WFS40-K1/M – WFS40方形孔径波前传感器套件
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.26 mm
WFS40-K1/M方形孔径波前传感器套件基于Shack-Hartmann技术，专为高精度波前测量设计。产品采用高灵敏度CMOS传感器与精密微透镜阵列结合，实现高速实时探测。其方形孔径与可更换MLA配置，在分辨率与动态范围间提供完美平衡，是光学检测与自适应光学的理想选择。
产品概述
WFS40-K1/M是一款高性能的方形孔径Shack-Hartmann波前传感器套件，专为复杂光学系统的高精度波前分析而设计。该套件基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测每个子孔径焦点的位移，从而实时重建出完整的二维波前相位分布。
本产品提供卓越的波前测量精度与宽广的动态范围，支持全孔径波前的高速测量。其独特的方形孔径设计最大化了有效传感面积，且套件内配备两种不同间距和镀膜的微透镜阵列，用户可根据具体应用灵活切换，以优化空间分辨率或测量动态范围。结合USB 3.0高速接口与专业波前分析软件，WFS40-K1/M广泛适用于自适应光学、激光光束质量评估、光学元件面形检测及精密光学系统装调等前沿领域。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度、实时的二维波前相位测量与重建
- 采用高灵敏度CMOS图像传感器，支持全孔径波前的高速动态捕捉
- 具备卓越的波前精度（ 200 λ）
- 标配两种微透镜阵列（铬掩膜与增透膜），灵活平衡空间分辨率与测量范围
- 11.26 mm方形孔径设计，最大化有效传感器面积，提升边缘光束测量能力
- 配备USB 3.0高速接口与外部触发输入，轻松集成至各类自动化测试系统
- 附带专业WaveFront分析软件，提供直观的波前显示、Zernike拟合及数据导出
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 300-1100 nm (铬掩膜) / 400-900 nm (增透膜) |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜数量 | >2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS (典型值) |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz (全孔径波前) |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-K1/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。当待测波前通过微透镜阵列时，会被分割成多个子光束。每个子光束在焦平面上形成焦点，其位置偏离理想参考波前焦点的位移量，直接反映了该子孔径内波前的局部斜率。通过CMOS传感器阵列精确捕捉这些焦点的二维位移，系统即可通过积分算法高保真地重建出整个入射波前的三维相位分布。
灵活的微透镜阵列配置
本套件提供两种不同规格的微透镜阵列（MLA）以满足多样化需求。150 µm间距的铬掩膜MLA提供宽广的波长适用性，适合多波长激光系统；而镀增透膜的MLA则在特定波段提供更高的光通量。用户可根据测量任务在空间分辨率与动态范围之间进行最佳权衡，无需更换主机即可优化系统性能。
专业波前重建算法与软件
配套的WaveFront分析软件集成了先进的波前重建算法，能够实时计算Zernike多项式系数，精确评估像差类型。软件界面直观，支持波前3D形貌显示、点扩散函数模拟、峰谷值与均方根误差分析，并允许用户自定义触发模式与数据导出格式，极大提升了科研与工业检测的效率。
应用领域
- 自适应光学系统波前校正与闭环控制
- 高功率及超快激光光束质量实时检测
- 精密光学元件面形与像差评估
- 天文望远镜主镜面形检测与主动光学
- 半导体光刻机光学系统装调与校准
- 眼科医疗仪器与视觉科学研究
订货信息
本产品型号为 WFS40-K1/M，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
评价
目前还没有评价