WFS20-7AR – WFS20高速波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 4.2 mm × 4.2 mm
WFS20-7AR高速波前传感器基于Shack-Hartmann原理，采用高灵敏度CMOS图像传感器与150 µm间距增透膜微透镜阵列，实现400-900 nm波段的高精度波前测量。其具备卓越的波前重建精度与动态范围，结合USB 3.0高速传输与专业分析软件，为自适应光学、激光光束检测及精密光学测量提供可靠的高速波前传感解决方案。
产品概述
WFS20-7AR是一款高性能Shack-Hartmann波前传感器，专为精密光学测量与自适应光学系统设计。该设备基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，利用微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并通过高帧率CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦斑的位移量，从而实时重建出完整的二维波前相位分布。
本产品配备150 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400至900 nm宽光谱范围内保持高透射率，孔径尺寸达4.2 mm × 4.2 mm，提供超过1000个子孔径的高空间分辨率。结合先进的波前重建算法，其波前精度可达λ/100 RMS，动态范围超过100λ。USB 3.0接口确保了数据的快速传输，配合专业的WaveFront分析软件，用户可轻松实现波前像差的实时监测、Zernike多项式分解及光束质量评估，是科研与工业检测的理想选择。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度二维波前相位实时测量与重建
- 采用高灵敏度CMOS传感器，支持全孔径波前>20 Hz高速测量
- 配备150 µm间距增透膜微透镜阵列，提供>1000个子孔径的高空间分辨率
- 卓越的波前精度（ 100 λ）
- 支持USB 3.0高速数据传输与外部硬件触发，确保多设备同步
- 内置专业WaveFront分析软件，支持Zernike多项式分解与像差可视化
- 紧凑的8-32英制螺孔设计，便于灵活集成至各类光学系统中
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 孔径尺寸 | 4.2 mm × 4.2 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 子孔径数量 | >1000个 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 100 λ |
| 最大帧率 | > 20 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS20-7AR采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光波前经过微透镜阵列后，被分割成多个子光束并聚焦在CMOS传感器上形成焦斑阵列。当波前存在像差时，各焦斑的位置会相对于理想参考波前发生偏移。系统通过高精度质心算法计算每个焦斑的位移量，进而精确反演出整个波前的相位分布。
高性能微透镜阵列与CMOS探测
本传感器配备了专为400-900 nm波段优化的增透膜微透镜阵列，150 µm的间距与4.2 mm × 4.2 mm的有效孔径相结合，提供了超过1000个子孔径，兼顾了高空间分辨率与大动态范围。高帧率CMOS图像传感器不仅保证了20 Hz的全孔径高速测量，满足动态波前监测需求。
专业波前重建算法与软件分析
配套的WaveFront分析软件集成了先进的波前重建算法，支持Zernike多项式分解、波前3D形貌显示及光束质量参数计算。USB 3.0接口与外部触发功能确保了海量波前数据的无损、低延迟传输，为自适应光学闭环控制、激光光束整形及光学元件面形检测提供了强大的软件支持。
应用领域
- 自适应光学闭环控制与波前校正
- 激光光束质量与模式检测
- 精密光学元件面形与像差检测
- 眼科医疗与视觉科学诊断
- 天文望远镜波前传感与校准
- 半导体光刻机光学系统监测
订货信息
本产品型号为 WFS20-7AR，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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