Thorlabs WFS31-K2,WFS31大面积波前传感器套件

Thorlabs WFS31-K2,WFS31大面积波前传感器套件

¥55,580.00
SKU: WFS31-K2
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WFS31-K2 – WFS31大面积波前传感器套件

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-K2大面积波前传感器套件基于高精度的Shack-Hartmann波前传感技术,采用高灵敏度CMOS图像传感器与增透膜微透镜阵列设计。该套件提供卓越的波前测量能力,支持高速动态捕捉与亚波长级精度,完美平衡空间分辨率与动态范围,为复杂光学系统的波前分析与校正提供可靠解决方案。

产品概述

WFS31-K2是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器套件,专为复杂光学系统的波前测量与校正而设计。本产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦点的位移量,从而实时重建出完整的三维波前分布。

该套件配备11.25 mm × 7.03 mm的大尺寸有效传感器面积,提供超过1500个子孔径,兼顾了高空间分辨率与宽动态范围。其增透膜微透镜阵列设计有效提升了光能利用率,结合USB 3.0高速接口与外部触发功能,可实现大于10 Hz的全孔径波前实时测量。配套的专业WaveFront分析软件功能强大,支持多种波前重建算法与像差分析。WFS31-K2广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测、光学元件面形检测及眼科医疗等前沿领域,是光学研发与工业检测的理想选择。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度三维波前实时测量与重建
  • 波前精度优于λ/100 RMS,动态范围大于200λ,满足严苛测量需求
  • 配备两种间距(150 µm与300 µm)增透膜微透镜阵列,灵活平衡分辨率与动态范围
  • 采用高灵敏度CMOS传感器,支持大于10 Hz全孔径波前高速测量
  • 11.25 mm × 7.03 mm大尺寸有效孔径,提供超过1500个子孔径采样
  • 支持USB 3.0高速数据传输与外部触发输入,确保系统同步与实时性
  • 集成专业WaveFront分析软件,提供丰富的像差分析与波前重建算法

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 400 – 900 nm(增透膜)
孔径尺寸 11.25 mm × 7.03 mm
微透镜阵列间距 150 µm / 300 µm(套件包含两种)
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
子孔径数量 >1500个
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 8-32英制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-K2采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后,被分割成多个独立的子光束。理想平面波会在微透镜焦平面上形成规则排列的焦点阵列;而当存在波前畸变时,各子光束的焦点位置会发生相应偏移。系统通过高帧率CMOS传感器捕捉这些焦斑位移,结合质心算法精确计算局部波前斜率,进而重建出整体波前相位分布。

灵活的微透镜阵列配置

本套件提供150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列(MLA)。300 µm间距MLA提供更高的空间分辨率,适用于精细波前形貌分析;150 µm间距MLA则具有更大的子孔径焦距,从而提供更高的波前斜率测量动态范围。增透膜设计显著降低了表面反射损耗,提高了宽光谱范围内的光能利用率,确保微弱信号下的高信噪比探测。

专业软件与波前重建

配套的WaveFront分析软件基于强大的波前重建算法,支持Zernike多项式拟合、峰谷值(PV)及均方根(RMS)计算。软件界面直观,提供实时3D波前显示、点扩散函数(PSF)模拟及像差分离功能。通过USB 3.0接口与外部触发同步,用户可轻松实现动态波前过程的捕捉与分析,大幅提升光学检测与系统校准的效率。

应用领域

  • 自适应光学系统波前校正与闭环控制
  • 高功率及超快激光光束质量实时检测
  • 精密光学元件面形与透射波前误差检测
  • 眼科医疗中的角膜地形图与人眼像差测量
  • 大型天文望远镜主镜面形检测与主动光学校准

订货信息

本产品型号为 WFS31-K2,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS31-K2 – WFS31大面积波前传感器套件

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-K2大面积波前传感器套件基于高精度的Shack-Hartmann波前传感技术,采用高灵敏度CMOS图像传感器与增透膜微透镜阵列设计。该套件提供卓越的波前测量能力,支持高速动态捕捉与亚波长级精度,完美平衡空间分辨率与动态范围,为复杂光学系统的波前分析与校正提供可靠解决方案。

产品概述

WFS31-K2是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器套件,专为复杂光学系统的波前测量与校正而设计。本产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径,并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦点的位移量,从而实时重建出完整的三维波前分布。

该套件配备11.25 mm × 7.03 mm的大尺寸有效传感器面积,提供超过1500个子孔径,兼顾了高空间分辨率与宽动态范围。其增透膜微透镜阵列设计有效提升了光能利用率,结合USB 3.0高速接口与外部触发功能,可实现大于10 Hz的全孔径波前实时测量。配套的专业WaveFront分析软件功能强大,支持多种波前重建算法与像差分析。WFS31-K2广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测、光学元件面形检测及眼科医疗等前沿领域,是光学研发与工业检测的理想选择。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度三维波前实时测量与重建
  • 波前精度优于λ/100 RMS,动态范围大于200λ,满足严苛测量需求
  • 配备两种间距(150 µm与300 µm)增透膜微透镜阵列,灵活平衡分辨率与动态范围
  • 采用高灵敏度CMOS传感器,支持大于10 Hz全孔径波前高速测量
  • 11.25 mm × 7.03 mm大尺寸有效孔径,提供超过1500个子孔径采样
  • 支持USB 3.0高速数据传输与外部触发输入,确保系统同步与实时性
  • 集成专业WaveFront分析软件,提供丰富的像差分析与波前重建算法

技术规格

技术参数 规格值
传感器类型 CMOS图像传感器
测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 400 – 900 nm(增透膜)
孔径尺寸 11.25 mm × 7.03 mm
微透镜阵列间距 150 µm / 300 µm(套件包含两种)
微透镜类型 增透膜微透镜阵列
子孔径数量 >1500个
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 8-32英制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-K2采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后,被分割成多个独立的子光束。理想平面波会在微透镜焦平面上形成规则排列的焦点阵列;而当存在波前畸变时,各子光束的焦点位置会发生相应偏移。系统通过高帧率CMOS传感器捕捉这些焦斑位移,结合质心算法精确计算局部波前斜率,进而重建出整体波前相位分布。

灵活的微透镜阵列配置

本套件提供150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列(MLA)。300 µm间距MLA提供更高的空间分辨率,适用于精细波前形貌分析;150 µm间距MLA则具有更大的子孔径焦距,从而提供更高的波前斜率测量动态范围。增透膜设计显著降低了表面反射损耗,提高了宽光谱范围内的光能利用率,确保微弱信号下的高信噪比探测。

专业软件与波前重建

配套的WaveFront分析软件基于强大的波前重建算法,支持Zernike多项式拟合、峰谷值(PV)及均方根(RMS)计算。软件界面直观,提供实时3D波前显示、点扩散函数(PSF)模拟及像差分离功能。通过USB 3.0接口与外部触发同步,用户可轻松实现动态波前过程的捕捉与分析,大幅提升光学检测与系统校准的效率。

应用领域

  • 自适应光学系统波前校正与闭环控制
  • 高功率及超快激光光束质量实时检测
  • 精密光学元件面形与透射波前误差检测
  • 眼科医疗中的角膜地形图与人眼像差测量
  • 大型天文望远镜主镜面形检测与主动光学校准

订货信息

本产品型号为 WFS31-K2,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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