BCIR1/M – SWIR相机式光束轮廓仪
Thorlabs 原厂品质 · InGaAs焦平面阵列 · InGaAs FPA (焦平面阵列) · 900 – 1700 nm · Ø120 µm – Ø15.0 mm
BCIR1/M是一款专为短波红外（SWIR）应用设计的高性能相机式光束轮廓仪。它采用高灵敏度InGaAs焦平面阵列传感器，完美覆盖900至1700nm近红外及短波红外波段。凭借卓越的二维光束测量能力与极低噪声，该设备能精准捕捉微弱红外光斑，为红外激光器和光纤通信系统提供可靠的光束质量分析。
产品概述
BCIR1/M SWIR相机式光束轮廓仪专为短波红外波段的光束分析而设计，是红外激光研发与生产测试的理想选择。该产品采用先进的InGaAs焦平面阵列（FPA）传感器技术，利用铟镓砷材料在900至1700nm波段的高量子效率，实现了对近红外及短波红外光的高灵敏度真二维成像。
相较于传统的扫描式或单点探测器，InGaAs FPA技术能够一次性捕获整个光束截面的强度分布，极大提升了测量效率与空间分辨率。其12.3 MP的高分辨率和3.45 µm的微小像素尺寸，确保了从Ø120 µm到Ø15.0 mm宽范围光束尺寸的精准测量。无论是评估光纤通信系统中的光斑质量，还是分析半导体加工中的红外激光轮廓，BCIR1/M都能提供卓越的光束表征能力，助力用户优化光学系统设计。
核心特性
- 采用高灵敏度InGaAs焦平面阵列（FPA）传感器，实现真二维光束成像
- 宽光谱覆盖900-1700nm短波红外（SWIR）及近红外波段
- 12.3 MP高分辨率（4096×3000），像素尺寸仅3.45 µm，细节捕捉更精准
- 支持Ø120 µm至Ø15.0 mm宽范围光束直径的高精度测量
- 配备USB 3.0高速接口，支持高达30 fps帧率与外部触发输入
- 具备>60 dB高动态范围与14 bit位深，真实还原微弱光强分布
- 兼容SM2螺纹及30 mm笼式系统，轻松集成至各类光学平台
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | InGaAs焦平面阵列（FPA） |
| 波长范围 | 900 – 1700 nm |
| 相机分辨率 | 12.3 MP (4096×3000) |
| 像素尺寸 | 3.45 µm × 3.45 µm |
| 传感器尺寸 | 15.0 mm × 11.0 mm |
| 光束直径范围 | Ø120 µm – Ø15.0 mm |
| 最大帧率 | 30 fps |
| 曝光时间 | 0.05 ms – 200 ms |
| 动态范围 | >60 dB |
| 位深 | 14 bit |
| 数据接口 | USB 3.0 / Camera Link |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 机械接口 | SM2螺纹 / 30 mm笼式兼容 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
InGaAs成像原理与工作机制
BCIR1/M的核心在于其InGaAs焦平面阵列传感器。当900至1700nm的短波红外光子入射到传感器表面时，InGaAs材料凭借其窄带隙特性，能够高效吸收光子并产生电子-空穴对，从而实现光电转换。这种面阵成像机制使得相机能够同时记录光束横截面上每个像素点的光强信息，构建出高分辨率的二维光束轮廓图。
卓越的性能优势
得益于先进的InGaAs工艺，该传感器在SWIR波段展现出极高的量子效率和极低的暗电流噪声。结合14 bit的高位深和大于60 dB的动态范围，BCIR1/M能够精准分辨光束中心的高亮区域与边缘的微弱光晕，真实还原红外激光的精细结构。此外，高达30 fps的帧率和灵活的外部触发功能，确保了动态光束和脉冲激光的同步稳定捕获。
强大的光束分析软件
配套的专业光束分析软件提供了全面的数据处理功能。用户可实时计算光束宽度、椭圆度、质心位置及功率分布等关键参数。软件支持多种光斑拟合算法，并能一键生成符合ISO标准的测试报告，极大简化了红外激光系统的调试与质量控制流程。
应用领域
- 光纤通信系统光斑质量与耦合效率分析
- 半导体加工与红外激光切割光束轮廓评估
- 短波红外激光器研发与生产线光束表征
- 红外光束整形与衍射光学元件（DOE）测试
- 光谱分析仪器中的光路对准与光斑监控
- 高校及科研院所的先进红外光学实验
订货信息
本产品型号为 BCIR1/M，下单时请提供完整型号。
如需定制特殊规格或批量采购，请联系我们的销售人员获取报价和货期信息。
所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: SWIR相机式光束轮廓仪与CMOS相机式有什么区别？
A: SWIR相机式光束轮廓仪采用InGaAs焦平面阵列（FPA）传感器，工作在900-1700nm短波红外波段，专门用于测量红外激光、光纤通信波段的光束。而CMOS相机式主要工作在可见光-近紫外波段（约200-1100nm）。两者传感器技术、响应波段和适用场景完全不同，应根据实际激光波长选择。
Q2: 为什么SWIR波段的光束轮廓仪价格更高？
A: SWIR光束轮廓仪使用InGaAs焦平面阵列（FPA）传感器，相比硅基CMOS传感器，InGaAs材料的外延生长和芯片制造工艺更为复杂，成本更高。此外，SWIR波段的光学窗口、滤光片等配套元件也需要特殊的红外材料，进一步推高了整体成本。但其在红外激光、光纤通信等领域的测量能力是可见光相机无法替代的。
Q3: 可以测量脉冲激光吗？
A: 可以。SWIR相机式光束轮廓仪支持连续光（CW）和脉冲光测量，具备外部触发输入功能，可通过TTL信号实现单脉冲触发捕捉。具体触发频率范围和最短曝光时间取决于型号规格，可参考产品技术参数。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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