WFS31-14AR/M – WFS31大面积波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.25 mm x 7.03 mm
WFS31-14AR/M大面积波前传感器基于Shack-Hartmann原理，专为高精度波前测量设计。采用高性能CMOS传感器与300 µm间距增透膜微透镜阵列，提供超1500个子孔径采样，实现小于λ/100 RMS的卓越精度。USB 3.0接口结合专业软件，为自适应光学及光束质量分析提供高速、可靠的测量方案。
产品概述
WFS31-14AR/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器，旨在为复杂光学系统提供精确的波前表征。该传感器基于Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高灵敏度CMOS图像传感器探测每个子孔径的焦斑位移，从而精确重建出完整的波前相位分布。
本产品配备11.25 mm × 7.03 mm的大尺寸有效传感器面积，结合300 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400至900 nm宽光谱范围内实现超过1500个子孔径的密集采样。其波前精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200 λ，能够满足从精密光学检测到自适应光学闭环控制等多种严苛应用需求。USB 3.0接口与外部触发功能确保了数据传输的高速性与同步性，配套的专业WaveFront分析软件则让用户能够轻松完成波前重建、像差分析及数据导出。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理的高精度波前测量，精度优于λ/100 RMS
- 采用300 µm间距增透膜微透镜阵列，提供超1500个子孔径的高空间分辨率
- 大动态范围设计，波前动态范围大于200 λ，适应复杂像差测量
- 高性能CMOS图像传感器，支持全孔径波前大于10 Hz的高速帧率
- 配备USB 3.0高速接口与外部触发输入，确保系统同步与即插即用
- 提供专业WaveFront分析软件，支持波前重建、Zernike像差分析及实时显示
- 11.25 mm × 7.03 mm大面积孔径，满足大光束口径的波前检测需求
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 孔径尺寸 | 11.25 mm x 7.03 mm |
| 微透镜阵列间距 | 300 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 微透镜数量 | >1500个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 10 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS31-14AR/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射光束通过微透镜阵列后，被分割成多个子光束并聚焦在CMOS传感器靶面上形成焦斑阵列。当入射波前存在像差时，局部波前倾斜会导致焦斑偏离理想位置。通过精确计算每个焦斑的位移量，系统能够实时、准确地反演出整个波前的三维相位分布，实现高精度的波前重建。
增透膜微透镜阵列技术
本产品配备了专为400-900 nm宽光谱优化的增透膜微透镜阵列（MLA）。300 µm的阵列间距在空间分辨率与动态范围之间取得了理想平衡，提供超过1500个子孔径的密集采样。增透膜涂层有效降低了宽光谱范围内的表面反射损耗，显著提升了系统的整体光能利用率和信噪比，确保在微弱光信号下依然保持卓越的测量稳定性。
专业波前重建与软件分析
配套的WaveFront分析软件基于先进的波前重建算法，支持从原始焦斑图像到Zernike多项式系数的快速解算。软件界面直观，提供实时波前三维显示、点扩散函数（PSF）计算、斯特列尔比评估以及数据导出功能。结合USB 3.0高速传输与外部触发同步机制，该传感器能够完美融入自适应光学闭环控制系统或自动化光学检测产线。
应用领域
- 自适应光学闭环控制与波前校正
- 激光光束质量分析与光斑整形
- 精密光学元件面形与像差检测
- 天文望远镜主动光学系统校准
- 眼科医疗仪器与视觉科学研究
- 半导体光刻与微纳光学系统对准
订货信息
本产品型号为 WFS31-14AR/M，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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