Thorlabs WFS31-5C/M,WFS31大面积波前传感器,300 – 1100 nm

Thorlabs WFS31-5C/M,WFS31大面积波前传感器,300 – 1100 nm

¥46,223.00
SKU: WFS31-5C/M
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WFS31-5C/M – WFS31大面积波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 300 – 1100 nm · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-5C/M大面积波前传感器基于经典的Shack-Hartmann技术,专为高精度波前测量设计。产品采用高灵敏度CMOS传感器与150 µm间距铬掩膜微透镜阵列,结合11.25 mm × 7.03 mm大孔径,实现亚波长级波前重建。其高速数据采集能力,使其成为自适应光学与激光评估的理想选择。

产品概述

WFS31-5C/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器,专为复杂光学系统的波前畸变测量与光束质量分析而设计。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高帧率CMOS图像传感器精确探测每个子孔径焦斑的位移量,从而快速、准确地重建出完整的二维波前相位分布。

本传感器配备11.25 mm × 7.03 mm的大尺寸有效孔径和150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列,提供超过1500个子孔径的高空间分辨率。结合< λ/100 RMS的典型波前精度和大于200 λ的宽动态范围,WFS31-5C/M能够胜任从微弱像差到大动态波前畸变的精确测量。USB 3.0高速接口与专业WaveFront分析软件的结合,确保了数据的实时传输与直观处理,广泛应用于自适应光学、激光光束检测及光学元件面形评估等前沿领域。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度、高空间分辨率的波前相位重建
  • 采用高灵敏度CMOS图像传感器,支持高速波前数据采集与实时动态监测
  • 配备150 µm间距铬掩膜微透镜阵列,提供超1500个子孔径的精细波前采样
  • 具备 200 λ的宽动态范围,适应复杂测量需求
  • 11.25 mm × 7.03 mm大面积有效孔径,满足大尺寸光束与光学元件的检测要求
  • 支持USB 3.0高速数据传输与外部触发输入,确保系统同步与即插即用体验
  • 配套专业WaveFront分析软件,提供直观的波前重建、泽尼克多项式拟合及像差分析功能

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 300 – 1100 nm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 铬掩膜微透镜阵列
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-5C/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。当待测波前通过微透镜阵列时,被分割成多个独立的子光束。每个子光束在焦平面上形成一个光斑。如果入射波前是理想的平面波,所有光斑将规则排列;若波前存在畸变,光斑位置将发生偏移。通过CMOS传感器精确捕捉这些焦斑位移,即可计算出局部波前斜率,进而重建出完整的波前相位分布。

微透镜阵列与CMOS探测技术

本传感器集成了150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列,有效减少了子孔径间的串扰,提升了光能利用率与信噪比。结合11.25 mm × 7.03 mm的大面积CMOS图像传感器,不仅提供了超过1500个子孔径的高空间分辨率,还确保了在宽光谱范围(300-1100 nm)内的高灵敏度探测。USB 3.0接口保障了全孔径波前数据的高速传输,满足动态波前的实时监测需求。

专业波前重建算法与分析软件

配套的WaveFront分析软件内置了先进的波前重建算法,支持从斜率数据快速解算波前相位。软件提供直观的二维波前等高线图、三维曲面显示,并能进行泽尼克多项式分解与赛德尔像差分析。用户可轻松评估光学系统的各项像差指标,实现波前数据的深度挖掘与可视化呈现。

应用领域

  • 自适应光学系统中的实时波前校正与闭环控制
  • 工业激光器与超快激光的光束质量(M²因子)检测
  • 精密光学元件(如透镜、反射镜)的面形误差与像差评估
  • 天文望远镜主镜及次镜的波前对准与主动光学校正
  • 眼科医疗设备中的角膜地形图与眼内像差测量
  • 半导体光刻机及微纳光学系统的光学性能验证

订货信息

本产品型号为 WFS31-5C/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS31-5C/M – WFS31大面积波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 300 – 1100 nm · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-5C/M大面积波前传感器基于经典的Shack-Hartmann技术,专为高精度波前测量设计。产品采用高灵敏度CMOS传感器与150 µm间距铬掩膜微透镜阵列,结合11.25 mm × 7.03 mm大孔径,实现亚波长级波前重建。其高速数据采集能力,使其成为自适应光学与激光评估的理想选择。

产品概述

WFS31-5C/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器,专为复杂光学系统的波前畸变测量与光束质量分析而设计。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高帧率CMOS图像传感器精确探测每个子孔径焦斑的位移量,从而快速、准确地重建出完整的二维波前相位分布。

本传感器配备11.25 mm × 7.03 mm的大尺寸有效孔径和150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列,提供超过1500个子孔径的高空间分辨率。结合< λ/100 RMS的典型波前精度和大于200 λ的宽动态范围,WFS31-5C/M能够胜任从微弱像差到大动态波前畸变的精确测量。USB 3.0高速接口与专业WaveFront分析软件的结合,确保了数据的实时传输与直观处理,广泛应用于自适应光学、激光光束检测及光学元件面形评估等前沿领域。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度、高空间分辨率的波前相位重建
  • 采用高灵敏度CMOS图像传感器,支持高速波前数据采集与实时动态监测
  • 配备150 µm间距铬掩膜微透镜阵列,提供超1500个子孔径的精细波前采样
  • 具备 200 λ的宽动态范围,适应复杂测量需求
  • 11.25 mm × 7.03 mm大面积有效孔径,满足大尺寸光束与光学元件的检测要求
  • 支持USB 3.0高速数据传输与外部触发输入,确保系统同步与即插即用体验
  • 配套专业WaveFront分析软件,提供直观的波前重建、泽尼克多项式拟合及像差分析功能

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 300 – 1100 nm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 铬掩膜微透镜阵列
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-5C/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。当待测波前通过微透镜阵列时,被分割成多个独立的子光束。每个子光束在焦平面上形成一个光斑。如果入射波前是理想的平面波,所有光斑将规则排列;若波前存在畸变,光斑位置将发生偏移。通过CMOS传感器精确捕捉这些焦斑位移,即可计算出局部波前斜率,进而重建出完整的波前相位分布。

微透镜阵列与CMOS探测技术

本传感器集成了150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列,有效减少了子孔径间的串扰,提升了光能利用率与信噪比。结合11.25 mm × 7.03 mm的大面积CMOS图像传感器,不仅提供了超过1500个子孔径的高空间分辨率,还确保了在宽光谱范围(300-1100 nm)内的高灵敏度探测。USB 3.0接口保障了全孔径波前数据的高速传输,满足动态波前的实时监测需求。

专业波前重建算法与分析软件

配套的WaveFront分析软件内置了先进的波前重建算法,支持从斜率数据快速解算波前相位。软件提供直观的二维波前等高线图、三维曲面显示,并能进行泽尼克多项式分解与赛德尔像差分析。用户可轻松评估光学系统的各项像差指标,实现波前数据的深度挖掘与可视化呈现。

应用领域

  • 自适应光学系统中的实时波前校正与闭环控制
  • 工业激光器与超快激光的光束质量(M²因子)检测
  • 精密光学元件(如透镜、反射镜)的面形误差与像差评估
  • 天文望远镜主镜及次镜的波前对准与主动光学校正
  • 眼科医疗设备中的角膜地形图与眼内像差测量
  • 半导体光刻机及微纳光学系统的光学性能验证

订货信息

本产品型号为 WFS31-5C/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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