WFS40-5C/M – WFS40方形孔径波前传感器
Thorlabs 原厂品质 · Shack-Hartmann波前传感 · CMOS图像传感器传感器 · 300 – 1100 nm · 11.26 mm
WFS40-5C/M方形孔径波前传感器基于经典的Shack-Hartmann原理，专为高精度波前测量设计。采用高分辨率CMOS图像传感器与150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列，实现300-1100 nm宽光谱范围内的快速、精确波前探测。其11.26 mm方形孔径与USB 3.0高速接口，为自适应光学和激光光束质量分析提供卓越性能。
产品概述
WFS40-5C/M是一款高性能方形孔径Shack-Hartmann波前传感器，专为复杂光学系统的高精度波前分析与校正而设计。该设备基于Shack-Hartmann波前传感原理，通过微透镜阵列将入射波前分割为多个子光束，并利用CMOS图像传感器精确探测各子光束在焦平面上的位移，从而实时重建出完整的波前相位分布。
本产品配备11.26 mm方形有效传感区域和150 µm间距的铬掩膜微透镜阵列，支持超过2000个子孔径的高空间分辨率测量。其波长覆盖300至1100 nm，结合USB 3.0高速数据传输与外部触发功能，能够满足动态波前的实时监测需求。广泛应用于自适应光学系统、激光光束质量检测、光学元件面形分析以及眼科医疗等前沿领域。
核心特性
- 基于Shack-Hartmann原理，提供< λ/100 RMS的高精度波前测量
- 采用CMOS传感器与铬掩膜微透镜阵列，实现>2000个子孔径的高分辨率探测
- 宽光谱响应（300-1100 nm），适应多种激光与宽带光源应用
- 具备>200 λ的大动态范围，满足复杂波前畸变的测量需求
- 支持USB 3.0即插即用与外部硬件触发，确保高速同步数据采集
- 配备专业WaveFront分析软件，提供实时波前重建、Zernike多项式拟合及3D可视化功能
技术规格
| 技术参数 | 规格值 |
|---|---|
| 传感器类型 | CMOS图像传感器 |
| 波前测量原理 | Shack-Hartmann波前传感法 |
| 波长范围 | 300 – 1100 nm |
| 孔径尺寸 | 11.26 mm × 11.26 mm |
| 微透镜阵列间距 | 150 µm |
| 微透镜类型 | 铬掩膜微透镜阵列 |
| 微透镜数量 | >2000个子孔径 |
| 波前精度 | < λ/100 RMS（典型值） |
| 波前动态范围 | > 200 λ |
| 最大帧率 | > 8 Hz（全孔径波前） |
| 接口类型 | USB 3.0 |
| 触发方式 | 外部触发输入 |
| 安装螺纹 | M4公制螺孔 |
| 工作温度 | 0°C – 45°C |
注：以上参数为典型值，具体以产品 datasheet 为准。
产品详细说明
Shack-Hartmann波前测量原理
WFS40-5C/M采用经典的Shack-Hartmann波前传感技术。入射波前经过微透镜阵列后，被分割成多个独立的子孔径光束。理想平面波会在CMOS传感器焦面上形成规则排列的焦斑阵列；当波前存在像差时，各子光束的焦斑会发生相应位移。系统通过精确计算这些焦斑的偏移量，即可高保真地重构出原始波前的三维相位分布。
高性能微透镜阵列与CMOS探测
本产品采用先进的铬掩膜微透镜阵列，有效消除子孔径间的串扰，提升光能利用率与测量信噪比。150 µm的阵列间距与11.26 mm的方形孔径设计，在空间分辨率与测量动态范围之间取得了极佳平衡。搭配高灵敏度CMOS图像传感器，不仅支持300-1100 nm的宽光谱探测，还能以超过8 Hz的帧率实现全孔径波前的实时动态捕捉。
专业波前重建算法与分析软件
配套的WaveFront分析软件内置强大的波前重建算法，支持Zernike多项式拟合、峰谷值（PV）及均方根（RMS）计算。软件界面直观，提供波前相位、斜率误差及点扩散函数（PSF）的实时3D可视化，并支持外部触发同步，完美契合自适应光学闭环控制与精密光学检测的严苛需求。
应用领域
- 自适应光学系统闭环校正
- 激光光束质量与模式分析
- 光学元件面形与像差检测
- 眼科医疗与视觉科学研究
- 天文望远镜波前校正
- 半导体光刻与精密光学对准
订货信息
本产品型号为 WFS40-5C/M，下单时请提供完整型号。
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所有产品均提供原厂正品保证，附带完整的产品资料和售后支持。
常见问题 (FAQ)
Q1: Shack-Hartmann波前传感器的工作原理是什么？
A: Shack-Hartmann波前传感器由微透镜阵列（MLA）和图像传感器组成。入射波前被微透镜阵列分割成许多子孔径，每个子透镜将入射光聚焦成一个光斑在传感器上。通过测量每个光斑相对于参考位置的偏移量，可以计算出每个子孔径内的波前斜率，再通过波前重建算法恢复出完整的波前相位分布。这是一种非接触、高速、高精度的波前测量技术。
Q2: 不同微透镜阵列间距（150µm vs 300µm）有什么区别？
A: 微透镜间距决定了空间分辨率和动态范围的平衡。150µm间距的微透镜阵列提供更高的空间分辨率（更多子孔径），适合测量细节丰富、变化剧烈的波前，但波前动态范围较小。300µm间距的微透镜阵列子孔径更大，波前动态范围更大，可以测量更严重的像差，但空间分辨率较低。用户可以根据被测波前的特征选择合适的MLA配置。
Q3: WFS20、WFS31、WFS40系列有什么区别？
A: WFS20是高速系列，具有最高的测量帧率，适合动态波前测量和实时反馈应用。WFS31是大面积矩形孔径系列，拥有11.25mm×7.03mm的矩形有效孔径，适合测量椭圆或非对称光束。WFS40是方形孔径系列，拥有11.26mm×11.26mm的方形有效孔径，提供最大的测量面积和最多的子孔径数量，适合大口径圆形光束的高精度波前测量。
Q4: 产品的保修期是多久？
A: 本产品享受原厂标准保修服务，保修期为自收货之日起12个月。保修期内因产品质量问题导致的故障，我们提供免费维修或更换服务。人为损坏或非正常使用不在保修范围内。
免责声明
本产品信息仅供参考，实际产品参数、外观及包装以原厂出货为准。产品规格如有变更，恕不另行通知。
由于不同测量环境和设备的差异，产品性能数据可能存在一定偏差。购买前请仔细阅读产品说明书，如有疑问请联系客服确认。
本产品仅用于科研、工业等合法用途，不得用于任何违反国家法律法规的场合。
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