SI254 – 横向剪切干涉仪
Thorlabs 原厂品质 · 横向剪切干涉仪 · 10 – 25.4 mm · λ/10 @ 633 nm（PV值） · 350 – 2000 nm（典型值，取决于膜层）
SI254横向剪切干涉仪专为10-25.4mm光束设计，基于横向剪切原理，无需参考波前即可实现高精度光束准直检测。采用熔融石英基底，面形精度达λ/10@633nm，结合350-2000nm宽波长覆盖，确保多光谱下的卓越性能。其结构简单、使用便捷，是光学装调与波前分析的理想选择。
产品概述
SI254是一款高性能横向剪切干涉仪，专为10至25.4 mm光束直径的精确检测而设计。其核心基于横向剪切干涉原理，利用平行平板玻璃前后表面的反射光产生干涉，从而直观评估光束质量。与Shack-Hartmann波前传感器相比，横向剪切干涉仪无需复杂的微透镜阵列和参考波前，结构更为简单，操作便捷，且对宽光谱范围具有优异的适应性。
该干涉仪采用优质熔融石英基底，面形精度高达λ/10 @ 633 nm，确保测量结果的极高可靠性。其部分反射膜设计覆盖了350至2000 nm的宽波长范围，满足从紫外到近红外的多样化需求。SI254广泛应用于激光光束准直性检测、光学系统波前像差测量以及精密光学装调等领域，是科研与工业界不可或缺的光束质量评估工具。
核心特性
- 基于横向剪切干涉原理，无需参考波前，大幅简化光路搭建与对准过程
- 采用高纯度熔融石英基底，面形精度达λ/10 @ 633 nm，保障测量高可靠性
- 支持350 – 2000 nm宽光谱范围，满足紫外至近红外多波段检测需求
- 精准测量光束准直性、波前像差、球差、像散及离焦量等关键参数
- 提供约600 µm典型剪切量，平衡测量灵敏度与视场范围
- 兼容标准SM系列螺纹接口与笼式系统，安装灵活便捷
- 表面质量达10-5划痕麻点标准，确保光束传输与干涉质量
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 产品类型 | 横向剪切干涉仪（剪切板） |
| 适用光束直径 | 10 – 25.4 mm |
| 剪切量 | 约600 µm（典型值） |
| 波长范围 | 350 – 2000 nm（取决于膜层） |
| 基底材料 | 熔融石英（Fused Silica） |
| 表面质量 | 10-5 划痕麻点（MIL-PRF-13830B） |
| 面形精度 | λ/10 @ 633 nm（PV值） |
| 镀膜类型 | 部分反射膜（可见光-近红外增透/部分反射） |
| 测量原理 | 横向剪切干涉原理 |
| 可测参数 | 光束准直性、波前像差、球差、像散、离焦量 |
| 安装方式 | 标准SM系列螺纹接口 / 笼式系统兼容 |
| 工作温度 | 10°C ~ 35°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
横向剪切干涉原理
SI254横向剪切干涉仪的核心工作机制基于平行平板剪切干涉。当光束入射到具有特定厚度和部分反射膜层的平行平板玻璃时，前表面与后表面的反射光会产生横向位移（即剪切量）。这两束反射光在空间上发生重叠并产生干涉，形成干涉条纹。由于无需外部参考波前，该原理极大地简化了系统复杂度。
剪切量与测量精度
剪切量决定了干涉仪对波前斜率变化的灵敏度。SI254提供约600 µm的典型剪切量，这一设计在测量灵敏度与干涉条纹对比度之间取得了理想平衡。通过精确控制基底厚度与材料折射率，确保了在整个适用光束直径范围内，干涉条纹清晰且易于解析，从而实现对微小波前畸变的高精度捕捉。
干涉条纹判读方法
干涉条纹的形态直接反映光束的波前质量。当被测光束为理想准直光（平面波）时，视场中呈现均匀亮度或平直且等间距的干涉条纹；若光束存在离焦，条纹将呈现对称的弯曲形态；像散会导致条纹在不同方向上呈现不同的曲率；而球差则表现为条纹边缘的复杂扭曲。通过直观判读条纹形状，用户可快速定性并定量分析光束的像差状态。
应用领域
- 激光光束准直性检测与优化
- 精密光学系统波前像差测量
- 望远镜与透镜组质量评估
- 激光加工光束质量控制
- 光学装调与系统级准直
- 科研实验室波前分析与航天光学检测
订货信息
本产品型号为 SI254，下单时请提供完整型号。
本剪切干涉仪为独立器件，可直接安装于SM系列镜筒或笼式系统中使用。配合观察屏、相机或光束分析软件可实现定量波前测量。
如需配套的观察屏、转接件或光束分析方案，请联系我们的销售人员获取完整配置建议。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: 横向剪切干涉仪的工作原理是什么？
A: 横向剪切干涉仪基于平行平板玻璃的剪切干涉原理。入射光束以一定角度入射到平行平板上，平板前后两个表面分别反射部分入射光，形成两束具有横向位移（剪切量）的相干光束，这两束光在远场发生干涉产生干涉条纹。通过观察和分析干涉条纹的形状，可以判断入射光束的准直状态和波前像差。当入射光为准直光时，干涉条纹为等间距平行直线；当光束存在离焦、像散或球差时，条纹会发生相应的弯曲变形。
Q2: 剪切量是什么？它对测量有什么影响？
A: 剪切量（Shear Amount）是指两束反射光在垂直于光轴方向上的位移量。剪切量的大小取决于平板厚度和入射角，平板越厚，剪切量越大。剪切量与测量精度和灵敏度密切相关：剪切量越小，对大尺寸波前像差越敏感；剪切量越大，对局部小像差的检测能力越强，但条纹对比度可能降低。选择合适的剪切量需要在测量灵敏度和条纹质量之间取得平衡。Thorlabs SI系列提供多种规格，覆盖不同光束直径和剪切量需求。
Q3: 横向剪切干涉仪和Shack-Hartmann波前传感器有什么区别？
A: 横向剪切干涉仪是一种无源光学元件，通过平板玻璃的双表面反射产生干涉条纹来检测波前像差，结构简单、成本低、光谱范围宽，但需要人工判读条纹，定量测量精度有限，适合光束准直性快速检测和定性评估。Shack-Hartmann波前传感器是一种集成了微透镜阵列和相机的有源设备，可以定量测量波前的Zernike像差，精度高、速度快、数据丰富，但成本较高、光谱范围受相机和微透镜阵列限制。两者各有优势，可根据实际应用需求选择。
Q4: 如何判断光束是否准直？
A: 使用横向剪切干涉仪判断光束准直性的方法如下：将剪切干涉仪放入待测光束路径中，在干涉仪后方放置观察屏或光束分析仪观察干涉条纹。如果条纹为等间距平行直线，说明光束准直良好。如果条纹弯曲呈弧形，说明光束存在离焦（发散或会聚）：条纹向剪切方向凸的一侧表示光束会聚，凹的一侧表示发散。条纹的弯曲程度与离焦量成正比。此外，如果条纹出现不对称扭曲，说明存在像散；如果条纹间距不均匀且呈对称抛物线形，说明存在球差。
Q5: 为什么选择熔融石英作为基底材料？
A: 熔融石英（Fused Silica）具有优异的光学性能，是高精度光学元件的首选基底材料之一。它具有极低的热膨胀系数（约5.5×10⁻⁷/°C），温度变化时面形稳定性好；从深紫外到近红外都具有高透过率，光谱范围宽；材料均匀性好，折射率分布均匀，不会引入额外波前畸变；化学稳定性好，耐酸碱腐蚀；硬度高，抗划伤能力强。这些特性确保了剪切干涉仪在各种使用环境下都能提供稳定可靠的测量结果。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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