镜具备高反射率与宽波段特性，结合小于500微秒的极速响应时间，能够轻松应对动态像差校正需求。套件出厂即完成精密校准，配备直观的AOK控制软件，支持USB即插即用连接。广泛应用于天文观测、激光束整形、高分辨率显微成像及眼科光学等领域，帮助用户以极低的集成成本实现卓越的光学性能提升。
核心特性
- 40通道压电变形镜：独立控制40个致动器，实现纳米级高精度波前调制。
- 高速闭环响应：典型响应时间小于500 μs，轻松应对动态像差实时校正。
- 宽波段高反射镀膜：采用有保护层银膜，在400-1100 nm范围内保持高反射率。
- 一体化闭环控制：集成CMOS Shack-Hartmann波前传感器，实现即插即用闭环校正。
- 易用控制软件：配备AOK软件，支持自定义控制算法，USB 2.0接口便于系统集成。
- 紧凑坚固设计：公制M6/M4螺纹安装，Ø7.5 mm通光孔径，完美适配各类光学平台。
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 变形镜类型 | 压电驱动有保护层银膜变形镜 |
| 致动器数量 | 40个 |
| 波前传感器类型 | CMOS Shack-Hartmann波前传感器 |
| 通光孔径 | Ø7.5 mm |
| 行程范围 | ±4 μm（峰-峰值约8 μm） |
| 响应时间 | < 500 μs（典型值） |
| 反射镜镀膜 | 有保护层银膜（Protected Silver） |
| 工作波长范围 | 400 – 1100 nm |
| 控制通道数 | 40通道 |
| 安装方式 | 公制（M6/M4螺纹安装） |
| 接口类型 | USB 2.0 |
| 配套软件 | AOK自适应光学控制软件 |
| 工作温度 | 10°C ~ 35°C |
| 电源 | 外接电源适配器（区域规格） |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
自适应光学闭环工作原理
AOK8/M套件通过精密的闭环架构实现波前像差的实时校正。系统首先利用CMOS Shack-Hartmann波前传感器精确测量入射光波前的相位畸变；随后，控制算法根据测量数据实时计算出所需的校正量；最后，压电变形镜根据指令快速调整镜面面形，对畸变波前进行动态补偿。这一闭环过程持续进行，确保输出光束达到理想的衍射极限质量。
高性能压电变形镜技术
套件核心的40致动器压电变形镜采用有保护层银膜设计，在400至1100 nm宽波段内提供卓越的反射率。每个致动器均可独立控制，实现纳米级精度的镜面形变。其小于500微秒的极速响应时间，使其能够胜任高频动态像差的校正任务，满足超快激光及动态光学系统的严苛需求。
一体化即插即用设计
作为一套完整的自适应光学解决方案，AOK8/M在出厂前已完成系统级精密校准。用户只需通过USB 2.0接口连接电脑，即可使用配套的AOK控制软件进行快速部署。软件不仅提供直观的图形化界面，还支持用户自定义控制算法，极大地简化了系统集成流程，是科研实验室与工业光学系统升级的理想选择。
应用领域
- 天文望远镜像差校正
- 飞秒/超快激光脉冲整形与光束质量优化
- 共聚焦与多光子显微镜像差补偿
- 眼科光学成像与视网膜高分辨率观测
- 自由空间光通信波前补偿
- 精密光学测量与计量系统
订货信息
本产品型号为 AOK8/M，下单时请提供完整型号。
本自适应光学套件为完整独立系统，出厂前已完成校准，开箱即用。套件包含变形镜、Shack-Hartmann波前传感器、控制软件、USB连接线、电源适配器及必要的安装附件。通过USB 2.0接口连接电脑，使用AOK控制软件即可实现实时波前测量与闭环校正。
如需配套的光学调整架、激光器、成像系统或其他自适应光学解决方案，请联系我们的销售人员获取完整配置建议。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: 什么是自适应光学？它能解决什么问题？
A: 自适应光学（Adaptive Optics, AO）是一种实时测量并校正光学系统中波前像差的技术。在光学系统中，由于大气湍流、光学元件像差、热效应、样品折射率不均等因素，光束会发生波前畸变，导致成像模糊、光束质量下降、激光聚焦光斑变大等问题。自适应光学系统通过波前传感器实时测量波前畸变，再通过可变形镜（Deformable Mirror）对波前进行实时补偿校正，从而恢复接近衍射极限的光束质量。Thorlabs AOK系列自适应光学套件将变形镜、波前传感器和控制软件集成为一套完整系统，开箱即用，大大降低了自适应光学技术的应用门槛。
Q2: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann（夏克-哈特曼）波前传感器是目前应用最广泛的波前测量技术。其基本原理是将待测光束通过微透镜阵列（Microlens Array）分成许多子光束，每个子光束在CCD/CMOS探测器上形成一个光斑。当入射波前是理想平面波时，所有光斑都位于各自微透镜的光轴上，形成规则的点阵。当波前存在畸变时，不同位置的子光束会发生不同程度的偏折，导致光斑偏离中心位置。通过精确测量每个光斑的偏移量，可以反推出波前的斜率分布，再通过数值重建算法（如Southwell区域法、模式法等）计算出完整的波前形状。Shack-Hartmann传感器具有结构简单、实时性好、动态范围大等优点，是自适应光学系统的核心测量组件。
Q3: 压电驱动变形镜和其他类型变形镜有什么区别？
A: 变形镜是自适应光学系统的核心校正元件，主要有以下几种类型：1）压电驱动变形镜（Piezoelectric DM）：利用压电陶瓷的逆压电效应推动镜面变形，响应速度快（亚毫秒级）、位移精度高（纳米级），但单致动器行程相对较小（几微米量级）。Thorlabs AOK系列采用的就是压电驱动变形镜。2）静电驱动变形镜（Electrostatic DM/MEMS DM）：通过静电力驱动微镜面阵列，致动器数量可以很多（数百到数千），但行程通常很小（几百纳米到1微米），适合高阶像差校正。3）电磁驱动变形镜：通过电磁力驱动，行程较大，但响应速度较慢、功耗较高。压电变形镜在响应速度、精度和行程之间取得了良好平衡，是当前科研和工业应用中最主流的技术路线。
Q4: AOK套件的Woofer-Tweeter架构是什么意思？有什么优势？
A: Woofer-Tweeter（低音-高音）架构借用了音响领域的概念，指同时使用两个变形镜协同工作：一个大行程、低空间分辨率的变形镜作为Woofer（低音单元），负责校正低阶大像差（如离焦、像散、彗差等）；另一个小行程、高空间分辨率的变形镜作为Tweeter（高音单元），负责校正高阶小像差。Thorlabs AOKWT系列采用Multi-DM 140致动器作为Woofer（±6 μm大行程）和压电DM 40致动器作为Tweeter（高速高精度）的组合。这种架构的优势在于：1）同时实现大校正量和高精度，单变形镜很难兼顾两者；2）校正动态范围大幅提升，可以处理像差更大的光学系统；3）两个变形镜分工协作，各自工作在最佳性能区间，整体校正效果优于单变形镜。适合天文观测、深层生物成像等像差较大、校正要求高的应用场景。
Q5: 如何选择适合自己应用的AOK套件型号？
A: 选择AOK套件主要考虑以下几个因素：1）致动器数量：需要校正的像差越复杂、阶次越高，需要的致动器数量越多。AOK8（40致动器）适合校正低阶到中阶像差（如离焦、像散、彗差及少量高阶像差）；AOK5（140致动器）适合校正更复杂的高阶像差；AOKWT（140+40双变形镜）适合需要大行程同时又有高阶像差校正需求的场景。2）行程要求：如果系统像差较大（如深层组织成像、大口径望远镜），需要更大的校正行程，应选择Multi-DM系列或Woofer-Tweeter系列。3）波长范围：AOK系列标配银膜镀膜，工作波长400-1100 nm，覆盖可见光到近红外。如果需要其他波段镀膜，可咨询定制服务。4）安装方式：英制版本（型号无/M后缀）适用于1/4″-20和8-32螺纹安装的光学平台；公制版本（型号带/M后缀）适用于M6和M4螺纹安装的光学平台。选择时请根据实验室光学平台规格确定。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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