VRC3SM05 – 紫外/可见光观察卡
Thorlabs 原厂品质 · 高精度光束观察与对准 · 广泛应用于光学与光子学领域
产品概述
VRC3SM05 是一款专为 300 nm 至 540 nm 紫外及可见光波段设计的激光观察卡。其表面涂覆有光敏材料，能够将低功率的紫外或可见光辐射转化为明亮的可见光斑，从而实现光束轮廓与位置的直观显示。该卡片可探测低至 1 nW/cm² 的辐射强度，适用于不可见或弱光激光的初步对准与调试。
该观察卡采用 Ø1/2″ (12.7 mm) 尺寸设计，并配备了标准的 SM05 (0.535″-40) 外螺纹。这种机械接口使其能够直接旋入 SM05 兼容的螺纹镜架，或安装于 16 mm 笼式系统的旋转安装座（如 SRM05）中，便于在复杂光路中进行精确的角度调节与固定。
卡片表面经过特殊处理，具备高转换效率与高对比度，确保在较强环境光下仍能清晰分辨光斑。其无源设计无需外部供电，结合 SM05 螺纹接口，可轻松集成至现有的光束传输系统中，作为光束监测节点使用。
核心规格参数
核心特点
- 专为 300 nm 至 540 nm 紫外及可见光波段优化
- 表面光敏涂层可探测低至 1 nW/cm² 的辐射强度
- 集成标准 SM05 (0.535″-40) 外螺纹，便于光学系统集成
- 兼容 16 mm 笼式系统及各类 SM05 兼容旋转安装座（如 SRM05）
- 采用 Ø1/2″ (12.7 mm) 标准尺寸，适配常规光学元件夹持器
- 高对比度表面处理，有效抑制环境杂散光干扰
- 无源被动探测设计，无需外部供电即可实时显示光斑
同系列产品对比
| 型号 | 类型 | 规格 | 波长范围 | 特点 | 参考价(¥) |
|---|---|---|---|---|---|
| VRC2 | 可见光/近红外观察卡 | 卡式 | 400-640 nm, 800-1700 nm | 标准 | 参考价 |
| VRC3 | 紫外/可见光观察卡 | 卡式 | 300-540 nm | 紫外 | 参考价 |
| VRC5 | 红外观察卡 | 卡式 | 700-1400 nm | 红外 | 参考价 |
| VRC7 | 近红外观察卡 | 卡式 | 700-1400 nm | 近红外 | 参考价 |
| VRC3SM05 ★ | 紫外/可见光观察卡 | 请咨询 | 300-540 nm | 本款 | 参考价 |
★ 为本款产品 · 价格仅供参考，以实际报价为准
详细技术参数
详细技术参数请参考原厂数据手册（Datasheet）或联系客服获取。
产品详情
VRC3SM05 的核心在于其表面的光敏涂层，该涂层在吸收 300 nm 至 540 nm 波长的光子后，会发生荧光或磷光效应，发出人眼可见的光斑。其探测阈值低至 1 nW/cm²，使得用户在低功率激光调试时，无需依赖复杂的光电探测器即可快速确认光束是否到达目标位置。
与普通的卡片式观察卡不同，VRC3SM05 集成了 SM05 (0.535″-40) 螺纹。这一设计允许用户将其直接旋入带有 SM05 内螺纹的透镜套筒、镜架或旋转台中。在 16 mm 笼式系统中，配合 SRM05 等旋转安装座，可实现光束轮廓的 360° 连续旋转监测。
针对实验室环境中常见的杂散光干扰，VRC3SM05 的表面材料优化了信噪比。其高对比度设计确保了在环境光较强的条件下，由激光激发的可见光斑依然清晰可辨，减少了误判光束位置的风险，提高了光路对准的准确性。
使用时，只需将 VRC3SM05 旋入光路中的 SM05 接口，使光敏面正对入射光束即可观察。由于光敏材料在长时间暴露于高功率激光下可能会发生光漂白或老化，建议仅在调试和对准阶段短暂使用，避免将其长期置于高功率光束的直射路径中，以延长卡片的使用寿命。
应用领域
- ◆激光光束对准与调试
- ◆光束轮廓观察与诊断
- ◆光学实验与教学演示
- ◆光纤通信系统调试
- ◆激光加工设备维护
- ◆红外光学系统对准
- ◆显微镜光路对准
- ◆科研与工业应用
常见问题 (FAQ)
Q1: VRC3SM05 能否用于近红外或中红外激光的观察？
不能。VRC3SM05 的光敏涂层专门针对 300 nm 至 540 nm 的紫外和可见光波段优化。若需观察近红外或中红外激光，请选择对应波段的型号，如 VRC2 (800-1700 nm) 或 VRC6S (1.5-13.2 µm)。
Q2: 如何将 VRC3SM05 安装到 16 mm 笼式系统中？
VRC3SM05 带有 SM05 (0.535″-40) 外螺纹，您可以将其旋入 SRM05 等带有 SM05 内螺纹的 16 mm 笼式兼容旋转安装座中，从而实现光束轮廓的精确旋转监测。
Q3: 观察卡的光敏涂层会随时间失效吗？
会。如果长时间暴露在高功率激光下，光敏材料可能会发生光漂白或不可逆的损伤，导致转换效率下降。建议仅在光路调试和光束对准期间短暂使用，以延长其使用寿命。
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