WFS31-14AR – WFS31大面积波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.25 mm x 7.03 mm
WFS31-14AR大面积波前传感器基于Shack-Hartmann技术，专为高精度波前测量设计。采用高性能CMOS图像传感器与300 µm间距增透膜微透镜阵列，结合大孔径设计，实现卓越的光学探测能力。其高速数据采集与高波前精度优势，可满足复杂光学系统对动态波前监测的严苛需求，是自适应光学与光束质量分析的理想选择。
产品概述
WFS31-14AR是一款高性能的大面积Shack-Hartmann波前传感器，专为复杂光学系统的波前分析与校正而设计。该产品基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束，并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子孔径焦斑的位移量，从而实时重建出完整的二维波前相位分布。
本传感器配备11.25 mm × 7.03 mm大尺寸有效探测区域与400-900 nm宽光谱增透膜微透镜阵列，支持超过1500个子孔径的高分辨率测量。其波前测量精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200λ，能够轻松应对从微弱像差到剧烈波前畸变的各类测量场景。结合USB 3.0高速接口与专业分析软件，WFS31-14AR可广泛应用于自适应光学、激光光束质量检测及光学元件面形评估等前沿领域。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度二维波前相位实时重建
- 波前测量精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200λ
- 配备11.25 mm × 7.03 mm大孔径与300 µm间距增透膜微透镜阵列
- 采用高灵敏度CMOS传感器，支持全孔径波前高速测量
- USB 3.0即插即用接口，支持外部触发同步采集
- 配套专业WaveFront分析软件，提供丰富的波前重建与评估工具
- 8-32英制螺孔设计，便于灵活集成至各类光学系统中
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 400 – 900 nm |
| 微透镜阵列间距 | 300 µm |
| 微透镜类型 | 增透膜微透镜阵列 |
| 孔径尺寸 | 11.25 mm x 7.03 mm |
| 微透镜数量 | >1500个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 10 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS31-14AR采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经微透镜阵列分割为多个子孔径光束，每个子透镜将局部波前聚焦在CMOS传感器上形成光斑阵列。当波前存在像差时，焦斑位置相对理想参考位置产生位移。通过精确计算位移量，系统反演出波前斜率分布，进而重建出高精度的波前相位图。
大面积增透膜微透镜阵列技术
本产品配备11.25 mm × 7.03 mm大尺寸探测区域，结合300 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400-900 nm宽光谱内具备极高透过率。该设计提供超1500个子孔径的高空间分辨率，有效减少杂散光干扰，确保弱光条件下的信噪比，实现大动态范围与高分辨率的平衡。
波前重建算法与分析软件
配套WaveFront分析软件基于先进的Zernike多项式拟合算法，实时完成波前重建。软件支持波前3D显示、Zernike系数分解及PV、RMS等关键参数自动评估。结合USB 3.0高速传输与外部触发功能，完美满足动态波前监测与闭环控制系统的时序要求。
应用领域
- 自适应光学系统中的实时波前探测与闭环校正
- 高功率及超快激光器的光束质量与模式分析
- 精密光学元件面形检测与透镜像差评估
- 眼科医疗中的角膜地形图与眼内像差测量
- 天文望远镜主镜波前校正与星点像质分析
- 半导体光刻机光学系统装调与像差监控
订货信息
本产品型号为 WFS31-14AR，下单时请提供完整型号。
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所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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