SIVS – 观察屏

Thorlabs 原厂品质 · 高精度光束观察与对准 · 广泛应用于光学与光子学领域

产品概述

SIVS 是 Thorlabs 专为剪切干涉仪设计的放大观察屏，主要用于放大并观察由小直径（Ø1 mm 至 Ø10 mm）相干光束产生的干涉条纹。它通过光学放大机制，帮助用户清晰分辨肉眼难以直接识别的微小干涉图案，从而实现对光束波前畸变和准直状态的定性检测。

该观察屏在物理结构上专为适配 Thorlabs 的剪切干涉仪底座而设计，能够无缝兼容 SI035、SI050、SI100 以及 SI254 型号。其核心工作区域针对 Ø1 mm 至 Ø10 mm 的光束直径进行了优化，确保光束能够完整覆盖散射板并产生清晰的干涉图样。

SIVS 的散射板上刻有参考刻度线，这一特殊设计使得用户能够直观判断干涉条纹是否与参考线平行。通过观察条纹的倾斜方向与间距，操作人员可以准确判定入射光束是处于会聚、发散还是完全准直状态，是光路调试和准直透镜对准过程中的关键辅助配件。

型号	类型	规格	波长范围	特点	参考价(¥)
VRC2	可见光/近红外观察卡	卡式	400-640 nm, 800-1700 nm	标准	参考价
VRC3	紫外/可见光观察卡	卡式	300-540 nm	紫外	参考价
VRC5	红外观察卡	卡式	700-1400 nm	红外	参考价
VRC7	近红外观察卡	卡式	700-1400 nm	近红外	参考价
SIVS ★	观察屏	请咨询	请咨询	本款	参考价

★ 为本款产品 · 价格仅供参考，以实际报价为准

详细技术参数请参考原厂数据手册（Datasheet）或联系客服获取。

SIVS 放大观察屏的核心工作原理基于剪切干涉技术。当相干光束通过剪切干涉仪的分束元件后，会产生两束存在微小横向位移的相干光，这两束光在 SIVS 的散射屏上叠加形成干涉条纹。观察屏的放大特性使得这些微小间距的条纹能够被肉眼清晰分辨。

在定性检测光束准直性时，用户需观察干涉条纹与散射板上刻度参考线的相对关系。若条纹与参考线平行，表明光束已完全准直；若条纹发生倾斜，则表明光束存在会聚或发散。条纹的倾斜方向和密度直接反映了波前的曲率状态。

该配件设计用于直接安装在 Thorlabs 剪切干涉仪底座（如 SI035、SI050、SI100）的指定接口处。需要注意的是，虽然 SIVS 在机械结构上与 SI254 兼容，但由于 SI254 本身已具备直接观察大直径光束的能力，通常无需额外搭配 SIVS 使用。

为了获得清晰的干涉图案，入射光源的有效相干长度必须大于所用剪切板引起的光程差（ΔOPL）。此外，干涉条纹的对比度和强度受入射光偏振态的影响，当光的偏振方向垂直于入射平面时，观察到的条纹强度达到最大。

在实际光学系统搭建中，SIVS 广泛应用于激光器的输出光束质量评估、扩束系统的准直调试以及复杂光路中的波前检测。它有效解决了小直径光束干涉图案难以直接观测的技术痛点，提升了光路对准的效率与精度。

SIVS 兼容 Thorlabs 的 SI035、SI050、SI100 和 SI254 剪切干涉仪底座。但需注意，SI254 本身已设计用于直接观察大直径光束，通常无需搭配 SIVS 使用。

入射光必须具有足够的相干长度，且有效相干长度需大于所用剪切板引起的光程差（ΔOPL）才能产生干涉。此外，当入射光的偏振方向垂直于入射平面时，条纹图案的强度最大。

观察散射屏上产生的干涉条纹，并对比条纹与板上的刻度参考线。如果干涉条纹与参考刻度线完全平行，则说明光束已完全准直；若条纹倾斜，则代表光束处于会聚或发散状态。

SIVS 专为小直径相干光束设计，适用的光束直径范围为 Ø1 mm 至 Ø10 mm。