描述

M2MS-BP209IR2/M是一款高性能的近红外至中红外M²光束质量测量系统，采用先进的双扫描狭缝技术。该系统专为900至2700 nm波长范围设计，支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸测量。凭借其卓越的精度与宽光谱适应性，广泛应用于激光研发、工业加工及科研领域的红外激光光束特性分析与质量控制。

产品概述

M2MS-BP209IR2/M M²光束质量测量系统是一款专为中近红外激光应用打造的高精度光束分析解决方案。系统核心搭载BP209-IR2/M双扫描狭缝光束轮廓仪，结合专用分析软件，能够全面、准确地评估激光束的空间分布与传输质量。

该系统覆盖900至2700 nm的宽光谱范围，能够轻松捕捉从高度聚焦的微小光斑（低至Ø2.5 µm）到较大尺寸光束（高达Ø9 mm）的轮廓信息。双狭缝扫描设计有效避免了传统阵列传感器在高功率或特定红外波段下的饱和与噪声问题，提供极高的空间分辨率和动态范围。配备的400-2700 nm宽带反射镜组件，确保了光路的高效耦合与稳定传输。无论是光纤激光器、固体激光器还是半导体激光器的研发与产线质检，M2MS-BP209IR2/M都能为您提供可靠的光束质量因子（M²）、发散角及束腰位置等关键参数，是红外激光表征的理想工具。

核心特性

• 双扫描狭缝技术：提供极高的空间分辨率，精准捕捉微小光斑细节
• 宽光谱覆盖：支持900 – 2700 nm波长范围，完美适配各类红外激光源
• 宽广测量范围：支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸，满足多样化测试需求
• 高动态范围：狭缝扫描设计有效避免传感器饱和，适应不同功率密度的光束
• 高效光路耦合：标配400 – 2700 nm宽带反射镜，确保红外光的高效反射与传输
• 全面光束分析：精准测量M²因子、束腰位置、发散角及椭圆度等关键参数
• 坚固耐用设计：公制(Metric)接口设计，便于集成到各类光学平台与自动化系统中

技术规格

产品型号	M2MS-BP209IR2/M
系统类型	M²光束质量测量系统（狭缝扫描式）
光束轮廓仪型号	BP209-IR2/M
扫描方式	双扫描狭缝 (Dual Scanning Slit)
工作波长范围	900 – 2700 nm
光束尺寸测量范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
配套反射镜波段	400 – 2700 nm
空间分辨率	亚微米级
扫描驱动	高速电机驱动，支持快速光束轮廓采集
机械接口标准	公制 (Metric)
适用激光类型	光纤激光器、固体激光器、半导体激光器等红外光源
核心测量参数	M²因子、束腰直径、发散角、瑞利长度、椭圆度
软件功能	支持实时数据采集、ISO标准拟合、数据导出与报告生成

产品详细说明

M2MS-BP209IR2/M M²光束质量测量系统代表了红外激光表征技术的高水准。其核心采用的双扫描狭缝技术，通过两个正交方向的高速移动狭缝对光束进行逐点扫描。这种非接触式的测量原理彻底消除了传统阵列传感器在红外波段面临的噪声干扰、像素串扰以及高功率下的热损伤风险，确保了在900至2700 nm波段内极高的测量保真度与重复性。

系统的光学设计充分考虑了红外光路的特殊性。标配的400-2700 nm宽带反射镜组件，不仅实现了从近红外到中红外波段的宽光谱兼容，还保证了光束在耦合进入扫描狭缝时的极低损耗与波前畸变控制。结合其Ø2.5 µm至Ø9 mm的超宽测量范围，无论是经过高数值孔径物镜聚焦的微小光斑，还是未经扩束的准直大光斑，系统均能轻松应对。

在软件与数据分析方面，M2MS-BP209IR2/M配备了功能强大的分析算法。系统能够实时计算并拟合光束传输曲线，精准提取M²因子、束腰位置、远场发散角等ISO标准定义的关键参数。公制（Metric）机械接口设计使其能够无缝集成到现有的光学面包板或自动化测试产线中，为激光器研发、光学系统调试及工业质量控制提供坚实的数据支撑。

应用领域

• 红外光纤激光器研发与质检
• 固体及半导体激光器光束特性分析
• 激光微加工与精密聚焦系统调试
• 医疗及科研用中近红外激光设备评估
• 自由空间光通信光束质量监测

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为M2MS-BP209IR2/M，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。