WFS40-14AR – WFS40方形孔径波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 400 – 900 nm · 11.26 mm
WFS40-14AR方形孔径波前传感器基于Shack-Hartmann技术，专为高精度波前测量设计。采用高性能CMOS传感器与镀增透膜微透镜阵列，实现亚纳米级波前探测。其紧凑设计与高速数据采集能力，使其成为自适应光学、激光光束质量分析及精密光学检测的理想选择，提供卓越的波前重建解决方案。
产品概述
WFS40-14AR是一款高性能的Shack-Hartmann波前传感器，专为复杂光学系统的波前表征与校正而设计。该传感器基于经典的Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子孔径光束，并利用高灵敏度CMOS图像传感器精确探测各子光束在焦平面上的光斑位移。通过计算光斑偏移量，系统能够实时、高精度地重建出完整的二维波前相位分布。
本产品配备11.26 mm方形有效孔径与300 µm间距的增透膜微透镜阵列，在400至900 nm宽光谱范围内提供超过2000个子孔径的密集采样。结合USB 3.0高速接口与外部触发功能，WFS40-14AR能够实现动态波前的实时捕捉。其紧凑的机械结构与8-32英制螺孔设计，便于无缝集成至各类光学平台与自适应光学系统中，广泛应用于激光光束质量检测、光学元件面形评估及科研级光学实验。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，实现高精度、高分辨率的二维波前实时测量与重建
- 卓越的波前性能，典型波前精度优于λ/100 RMS，动态范围大于200 λ
- 采用镀增透膜的微透镜阵列，在400-900 nm宽光谱范围内保持高透射率与低杂散光
- 高性能CMOS传感器提供超过2000个子孔径采样，兼顾高空间分辨率与大动态范围
- 配备USB 3.0接口与外部触发输入，支持高速数据传输与同步测量
- 提供专业WaveFront分析软件，支持多种波前重建算法与直观的图形化数据展示
- 紧凑的11.26 mm方形孔径设计与标准8-32英制螺孔，易于集成至各类光学系统中
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 工作波长范围 | 400 – 900 nm |
| 微透镜阵列间距 | 300 µm |
| 微透镜类型 | 镀增透膜微透镜阵列 |
| 有效孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 子孔径数量 | >2000个 |
| 波前测量精度 | < λ/100 RMS (典型值) |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz (全孔径波前) |
| 数据接口 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 机械安装 | 8-32英制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-14AR采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后，被分割成多个独立的子光束。每个子透镜将对应的波前局部区域聚焦到CMOS传感器上形成光斑。当入射波前存在像差或畸变时，各子光束的聚焦点将偏离理想光轴位置。通过精确计算每个光斑的实际位移量，系统能够反演出局部波前的斜率，进而通过数学积分算法重建出完整的波前相位分布。
高性能微透镜阵列与CMOS探测
本传感器配备了间距为300 µm的增透膜微透镜阵列，在400至900 nm的宽光谱范围内具有极高的透射率，有效减少了杂散光和鬼影干扰。结合高灵敏度CMOS图像传感器，系统可生成超过2000个子孔径的密集采样数据。这种设计不仅保证了极高的空间分辨率，还通过优化光斑质心算法，实现了优于λ/100 RMS的波前测量精度和超过200 λ的超大动态范围。
专业波前重建算法与分析软件
WFS40-14AR配套专业的WaveFront分析软件，支持从原始光斑图像到最终波前相位图的全流程自动化处理。软件内置多种波前重建算法，可实时计算RMS、PV值等关键像差参数，并提供三维波前形貌、点扩散函数及斯特列尔比等直观的数据可视化界面，极大简化了复杂光学系统的调试与评估工作。
应用领域
- 自适应光学系统中的闭环波前校正与实时控制
- 高功率及超快激光光束质量检测
- 精密光学元件面形误差与透射波前畸变评估
- 天文望远镜主镜及次镜的波前对齐与校正
- 眼科医疗中的视网膜像差测量与视觉质量分析
- 半导体光刻机及显微成像系统的光学性能验证
订货信息
本产品型号为 WFS40-14AR，下单时请提供完整型号。
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所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
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由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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