AOK5/M – Multi-DM自适应光学套件（140致动器）
Thorlabs 原厂品质 · 自适应光学套件 · 140个 · CMOS Shack-Hartmann（夏克-哈特曼）波前传感器
AOK5/M是一款高性能Multi-DM自适应光学套件，集成140致动器压电变形镜与CMOS Shack-Hartmann波前传感器，提供卓越的大行程波前校正能力。该一体化设计支持实时闭环控制，能够快速补偿复杂光学像差。出厂即插即用，为科研与工业应用提供高精度、易集成的自适应光学解决方案。
产品概述
AOK5/M Multi-DM自适应光学套件专为复杂波前像差校正而设计，集成了140致动器压电变形镜与CMOS Shack-Hartmann波前传感器。该套件基于自适应光学闭环控制原理，通过波前传感器实时测量畸变，控制算法计算校正量并驱动变形镜进行动态补偿。其压电驱动技术确保了纳米级的高精度响应，而有保护层银膜则提供了400至1100 nm宽波段的高反射率。AOK5/M具备即插即用特性，出厂前已完成系统校准，支持自定义控制算法，极大地简化了系统集成。广泛应用于天文成像、激光束质量改善、显微成像、眼科光学及光通信等前沿领域，是提升光学系统极限分辨率与光束质量的理想选择。
核心特性
- 140致动器Multi-DM压电变形镜，实现高精度纳米级波前校正
- 大行程波前校正能力，峰-峰值行程达12 μm（±6 μm）
- 有保护层银膜镀膜，提供400-1100 nm宽波段高反射率
- 集成CMOS Shack-Hartmann波前传感器，支持实时闭环控制
- 完整套件即插即用，出厂校准，USB 2.0接口易于系统集成
- 配套AOK控制软件，支持自定义控制算法与灵活配置
- 快速动态响应，典型响应时间小于500 μs
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 变形镜类型 | Multi-DM有保护层银膜压电变形镜 |
| 致动器数量 | 140个 |
| 波前传感器类型 | CMOS Shack-Hartmann（夏克-哈特曼） |
| 通光孔径 | Ø7.5 mm |
| 行程范围 | ±6 μm（峰-峰值约12 μm） |
| 响应时间 | < 500 μs（典型值） |
| 反射镜镀膜 | 有保护层银膜（Protected Silver） |
| 工作波长范围 | 400 – 1100 nm |
| 控制通道数 | 140通道 |
| 安装方式 | 公制（M6/M4螺纹安装） |
| 接口类型 | USB 2.0 |
| 配套软件 | AOK自适应光学控制软件 |
| 工作温度 | 10°C ~ 35°C |
| 电源 | 外接电源适配器（区域规格） |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
自适应光学闭环原理
AOK5/M基于经典闭环控制架构。CMOS Shack-Hartmann波前传感器对输入光束波前畸变进行高频采样测量，控制算法实时计算校正量并驱动变形镜动态补偿。该过程持续运行，确保输出光束保持理想波前状态。
高性能压电变形镜
核心部件为140致动器Multi-DM压电变形镜，具备±6 μm大行程能力，可校正大幅度像差。反射镜镀有保护层银膜，在400-1100 nm宽波段提供高反射率与环境耐受性。140个独立致动器确保极高空间分辨率与纳米级表面精度。
一体化即插即用设计
AOK5/M采用高度一体化设计，出厂前已完成严格校准与联调。用户通过USB 2.0连接计算机，即可使用AOK控制软件快速部署。软件支持自定义算法与灵活配置，极大简化了系统集成，让研究人员专注于核心实验。
应用领域
- 天文望远镜像差校正与自适应光学系统
- 飞秒与超快激光脉冲整形及光束质量优化
- 共聚焦与多光子显微镜像差补偿
- 眼科光学成像与视网膜高分辨率观察
- 自由空间光通信波前补偿
- 精密光学测量与计量实验室应用
订货信息
本产品型号为 AOK5/M，下单时请提供完整型号。
本自适应光学套件为完整独立系统，出厂前已完成校准，开箱即用。套件包含变形镜、Shack-Hartmann波前传感器、控制软件、USB连接线、电源适配器及必要的安装附件。通过USB 2.0接口连接电脑，使用AOK控制软件即可实现实时波前测量与闭环校正。
如需配套的光学调整架、激光器、成像系统或其他自适应光学解决方案，请联系我们的销售人员获取完整配置建议。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: 什么是自适应光学？它能解决什么问题？
A: 自适应光学（Adaptive Optics, AO）是一种实时测量并校正光学系统中波前像差的技术。在光学系统中，由于大气湍流、光学元件像差、热效应、样品折射率不均等因素，光束会发生波前畸变，导致成像模糊、光束质量下降、激光聚焦光斑变大等问题。自适应光学系统通过波前传感器实时测量波前畸变，再通过可变形镜（Deformable Mirror）对波前进行实时补偿校正，从而恢复接近衍射极限的光束质量。Thorlabs AOK系列自适应光学套件将变形镜、波前传感器和控制软件集成为一套完整系统，开箱即用，大大降低了自适应光学技术的应用门槛。
Q2: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann（夏克-哈特曼）波前传感器是目前应用最广泛的波前测量技术。其基本原理是将待测光束通过微透镜阵列（Microlens Array）分成许多子光束，每个子光束在CCD/CMOS探测器上形成一个光斑。当入射波前是理想平面波时，所有光斑都位于各自微透镜的光轴上，形成规则的点阵。当波前存在畸变时，不同位置的子光束会发生不同程度的偏折，导致光斑偏离中心位置。通过精确测量每个光斑的偏移量，可以反推出波前的斜率分布，再通过数值重建算法（如Southwell区域法、模式法等）计算出完整的波前形状。Shack-Hartmann传感器具有结构简单、实时性好、动态范围大等优点，是自适应光学系统的核心测量组件。
Q3: 压电驱动变形镜和其他类型变形镜有什么区别？
A: 变形镜是自适应光学系统的核心校正元件，主要有以下几种类型：1）压电驱动变形镜（Piezoelectric DM）：利用压电陶瓷的逆压电效应推动镜面变形，响应速度快（亚毫秒级）、位移精度高（纳米级），但单致动器行程相对较小（几微米量级）。Thorlabs AOK系列采用的就是压电驱动变形镜。2）静电驱动变形镜（Electrostatic DM/MEMS DM）：通过静电力驱动微镜面阵列，致动器数量可以很多（数百到数千），但行程通常很小（几百纳米到1微米），适合高阶像差校正。3）电磁驱动变形镜：通过电磁力驱动，行程较大，但响应速度较慢、功耗较高。压电变形镜在响应速度、精度和行程之间取得了良好平衡，是当前科研和工业应用中最主流的技术路线。
Q4: AOK套件的Woofer-Tweeter架构是什么意思？有什么优势？
A: Woofer-Tweeter（低音-高音）架构借用了音响领域的概念，指同时使用两个变形镜协同工作：一个大行程、低空间分辨率的变形镜作为Woofer（低音单元），负责校正低阶大像差（如离焦、像散、彗差等）；另一个小行程、高空间分辨率的变形镜作为Tweeter（高音单元），负责校正高阶小像差。Thorlabs AOKWT系列采用Multi-DM 140致动器作为Woofer（±6 μm大行程）和压电DM 40致动器作为Tweeter（高速高精度）的组合。这种架构的优势在于：1）同时实现大校正量和高精度，单变形镜很难兼顾两者；2）校正动态范围大幅提升，可以处理像差更大的光学系统；3）两个变形镜分工协作，各自工作在最佳性能区间，整体校正效果优于单变形镜。适合天文观测、深层生物成像等像差较大、校正要求高的应用场景。
Q5: 如何选择适合自己应用的AOK套件型号？
A: 选择AOK套件主要考虑以下几个因素：1）致动器数量：需要校正的像差越复杂、阶次越高，需要的致动器数量越多。AOK8（40致动器）适合校正低阶到中阶像差（如离焦、像散、彗差及少量高阶像差）；AOK5（140致动器）适合校正更复杂的高阶像差；AOKWT（140+40双变形镜）适合需要大行程同时又有高阶像差校正需求的场景。2）行程要求：如果系统像差较大（如深层组织成像、大口径望远镜），需要更大的校正行程，应选择Multi-DM系列或Woofer-Tweeter系列。3）波长范围：AOK系列标配银膜镀膜，工作波长400-1100 nm，覆盖可见光到近红外。如果需要其他波段镀膜，可咨询定制服务。4）安装方式：英制版本（型号无/M后缀）适用于1/4″-20和8-32螺纹安装的光学平台；公制版本（型号带/M后缀）适用于M6和M4螺纹安装的光学平台。选择时请根据实验室光学平台规格确定。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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