Thorlabs WFS20-K1/M,WFS20高速波前传感器套件

Thorlabs WFS20-K1/M,WFS20高速波前传感器套件

¥85,956.00
SKU: WFS20-K1/M
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WFS20-K1/M – WFS20高速波前传感器套件

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 4.2 mm × 4.2 mm

WFS20-K1/M高速波前传感器套件基于Shack-Hartmann波前传感技术,提供高精度波前测量能力。采用高灵敏度CMOS图像传感器与可更换微透镜阵列设计,实现高速、高分辨率的波前重建。其出色的动态范围与帧率,使其成为自适应光学、激光光束分析及光学元件检测的理想选择,为复杂系统提供精准实时的波前诊断方案。

产品概述

WFS20-K1/M是一款高性能的高速Shack-Hartmann波前传感器套件,专为需要实时、高精度波前诊断的先进光学应用而设计。该套件基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测每个子孔径在焦平面上的焦点位移,从而快速、准确地重建出完整的三维波前畸变信息。

本产品提供完整的即插即用解决方案,包含传感器主机、两种不同配置(150 µm铬掩膜与300 µm增透膜)的微透镜阵列、配套线缆及专业的WaveFront分析软件。其出色的波前精度、宽广的动态范围以及灵活的微透镜阵列配置,使其能够完美平衡空间分辨率与测量动态范围。广泛应用于自适应光学系统闭环控制、高能激光光束质量检测、精密光学元件面形评估以及眼科波前像差分析等前沿领域。

核心特性

  • 基于经典Shack-Hartmann原理,实现高精度、实时的三维波前畸变测量与重建
  • 采用高灵敏度CMOS图像传感器,支持全孔径波前高速测量,满足动态过程监测需求
  • 具备卓越的波前精度( 100 λ),适应复杂波前环境
  • 标配两种微透镜阵列(150 µm铬掩膜与300 µm增透膜),灵活平衡空间分辨率与测量动态范围
  • 支持USB 3.0高速数据传输接口,实现即插即用与海量数据快速读取
  • 提供外部触发输入功能,可与脉冲激光器或其他光学设备实现精确的硬件同步
  • 配套专业WaveFront分析软件,提供直观的波前显示、泽尼克多项式拟合及丰富的数据导出功能

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 300 – 1100 nm(铬掩膜)/ 400 – 900 nm(增透膜)
微透镜阵列间距 150 µm / 300 µm(双配置)
微透镜类型 铬掩膜微透镜阵列 / 增透膜微透镜阵列
有效孔径尺寸 4.2 mm × 4.2 mm
微透镜数量 >1000个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 100 λ
最大帧率 > 20 Hz(全孔径波前)
数据接口 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
配套软件 WaveFront分析软件
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS20-K1/M基于经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经微透镜阵列分割为多个子孔径,并在CMOS传感器焦平面形成光斑阵列。波前畸变会导致子光斑中心位置发生偏移,通过精确计算光斑位移量反演局部斜率分布,进而重建出完整的三维波前相位图。

灵活的微透镜阵列配置

套件标配两种微透镜阵列以平衡分辨率与动态范围。150 µm间距的铬掩膜阵列具备高空间分辨率,适用于宽光谱(300-1100 nm)精细检测;300 µm间距的增透膜阵列则提供更大的子孔径,获得更高测量动态范围与透射率(400-900 nm),满足多样化实验需求。

专业波前重建与软件分析

配套WaveFront分析软件集成高效重建算法,实时将位移数据转化为波前相位图、三维地形图及泽尼克多项式系数。支持动态监测、RMS计算及PSF模拟,并提供丰富数据导出接口,可无缝集成至自适应光学闭环控制系统或第三方分析平台。

应用领域

  • 自适应光学系统闭环控制与实时波前校正
  • 高能激光光束质量评估与光斑形态分析
  • 精密光学元件面形检测与像差诊断
  • 眼科医疗视觉质量评估与波前像差测量
  • 天文望远镜主镜面形检测与波前校正
  • 半导体光刻机光学系统像差标定与监测

订货信息

本产品型号为 WFS20-K1/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS20-K1/M – WFS20高速波前传感器套件

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 4.2 mm × 4.2 mm

WFS20-K1/M高速波前传感器套件基于Shack-Hartmann波前传感技术,提供高精度波前测量能力。采用高灵敏度CMOS图像传感器与可更换微透镜阵列设计,实现高速、高分辨率的波前重建。其出色的动态范围与帧率,使其成为自适应光学、激光光束分析及光学元件检测的理想选择,为复杂系统提供精准实时的波前诊断方案。

产品概述

WFS20-K1/M是一款高性能的高速Shack-Hartmann波前传感器套件,专为需要实时、高精度波前诊断的先进光学应用而设计。该套件基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测每个子孔径在焦平面上的焦点位移,从而快速、准确地重建出完整的三维波前畸变信息。

本产品提供完整的即插即用解决方案,包含传感器主机、两种不同配置(150 µm铬掩膜与300 µm增透膜)的微透镜阵列、配套线缆及专业的WaveFront分析软件。其出色的波前精度、宽广的动态范围以及灵活的微透镜阵列配置,使其能够完美平衡空间分辨率与测量动态范围。广泛应用于自适应光学系统闭环控制、高能激光光束质量检测、精密光学元件面形评估以及眼科波前像差分析等前沿领域。

核心特性

  • 基于经典Shack-Hartmann原理,实现高精度、实时的三维波前畸变测量与重建
  • 采用高灵敏度CMOS图像传感器,支持全孔径波前高速测量,满足动态过程监测需求
  • 具备卓越的波前精度( 100 λ),适应复杂波前环境
  • 标配两种微透镜阵列(150 µm铬掩膜与300 µm增透膜),灵活平衡空间分辨率与测量动态范围
  • 支持USB 3.0高速数据传输接口,实现即插即用与海量数据快速读取
  • 提供外部触发输入功能,可与脉冲激光器或其他光学设备实现精确的硬件同步
  • 配套专业WaveFront分析软件,提供直观的波前显示、泽尼克多项式拟合及丰富的数据导出功能

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 300 – 1100 nm(铬掩膜)/ 400 – 900 nm(增透膜)
微透镜阵列间距 150 µm / 300 µm(双配置)
微透镜类型 铬掩膜微透镜阵列 / 增透膜微透镜阵列
有效孔径尺寸 4.2 mm × 4.2 mm
微透镜数量 >1000个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 100 λ
最大帧率 > 20 Hz(全孔径波前)
数据接口 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
配套软件 WaveFront分析软件
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS20-K1/M基于经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经微透镜阵列分割为多个子孔径,并在CMOS传感器焦平面形成光斑阵列。波前畸变会导致子光斑中心位置发生偏移,通过精确计算光斑位移量反演局部斜率分布,进而重建出完整的三维波前相位图。

灵活的微透镜阵列配置

套件标配两种微透镜阵列以平衡分辨率与动态范围。150 µm间距的铬掩膜阵列具备高空间分辨率,适用于宽光谱(300-1100 nm)精细检测;300 µm间距的增透膜阵列则提供更大的子孔径,获得更高测量动态范围与透射率(400-900 nm),满足多样化实验需求。

专业波前重建与软件分析

配套WaveFront分析软件集成高效重建算法,实时将位移数据转化为波前相位图、三维地形图及泽尼克多项式系数。支持动态监测、RMS计算及PSF模拟,并提供丰富数据导出接口,可无缝集成至自适应光学闭环控制系统或第三方分析平台。

应用领域

  • 自适应光学系统闭环控制与实时波前校正
  • 高能激光光束质量评估与光斑形态分析
  • 精密光学元件面形检测与像差诊断
  • 眼科医疗视觉质量评估与波前像差测量
  • 天文望远镜主镜面形检测与波前校正
  • 半导体光刻机光学系统像差标定与监测

订货信息

本产品型号为 WFS20-K1/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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