WFS31-K1/M – WFS31大面积波前传感器套件
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.25 mm x 7.03 mm
WFS31-K1/M大面积波前传感器套件基于Shack-Hartmann技术，结合高灵敏度CMOS传感器与可更换微透镜阵列，实现高精度、高速波前测量。其11.25 mm × 7.03 mm大孔径提供超1500个子孔径，波前精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200λ。USB 3.0接口与专业软件使其成为光学检测的理想选择。
产品概述
WFS31-K1/M是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器套件，专为复杂光学系统的波前分析与校正而设计。该产品采用先进的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高帧率CMOS图像传感器精确探测每个子孔径的焦斑位移，从而实时重建出完整的三维波前信息。
本套件提供150 µm间距铬掩膜和300 µm间距增透膜两种微透镜阵列（MLA），用户可根据空间分辨率与动态范围的需求灵活切换。其11.25 mm × 7.03 mm的有效传感器面积确保了大光束的完整捕获，波前精度高达λ/100 RMS。凭借USB 3.0高速接口、外部触发功能以及功能强大的WaveFront分析软件，WFS31-K1/M广泛应用于激光光束质量分析、自适应光学系统、光学元件面形检测及眼科医疗等前沿领域。
核心特性
- Shack-Hartmann原理：基于经典Shack-Hartmann波前传感法，实现高精度、实时的三维波前重建
- 卓越测量精度：波前测量精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200λ，满足严苛的光学检测需求
- 灵活MLA配置：套件包含150 µm铬掩膜与300 µm增透膜两种微透镜阵列，平衡空间分辨率与动态范围
- 大面积高灵敏度：11.25 mm × 7.03 mm大孔径CMOS传感器，提供超1500个子孔径，支持大光束完整测量
- 高速数据传输：配备USB 3.0接口，支持全孔径波前大于10 Hz的高帧率采集与外部触发输入
- 专业分析软件：内置WaveFront分析软件，提供直观的波前显示、泽尼克多项式拟合及像差分析功能
- 便捷系统集成：采用M4公制螺孔设计，结构紧凑，易于集成到各类光学平台与自适应光学系统中
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 300 – 1100 nm（铬掩膜）/ 400 – 900 nm（增透膜） |
| 孔径尺寸 | 11.25 mm x 7.03 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm / 300 µm（双配置） |
| 子孔径数量 | >1500个（150 µm间距） |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 10 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
| 配套软件 | WaveFront分析软件 |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS31-K1/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经微透镜阵列分割为多个子光束，聚焦于CMOS传感器形成焦斑阵列。当波前存在像差时，焦斑位置发生偏移。系统通过算法计算各焦斑相对于参考位置的位移量，推导局部波前斜率，精确重建完整的波前相位分布。
灵活的微透镜阵列配置
套件配备两种微透镜阵列以适应不同场景。150 µm间距铬掩膜MLA提供超1500个子孔径，具备极高空间分辨率，适合精细像差分析；300 µm间距增透膜MLA具有更大焦斑位移容限，可测量更陡峭波前，提供更大动态范围。用户可快速更换MLA，实现分辨率与动态范围的最佳平衡。
强大的重建算法与软件
配套WaveFront分析软件基于先进重建算法，实时处理焦斑图像。支持Zernike多项式拟合、PV和RMS等参数计算，提供三维波前形貌、二维相位图及点扩散函数分析。结合USB 3.0高速传输与外部触发功能，确保在动态光学测试中实现精准的时间同步与数据捕获。
应用领域
- 自适应光学系统波前校正与闭环控制
- 激光光束质量分析与聚焦光斑表征
- 光学元件面形检测与像差评估
- 眼科医疗中的角膜地形图与波前像差测量
- 天文望远镜主镜波前误差实时监测
- 半导体光刻机光学系统装调与检测
订货信息
本产品型号为 WFS31-K1/M，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
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