Thorlabs WFS31-7AR/M,WFS31大面积波前传感器,400 – 900 nm

Thorlabs WFS31-7AR/M,WFS31大面积波前传感器,400 – 900 nm

¥46,223.00
SKU: WFS31-7AR/M
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WFS31-7AR/M – WFS31大面积波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-7AR/M大面积波前传感器基于Shack-Hartmann技术,专为高精度光学测量设计。采用高灵敏度CMOS传感器与150 µm间距增透膜微透镜阵列,实现400-900 nm宽光谱内的高精度波前探测。凭借高速数据采集与优异动态范围,精准捕捉复杂波前畸变,为自适应光学与激光检测提供卓越的波前分析方案。

产品概述

WFS31-7AR/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器,专为复杂光学系统的波前表征与校正而设计。该传感器基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子光束在焦平面上的焦点位移。结合先进的波前重建算法,系统能够实时、高精度地还原入射波前的三维面形。

产品配备11.25 mm × 7.03 mm的大有效孔径和150 µm间距的增透膜微透镜阵列(MLA),在400至900 nm的宽光谱范围内提供超过1500个子孔径的高空间分辨率。其波前测量精度优于λ/100 RMS,动态范围大于200 λ,能够轻松应对从微小像差到严重畸变的各类测量需求。此外,USB 3.0高速接口与外部触发功能的结合,确保了全孔径波前测量的实时性与同步性,是科研与工业检测的理想选择。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度、高可靠性的实时波前测量与重建
  • 优于λ/100 RMS的波前测量精度与大于200 λ的超大动态范围,满足严苛测量需求
  • 配备150 µm间距增透膜微透镜阵列,提供超1500个子孔径,实现高空间分辨率
  • 支持微透镜阵列(MLA)灵活配置,完美平衡不同应用对分辨率与动态范围的需求
  • 搭载高灵敏度CMOS传感器与USB 3.0接口,保障高速数据传输与即插即用体验
  • 具备外部触发输入功能,轻松实现与复杂光学系统的精准同步测量
  • 配套专业WaveFront分析软件,提供直观的波前显示、像差分解及全面的数据分析功能

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 400 – 900 nm
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-7AR/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列(MLA)后,被分割成多个独立的子孔径光束。每个子光束在CMOS传感器的焦平面上形成一个焦点。当入射波前存在畸变时,各焦点的位置会发生相应的偏移。系统通过高精度算法计算这些焦点的位移量,即可精确重构出原始波前的相位分布,实现从二维光斑图像到三维波前面形的精准转换。

高性能微透镜阵列与CMOS探测

本产品配备150 µm间距的增透膜微透镜阵列,在400-900 nm宽光谱范围内具有极高的透过率,有效减少杂散光干扰。结合大面阵、高灵敏度的CMOS图像传感器,不仅提供了超过1500个子孔径的密集采样,还确保了在低光强条件下的优异信噪比。11.25 mm × 7.03 mm的有效孔径能够轻松容纳大尺寸光束,满足大面积光学元件的直接检测需求。

专业波前重建算法与分析软件

配套的专业WaveFront分析软件集成了先进的波前重建算法,支持Zernike多项式拟合、峰谷值(PV)与均方根(RMS)计算。软件界面直观,可实时显示二维与三维波前图、光斑阵列图及像差分布,并提供数据导出与报告生成功能,极大简化了光学系统装调与质量检测的工作流程。

应用领域

  • 自适应光学系统波前校正与闭环控制
  • 高功率及超快激光光束质量(M²因子)检测
  • 精密光学元件面形误差与透射波前检测
  • 天文望远镜主镜拼接与主动光学波前校正
  • 眼科医疗中的视网膜像差测量与视觉质量评估
  • 半导体光刻机及复杂光学系统的装调与对准

订货信息

本产品型号为 WFS31-7AR/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS31-7AR/M – WFS31大面积波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-7AR/M大面积波前传感器基于Shack-Hartmann技术,专为高精度光学测量设计。采用高灵敏度CMOS传感器与150 µm间距增透膜微透镜阵列,实现400-900 nm宽光谱内的高精度波前探测。凭借高速数据采集与优异动态范围,精准捕捉复杂波前畸变,为自适应光学与激光检测提供卓越的波前分析方案。

产品概述

WFS31-7AR/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器,专为复杂光学系统的波前表征与校正而设计。该传感器基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子光束在焦平面上的焦点位移。结合先进的波前重建算法,系统能够实时、高精度地还原入射波前的三维面形。

产品配备11.25 mm × 7.03 mm的大有效孔径和150 µm间距的增透膜微透镜阵列(MLA),在400至900 nm的宽光谱范围内提供超过1500个子孔径的高空间分辨率。其波前测量精度优于λ/100 RMS,动态范围大于200 λ,能够轻松应对从微小像差到严重畸变的各类测量需求。此外,USB 3.0高速接口与外部触发功能的结合,确保了全孔径波前测量的实时性与同步性,是科研与工业检测的理想选择。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度、高可靠性的实时波前测量与重建
  • 优于λ/100 RMS的波前测量精度与大于200 λ的超大动态范围,满足严苛测量需求
  • 配备150 µm间距增透膜微透镜阵列,提供超1500个子孔径,实现高空间分辨率
  • 支持微透镜阵列(MLA)灵活配置,完美平衡不同应用对分辨率与动态范围的需求
  • 搭载高灵敏度CMOS传感器与USB 3.0接口,保障高速数据传输与即插即用体验
  • 具备外部触发输入功能,轻松实现与复杂光学系统的精准同步测量
  • 配套专业WaveFront分析软件,提供直观的波前显示、像差分解及全面的数据分析功能

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 400 – 900 nm
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 M4公制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-7AR/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列(MLA)后,被分割成多个独立的子孔径光束。每个子光束在CMOS传感器的焦平面上形成一个焦点。当入射波前存在畸变时,各焦点的位置会发生相应的偏移。系统通过高精度算法计算这些焦点的位移量,即可精确重构出原始波前的相位分布,实现从二维光斑图像到三维波前面形的精准转换。

高性能微透镜阵列与CMOS探测

本产品配备150 µm间距的增透膜微透镜阵列,在400-900 nm宽光谱范围内具有极高的透过率,有效减少杂散光干扰。结合大面阵、高灵敏度的CMOS图像传感器,不仅提供了超过1500个子孔径的密集采样,还确保了在低光强条件下的优异信噪比。11.25 mm × 7.03 mm的有效孔径能够轻松容纳大尺寸光束,满足大面积光学元件的直接检测需求。

专业波前重建算法与分析软件

配套的专业WaveFront分析软件集成了先进的波前重建算法,支持Zernike多项式拟合、峰谷值(PV)与均方根(RMS)计算。软件界面直观,可实时显示二维与三维波前图、光斑阵列图及像差分布,并提供数据导出与报告生成功能,极大简化了光学系统装调与质量检测的工作流程。

应用领域

  • 自适应光学系统波前校正与闭环控制
  • 高功率及超快激光光束质量(M²因子)检测
  • 精密光学元件面形误差与透射波前检测
  • 天文望远镜主镜拼接与主动光学波前校正
  • 眼科医疗中的视网膜像差测量与视觉质量评估
  • 半导体光刻机及复杂光学系统的装调与对准

订货信息

本产品型号为 WFS31-7AR/M,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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