WFS40-K2 – WFS40方形孔径波前传感器套件
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 11.26 mm
WFS40-K2方形孔径波前传感器套件基于Shack-Hartmann原理，提供高精度波前测量能力。该套件采用高灵敏度CMOS图像传感器，结合可更换的增透膜微透镜阵列设计，实现高速、高分辨率的波前探测。其11.26 mm方形孔径与灵活的微透镜配置，完美平衡了测量精度与动态范围，是复杂光学系统波前分析与校正的理想选择。
产品概述
WFS40-K2是一款高性能的方形孔径Shack-Hartmann波前传感器套件，专为精密光学测量与自适应光学系统打造。其核心测量原理基于Shack-Hartmann波前传感法：入射波前被微透镜阵列分割成多个子孔径光束，CMOS图像传感器实时探测各子孔径在焦平面上的焦点位移，进而通过波前重建算法精确计算出整体波前像差。
该套件标配150 µm和300 µm两种间距的镀增透膜微透镜阵列，用户可根据应用需求灵活切换，在空间分辨率与动态范围之间取得最佳平衡。凭借小于λ/100 RMS的卓越波前精度、大于200 λ的超宽动态范围以及USB 3.0高速数据传输接口，WFS40-K2能够轻松应对从静态像差分析到动态波前跟踪的各类挑战。产品广泛应用于激光光束质量评估、光学元件面形检测、自适应光学校正及眼科医疗等前沿领域。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度、非接触式波前像差实时测量
- 卓越的波前精度（ 200 λ）
- 标配150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列，灵活平衡分辨率与动态范围
- 采用高灵敏度CMOS传感器，支持全孔径波前高速测量与实时分析
- 配备USB 3.0高速接口与外部触发输入，确保数据传输高效与多设备同步
- 11.26 mm方形有效孔径，提供超过2000个子孔径的高密度波前采样
- 附带专业WaveFront分析软件，提供直观的波前重建、Zernike多项式拟合及3D显示
- 完整的即插即用套件设计，包含传感器主机、双MLA、线缆及软件，快速部署
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm（增透膜MLA） |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm / 300 µm（套件包含两种） |
| 微透镜类型 | 镀增透膜微透镜阵列 |
| 微透镜数量 | > 2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-K2采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。当待测波前进入传感器时，首先通过微透镜阵列被分割成数百至数千个子光束。每个子光束在CMOS传感器焦平面上形成独立的焦点阵列。如果入射波前为理想平面波，焦点将呈现完美的规则排列；若波前存在像差，各焦点将发生相应的横向位移。通过精确测量这些位移量，系统即可反演出整个波前的相位分布。
灵活的微透镜阵列配置
本套件提供150 µm和300 µm两种间距的增透膜微透镜阵列。150 µm间距的MLA提供更高的空间分辨率，适合检测高频像差和精细波前特征；300 µm间距的MLA则具有更大的子孔径，能够测量更陡峭的波前斜率，从而提供更大的动态范围。用户可根据具体测试需求快速更换MLA，实现分辨率与动态范围的最佳平衡。
强大的波前重建与分析软件
配套的专业WaveFront分析软件具备强大的数据处理能力。软件内置高效的波前重建算法，支持Zernike多项式拟合、峰谷值（PV）及均方根（RMS）计算。用户界面直观，可实时显示二维波前等高线图、三维波前形貌图及光斑阵列分布，并支持数据导出与外部触发同步，为光学系统的装调、检测与闭环控制提供可靠的数据支撑。
应用领域
- 自适应光学系统闭环校正
- 激光光束质量与发散角检测
- 光学元件面形与像差评估
- 眼科医疗与视觉光学测量
- 望远镜及天文光学系统波前校正
- 半导体光刻与精密光学系统装调
订货信息
本产品型号为 WFS40-K2，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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