WFS20-14AR/M – WFS20高速波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 4.2 mm × 4.2 mm
WFS20-14AR/M高速波前传感器基于Shack-Hartmann原理，专为高精度波前测量设计。设备采用高灵敏度CMOS传感器与300 µm间距增透膜微透镜阵列，在400-900 nm宽光谱内实现卓越探测。其逾千个子孔径结合USB 3.0接口，可实时重建复杂波前畸变，是自适应光学与激光光束分析的理想选择。
产品概述
WFS20-14AR/M是一款高性能Shack-Hartmann波前传感器，广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测及光学元件面形分析。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并由后端高帧率CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦斑的位移量，从而实时计算出整体波前的相位分布。
本型号配备300 µm间距的增透膜微透镜阵列，针对400-900 nm可见光及近红外波段优化，提供超过1000个子孔径的高空间分辨率。结合USB 3.0高速数据传输与外部触发功能，传感器能够以极高的帧率捕获动态波前变化。配套的WaveFront专业分析软件支持波前重建、Zernike多项式拟合及像差分析，为用户提供直观、全面的波前诊断方案。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理的高精度波前实时测量
- 采用高灵敏度CMOS传感器，支持高速动态波前捕获
- 配备300 µm间距增透膜微透镜阵列，提供>1000个子孔径
- 宽光谱响应范围（400-900 nm），适应多种光源应用
- 波前精度达 100 λ
- USB 3.0即插即用接口，支持外部硬件触发同步
- 配备专业WaveFront分析软件，支持Zernike像差拟合与3D显示
- 紧凑型M4螺纹安装设计，易于集成至各类光学系统
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 微透镜阵列间距 | 300 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 孔径尺寸 | 4.2 mm × 4.2 mm |
| 微透镜数量 | >1000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 100 λ |
| 最大帧率 | > 20 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS20-14AR/M采用成熟的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光波前经过微透镜阵列后，被分割成多个独立的子光束并聚焦在CMOS传感器靶面上。当波前存在畸变时，各子孔径对应的焦斑位置会发生偏移。系统通过精确计算这些焦斑相对于理想平面波参考位置的位移矢量，即可反演出局部的波前斜率，进而通过积分算法重建出完整的二维波前相位分布。
微透镜阵列与高速探测技术
本型号集成了专为400-900 nm波段优化的增透膜微透镜阵列，300 µm的间距设计在空间分辨率与测量动态范围之间取得了优异平衡，提供逾1000个子孔径。后端搭载的高速CMOS传感器配合USB 3.0接口，确保了全孔径波前数据的高速、无损传输，满足自适应光学闭环控制对高帧率的严苛要求。
专业波前重建算法与分析软件
设备配套的WaveFront软件具备强大的数据处理能力。内置先进的波前重建算法，支持Zernike多项式拟合，可精准分离并量化各类像差（如离焦、彗差、球差等）。软件提供直观的3D波前等高线图、点扩散函数（PSF）及斯特列尔比分析，帮助用户全面评估光学系统性能，是科研与工业检测的得力工具。
应用领域
- 自适应光学系统闭环波前校正
- 激光光束质量与M²因子检测
- 光学元件面形与透射波前误差分析
- 眼科医疗与视觉科学像差测量
- 天文望远镜主镜面形检测与校正
- 半导体光刻机照明系统均匀性评估
订货信息
本产品型号为 WFS20-14AR/M，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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