WFS40-7AR – WFS40方形孔径波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.26 mm
WFS40-7AR方形孔径波前传感器基于高精度Shack-Hartmann技术，专为复杂光学系统的波前测量与校正设计。设备采用高灵敏度CMOS传感器与镀增透膜微透镜阵列，实现400-900nm宽光谱内的高速波前探测。其出色的波前精度与动态范围，结合USB 3.0接口，为自适应光学及精密光学检测提供卓越性能保障。
产品概述
WFS40-7AR是WFS40方形孔径系列中的高性能Shack-Hartmann波前传感器，广泛应用于精密光学测量与光束质量分析。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径，并利用高帧率CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦点的位移量，从而快速重建出完整的二维波前相位分布。
WFS40-7AR配备11.26 mm方形有效孔径与150 µm间距的镀增透膜微透镜阵列，在400至900 nm波长范围内提供优异的透射率与测量精度。其波前精度优于λ/100 RMS，动态范围超过200 λ，能够满足从微弱像差到大畸变波前的宽范围测量需求。结合USB 3.0即插即用接口与专业波前分析软件，该传感器可轻松集成至各类光学实验平台，是自适应光学、激光光束检测、光学元件面形评估等领域的理想选择。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度、高空间分辨率的二维波前相位测量与重建。
- 采用高灵敏度CMOS图像传感器，支持全孔径波前高速动态测量，满足实时校正需求。
- 配备镀增透膜的微透镜阵列，在400-900 nm宽光谱范围内保持高透射率与低杂散光。
- 具备卓越的波前精度（ 200 λ），适应复杂像差环境。
- 支持USB 3.0高速数据传输与外部触发输入，确保多设备同步与即插即用的便捷集成。
- 提供专业WaveFront分析软件，支持实时波前显示、Zernike多项式拟合及数据导出。
- 11.26 mm方形孔径与8-32英制螺孔设计，便于与各类光学机械系统无缝集成。
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜类型 | 镀增透膜微透镜阵列 |
| 微透镜数量 | >2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
| 配套软件 | WaveFront分析软件 |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-7AR采用Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经微透镜阵列分割为多个子光束，在CMOS传感器上形成光斑阵列。当波前存在像差时，局部倾斜导致光斑偏离参考位置。系统通过质心算法计算光斑位移，反演波前相位分布，实现高精度测量。
微透镜阵列与光学设计
该传感器配备150 µm间距的微透镜阵列，提供超2000个子孔径，确保高空间分辨率。微透镜镀有宽带增透膜，针对400-900 nm波段优化，大幅降低反射损耗。11.26 mm方形孔径与8-32英制螺孔设计，便于无缝集成至各类光学系统。
波前重建算法与软件功能
配套WaveFront软件集成先进重建算法，支持实时显示波前形貌与光斑图像。用户可通过Zernike多项式拟合分析像差成分，并支持外部触发同步。USB 3.0接口保障数据高速传输，满足自适应光学闭环控制的实时性要求。
应用领域
- 自适应光学系统波前校正与闭环控制
- 激光光束质量分析与整形评估
- 光学元件面形检测与像差测量
- 眼科医疗中的角膜地形图与波前像差分析
- 天文望远镜主镜波前检测与主动光学
- 半导体光刻机光学系统装调与检测
订货信息
本产品型号为 WFS40-7AR，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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