Thorlabs SIVS 观察屏

Thorlabs SIVS 观察屏

¥3,656.00

SIVS – 观察屏

Thorlabs 原厂品质 · 高精度光束观察与对准 · 广泛应用于光学与光子学领域

产品概述

SIVS 是 Thorlabs 专为剪切干涉仪设计的放大观察屏,主要用于放大并观察由小直径(Ø1 mm 至 Ø10 mm)相干光束产生的干涉条纹。它通过光学放大机制,帮助用户清晰分辨肉眼难以直接识别的微小干涉图案,从而实现对光束波前畸变和准直状态的定性检测。

该观察屏在物理结构上专为适配 Thorlabs 的剪切干涉仪底座而设计,能够无缝兼容 SI035、SI050、SI100 以及 SI254 型号。其核心工作区域针对 Ø1 mm 至 Ø10 mm 的光束直径进行了优化,确保光束能够完整覆盖散射板并产生清晰的干涉图样。

SIVS 的散射板上刻有参考刻度线,这一特殊设计使得用户能够直观判断干涉条纹是否与参考线平行。通过观察条纹的倾斜方向与间距,操作人员可以准确判定入射光束是处于会聚、发散还是完全准直状态,是光路调试和准直透镜对准过程中的关键辅助配件。

核心规格参数

产品类型 放大观察屏
偏振特性 偏振垂直于入射面时条纹强度最大
兼容干涉仪型号 SI035, SI050, SI100, SI254
参考设计 散射板集成刻度参考线
核心功能 干涉条纹放大与准直状态定性检测
相干性要求 光源相干长度需大于剪切板光程差(ΔOPL)
适用光束直径 Ø1 mm – Ø10 mm

核心特点

  • 专为 Ø1 mm 至 Ø10 mm 小直径相干光束设计的干涉条纹放大观察功能
  • 散射板集成刻度参考线,支持直观判断条纹平行度以定性分析光束准直状态
  • 机械结构兼容 Thorlabs SI035、SI050、SI100 及 SI254 剪切干涉仪底座
  • 有效解决微小光束干涉图案肉眼难以分辨的问题,提升光路调试效率
  • 针对相干光束优化,支持会聚、发散及完全准直状态的精准定性检测
  • 结合剪切干涉仪使用,可直观反映波前曲率及光束质量

同系列产品对比

型号 类型 规格 波长范围 特点 参考价(¥)
VRC2 可见光/近红外观察卡 卡式 400-640 nm, 800-1700 nm 标准 参考价
VRC3 紫外/可见光观察卡 卡式 300-540 nm 紫外 参考价
VRC5 红外观察卡 卡式 700-1400 nm 红外 参考价
VRC7 近红外观察卡 卡式 700-1400 nm 近红外 参考价
SIVS ★ 观察屏 请咨询 请咨询 本款 参考价

★ 为本款产品 · 价格仅供参考,以实际报价为准

详细技术参数

详细技术参数请参考原厂数据手册(Datasheet)或联系客服获取。

产品详情

SIVS 放大观察屏的核心工作原理基于剪切干涉技术。当相干光束通过剪切干涉仪的分束元件后,会产生两束存在微小横向位移的相干光,这两束光在 SIVS 的散射屏上叠加形成干涉条纹。观察屏的放大特性使得这些微小间距的条纹能够被肉眼清晰分辨。

在定性检测光束准直性时,用户需观察干涉条纹与散射板上刻度参考线的相对关系。若条纹与参考线平行,表明光束已完全准直;若条纹发生倾斜,则表明光束存在会聚或发散。条纹的倾斜方向和密度直接反映了波前的曲率状态。

该配件设计用于直接安装在 Thorlabs 剪切干涉仪底座(如 SI035、SI050、SI100)的指定接口处。需要注意的是,虽然 SIVS 在机械结构上与 SI254 兼容,但由于 SI254 本身已具备直接观察大直径光束的能力,通常无需额外搭配 SIVS 使用。

为了获得清晰的干涉图案,入射光源的有效相干长度必须大于所用剪切板引起的光程差(ΔOPL)。此外,干涉条纹的对比度和强度受入射光偏振态的影响,当光的偏振方向垂直于入射平面时,观察到的条纹强度达到最大。

在实际光学系统搭建中,SIVS 广泛应用于激光器的输出光束质量评估、扩束系统的准直调试以及复杂光路中的波前检测。它有效解决了小直径光束干涉图案难以直接观测的技术痛点,提升了光路对准的效率与精度。

应用领域

  • 激光光束对准与调试
  • 光束轮廓观察与诊断
  • 光学实验与教学演示
  • 光纤通信系统调试
  • 激光加工设备维护
  • 红外光学系统对准
  • 显微镜光路对准
  • 科研与工业应用

常见问题 (FAQ)

Q1: SIVS 放大观察屏适用于哪些型号的剪切干涉仪?

SIVS 兼容 Thorlabs 的 SI035、SI050、SI100 和 SI254 剪切干涉仪底座。但需注意,SI254 本身已设计用于直接观察大直径光束,通常无需搭配 SIVS 使用。

Q2: 使用 SIVS 观察干涉条纹时,对光源有什么具体要求?

入射光必须具有足够的相干长度,且有效相干长度需大于所用剪切板引起的光程差(ΔOPL)才能产生干涉。此外,当入射光的偏振方向垂直于入射平面时,条纹图案的强度最大。

Q3: 如何通过 SIVS 判断光束是否已经准直?

观察散射屏上产生的干涉条纹,并对比条纹与板上的刻度参考线。如果干涉条纹与参考刻度线完全平行,则说明光束已完全准直;若条纹倾斜,则代表光束处于会聚或发散状态。

Q4: SIVS 适合观察多大直径的光束?

SIVS 专为小直径相干光束设计,适用的光束直径范围为 Ø1 mm 至 Ø10 mm。

描述

SIVS – 观察屏

Thorlabs 原厂品质 · 高精度光束观察与对准 · 广泛应用于光学与光子学领域

产品概述

SIVS 是 Thorlabs 专为剪切干涉仪设计的放大观察屏,主要用于放大并观察由小直径(Ø1 mm 至 Ø10 mm)相干光束产生的干涉条纹。它通过光学放大机制,帮助用户清晰分辨肉眼难以直接识别的微小干涉图案,从而实现对光束波前畸变和准直状态的定性检测。

该观察屏在物理结构上专为适配 Thorlabs 的剪切干涉仪底座而设计,能够无缝兼容 SI035、SI050、SI100 以及 SI254 型号。其核心工作区域针对 Ø1 mm 至 Ø10 mm 的光束直径进行了优化,确保光束能够完整覆盖散射板并产生清晰的干涉图样。

SIVS 的散射板上刻有参考刻度线,这一特殊设计使得用户能够直观判断干涉条纹是否与参考线平行。通过观察条纹的倾斜方向与间距,操作人员可以准确判定入射光束是处于会聚、发散还是完全准直状态,是光路调试和准直透镜对准过程中的关键辅助配件。

核心规格参数

产品类型 放大观察屏
偏振特性 偏振垂直于入射面时条纹强度最大
兼容干涉仪型号 SI035, SI050, SI100, SI254
参考设计 散射板集成刻度参考线
核心功能 干涉条纹放大与准直状态定性检测
相干性要求 光源相干长度需大于剪切板光程差(ΔOPL)
适用光束直径 Ø1 mm – Ø10 mm

核心特点

  • 专为 Ø1 mm 至 Ø10 mm 小直径相干光束设计的干涉条纹放大观察功能
  • 散射板集成刻度参考线,支持直观判断条纹平行度以定性分析光束准直状态
  • 机械结构兼容 Thorlabs SI035、SI050、SI100 及 SI254 剪切干涉仪底座
  • 有效解决微小光束干涉图案肉眼难以分辨的问题,提升光路调试效率
  • 针对相干光束优化,支持会聚、发散及完全准直状态的精准定性检测
  • 结合剪切干涉仪使用,可直观反映波前曲率及光束质量

同系列产品对比

型号 类型 规格 波长范围 特点 参考价(¥)
VRC2 可见光/近红外观察卡 卡式 400-640 nm, 800-1700 nm 标准 参考价
VRC3 紫外/可见光观察卡 卡式 300-540 nm 紫外 参考价
VRC5 红外观察卡 卡式 700-1400 nm 红外 参考价
VRC7 近红外观察卡 卡式 700-1400 nm 近红外 参考价
SIVS ★ 观察屏 请咨询 请咨询 本款 参考价

★ 为本款产品 · 价格仅供参考,以实际报价为准

详细技术参数

详细技术参数请参考原厂数据手册(Datasheet)或联系客服获取。

产品详情

SIVS 放大观察屏的核心工作原理基于剪切干涉技术。当相干光束通过剪切干涉仪的分束元件后,会产生两束存在微小横向位移的相干光,这两束光在 SIVS 的散射屏上叠加形成干涉条纹。观察屏的放大特性使得这些微小间距的条纹能够被肉眼清晰分辨。

在定性检测光束准直性时,用户需观察干涉条纹与散射板上刻度参考线的相对关系。若条纹与参考线平行,表明光束已完全准直;若条纹发生倾斜,则表明光束存在会聚或发散。条纹的倾斜方向和密度直接反映了波前的曲率状态。

该配件设计用于直接安装在 Thorlabs 剪切干涉仪底座(如 SI035、SI050、SI100)的指定接口处。需要注意的是,虽然 SIVS 在机械结构上与 SI254 兼容,但由于 SI254 本身已具备直接观察大直径光束的能力,通常无需额外搭配 SIVS 使用。

为了获得清晰的干涉图案,入射光源的有效相干长度必须大于所用剪切板引起的光程差(ΔOPL)。此外,干涉条纹的对比度和强度受入射光偏振态的影响,当光的偏振方向垂直于入射平面时,观察到的条纹强度达到最大。

在实际光学系统搭建中,SIVS 广泛应用于激光器的输出光束质量评估、扩束系统的准直调试以及复杂光路中的波前检测。它有效解决了小直径光束干涉图案难以直接观测的技术痛点,提升了光路对准的效率与精度。

应用领域

  • 激光光束对准与调试
  • 光束轮廓观察与诊断
  • 光学实验与教学演示
  • 光纤通信系统调试
  • 激光加工设备维护
  • 红外光学系统对准
  • 显微镜光路对准
  • 科研与工业应用

常见问题 (FAQ)

Q1: SIVS 放大观察屏适用于哪些型号的剪切干涉仪?

SIVS 兼容 Thorlabs 的 SI035、SI050、SI100 和 SI254 剪切干涉仪底座。但需注意,SI254 本身已设计用于直接观察大直径光束,通常无需搭配 SIVS 使用。

Q2: 使用 SIVS 观察干涉条纹时,对光源有什么具体要求?

入射光必须具有足够的相干长度,且有效相干长度需大于所用剪切板引起的光程差(ΔOPL)才能产生干涉。此外,当入射光的偏振方向垂直于入射平面时,条纹图案的强度最大。

Q3: 如何通过 SIVS 判断光束是否已经准直?

观察散射屏上产生的干涉条纹,并对比条纹与板上的刻度参考线。如果干涉条纹与参考刻度线完全平行,则说明光束已完全准直;若条纹倾斜,则代表光束处于会聚或发散状态。

Q4: SIVS 适合观察多大直径的光束?

SIVS 专为小直径相干光束设计,适用的光束直径范围为 Ø1 mm 至 Ø10 mm。

评价

目前还没有评价

成为第一个“Thorlabs SIVS 观察屏” 的评价者

您的邮箱地址不会被公开。 必填项已用 * 标注