Thorlabs WFS31-5C,WFS31大面积波前传感器,300 – 1100 nm

Thorlabs WFS31-5C,WFS31大面积波前传感器,300 – 1100 nm

¥46,223.00
SKU: WFS31-5C
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WFS31-5C – WFS31大面积波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 300 – 1100 nm · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-5C大面积波前传感器基于先进的Shack-Hartmann技术,专为高精度波前测量设计。设备采用高灵敏度CMOS图像传感器与精密微透镜阵列结合,实现对复杂光束波前的快速准确探测。其大面积孔径配合高速数据采集,为自适应光学及精密光学检测提供卓越的动态范围与精度,是科研与工业领域的理想选择。

产品概述

WFS31-5C是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器,专为需要宽视场和高精度波前重建的科研与工业应用而设计。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过精密的微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束,并利用高灵敏度CMOS图像传感器实时探测每个子孔径焦斑的位移情况,从而精确计算出整体波前的相位分布。

本系列传感器具备300至1100 nm的宽光谱响应范围,11.25 mm × 7.03 mm的大面积有效孔径可轻松容纳大尺寸光束。结合>1500个子孔径的高分辨率微透镜阵列与先进的波前重建算法,系统能够实现小于λ/100 RMS的极高波前测量精度,并提供超过200 λ的宽动态范围。此外,USB 3.0高速接口与专业WaveFront分析软件的结合,使得设备即插即用,大幅简化了系统集成与数据分析流程,广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测及光学元件面形分析等前沿领域。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度实时波前测量与重建
  • 提供小于λ/100 RMS的极高波前精度,满足严苛的光学检测需求
  • 具备超过200 λ的宽波前动态范围,适应复杂多变的波前畸变测量
  • 采用铬掩膜微透镜阵列设计,支持多种MLA配置以平衡分辨率与动态范围
  • 搭载USB 3.0高速接口与外部触发输入,确保高速数据稳定传输与精准同步
  • 配备专业WaveFront分析软件,提供直观的波前可视化与全面的数据分析功能
  • 11.25 mm × 7.03 mm大面积CMOS传感器,支持大尺寸光束的全孔径波前探测

技术规格

技术参数 规格值
产品型号 WFS31-5C
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 300 – 1100 nm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 铬掩膜微透镜阵列
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 8-32英制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-5C采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。当待测波前穿过微透镜阵列时,光束被分割成多个子孔径。每个子孔径的光束聚焦在CMOS传感器上形成焦斑阵列。通过精确计算每个焦斑相对于理想参考位置的位移量,系统能够实时、高精度地重构出整个波前的三维相位分布,为光学系统的像差分析提供可靠依据。

精密微透镜阵列与大面积探测

该传感器配备了150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列,有效抑制了杂散光干扰,显著提升了信噪比。11.25 mm × 7.03 mm的大面积有效传感器区域,使其能够轻松应对大口径光学元件或扩束激光的波前检测需求。超过1500个子孔径的密集排布,确保了空间分辨率与测量精度的完美平衡。

专业波前重建算法与软件分析

配套的WaveFront分析软件内置先进的波前重建算法,支持Zernike多项式拟合与波前峰谷值、RMS值等关键参数的实时计算。软件界面直观,提供二维/三维波前等高线图、点扩散函数(PSF)及调制传递函数(MTF)等多种可视化分析工具,极大简化了从数据采集到结果输出的工作流程。

应用领域

  • 自适应光学系统中的实时波前探测与闭环校正
  • 高功率及超快激光光束质量(M2因子、光束发散角)检测
  • 精密光学元件(如透镜、反射镜)的面形误差与像差分析
  • 天文望远镜主镜面形监测与大气湍流波前校正
  • 半导体光刻机光学系统装调与像差标定
  • 眼科医疗中的角膜地形图与眼内像差测量

订货信息

本产品型号为 WFS31-5C,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

描述

WFS31-5C – WFS31大面积波前传感器

Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 300 – 1100 nm · 11.25 mm x 7.03 mm

WFS31-5C大面积波前传感器基于先进的Shack-Hartmann技术,专为高精度波前测量设计。设备采用高灵敏度CMOS图像传感器与精密微透镜阵列结合,实现对复杂光束波前的快速准确探测。其大面积孔径配合高速数据采集,为自适应光学及精密光学检测提供卓越的动态范围与精度,是科研与工业领域的理想选择。

产品概述

WFS31-5C是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器,专为需要宽视场和高精度波前重建的科研与工业应用而设计。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理,通过精密的微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束,并利用高灵敏度CMOS图像传感器实时探测每个子孔径焦斑的位移情况,从而精确计算出整体波前的相位分布。

本系列传感器具备300至1100 nm的宽光谱响应范围,11.25 mm × 7.03 mm的大面积有效孔径可轻松容纳大尺寸光束。结合>1500个子孔径的高分辨率微透镜阵列与先进的波前重建算法,系统能够实现小于λ/100 RMS的极高波前测量精度,并提供超过200 λ的宽动态范围。此外,USB 3.0高速接口与专业WaveFront分析软件的结合,使得设备即插即用,大幅简化了系统集成与数据分析流程,广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测及光学元件面形分析等前沿领域。

核心特性

  • 基于Shack-Hartmann原理,实现高精度实时波前测量与重建
  • 提供小于λ/100 RMS的极高波前精度,满足严苛的光学检测需求
  • 具备超过200 λ的宽波前动态范围,适应复杂多变的波前畸变测量
  • 采用铬掩膜微透镜阵列设计,支持多种MLA配置以平衡分辨率与动态范围
  • 搭载USB 3.0高速接口与外部触发输入,确保高速数据稳定传输与精准同步
  • 配备专业WaveFront分析软件,提供直观的波前可视化与全面的数据分析功能
  • 11.25 mm × 7.03 mm大面积CMOS传感器,支持大尺寸光束的全孔径波前探测

技术规格

技术参数 规格值
产品型号 WFS31-5C
传感器类型 CMOS图像传感器
波前测量原理 Shack-Hartmann波前传感法
波长范围 300 – 1100 nm
微透镜阵列间距 150 µm
微透镜类型 铬掩膜微透镜阵列
孔径尺寸 11.25 mm x 7.03 mm
微透镜数量 >1500个子孔径
波前精度 < λ/100 RMS(典型值)
波前动态范围 > 200 λ
最大帧率 > 10 Hz(全孔径波前)
接口类型 USB 3.0
触发方式 外部触发输入
安装螺纹 8-32英制螺孔
工作温度 0°C – 45°C

注:以上参数为典型值,具体以产品 datasheet 为准。

产品详细说明

Shack-Hartmann波前测量原理

WFS31-5C采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。当待测波前穿过微透镜阵列时,光束被分割成多个子孔径。每个子孔径的光束聚焦在CMOS传感器上形成焦斑阵列。通过精确计算每个焦斑相对于理想参考位置的位移量,系统能够实时、高精度地重构出整个波前的三维相位分布,为光学系统的像差分析提供可靠依据。

精密微透镜阵列与大面积探测

该传感器配备了150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列,有效抑制了杂散光干扰,显著提升了信噪比。11.25 mm × 7.03 mm的大面积有效传感器区域,使其能够轻松应对大口径光学元件或扩束激光的波前检测需求。超过1500个子孔径的密集排布,确保了空间分辨率与测量精度的完美平衡。

专业波前重建算法与软件分析

配套的WaveFront分析软件内置先进的波前重建算法,支持Zernike多项式拟合与波前峰谷值、RMS值等关键参数的实时计算。软件界面直观,提供二维/三维波前等高线图、点扩散函数(PSF)及调制传递函数(MTF)等多种可视化分析工具,极大简化了从数据采集到结果输出的工作流程。

应用领域

  • 自适应光学系统中的实时波前探测与闭环校正
  • 高功率及超快激光光束质量(M2因子、光束发散角)检测
  • 精密光学元件(如透镜、反射镜)的面形误差与像差分析
  • 天文望远镜主镜面形监测与大气湍流波前校正
  • 半导体光刻机光学系统装调与像差标定
  • 眼科医疗中的角膜地形图与眼内像差测量

订货信息

本产品型号为 WFS31-5C,下单时请提供完整型号。

如需定制特殊规格或批量采购,请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。

所有产品均提供原厂正品保证,附带完整的产品资料和售后支持。

常见问题 (FAQ)

Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么?

A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列(MLA)和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径,每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量,可以计算出每个子孔径内的波前斜率,再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。

Q2: 不同微透镜阵列间距(150µm vs 300µm)有什么区别?

A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率(更多子孔径),适合测量细节丰富、变化剧烈的波前,但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大,波前动态范围更大,可以测量更严重的像差,但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。

Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别?

A: WFS20是高速系列,具有最高的测量帧率,适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列,拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径,适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列,拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径,提供最大的测量面积和最多的子孔径数量,适合大口径圆形光束的高精度波前测量。

Q4: 产品的保修期是多久?

A: 本产品享受原厂标准保修服务,保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障,我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。

免责声明

本产品信息仅供参考,实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更,恕不另行通知。

由于不同测量环境和设备的差异,产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书,如有疑问请联系客服确认。

本产品仅用于科研、工业等合法用途,不得用于任何违反国家法律法规的场合。

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