描述

BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪是一款专为可见光至近红外波段设计的高精度激光光束分析设备。其波长覆盖200至1100 nm，支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的宽范围光束尺寸测量。凭借双扫描狭缝技术，该仪器能够提供卓越的二维光束轮廓数据，广泛适用于激光加工、光学对准及科研领域的精确光束质量评估。

产品概述

BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪专为需要高精度二维光束轮廓分析的应用而设计。该设备采用先进的双扫描狭缝技术，能够在200至1100 nm的宽光谱范围内（涵盖紫外、可见光及近红外波段）实现卓越的光束测量。其光束尺寸测量范围从极小的Ø2.5 µm至Ø9 mm，轻松满足从微细激光束到常规聚焦光束的多样化测试需求。

作为专业的光束分析工具，BP209-VIS通过X-Y双轴正交扫描，精确捕捉光束的空间分布特征，帮助用户全面评估光束质量、发散角及能量集中度。其紧凑坚固的设计确保了在复杂实验室或工业环境中的长期稳定性。无论是用于激光系统的精密对准、光束整形验证，还是材料加工中的光斑监控，BP209-VIS都能提供可靠的数据支持，是提升光学系统性能的理想选择。

核心特性

• 宽光谱覆盖：支持200至1100 nm波长范围，适用于紫外、可见及近红外激光。
• 宽尺寸测量：精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸，满足微纳至常规光束需求。
• 双扫描狭缝技术：采用X-Y双轴正交扫描，提供高分辨率的二维光束轮廓数据。
• 高空间分辨率：能够精准捕捉微小光斑细节，确保光束质量评估的准确性。
• 稳定可靠设计：坚固的金属外壳与精密机械结构，保障复杂环境下的测量稳定性。
• 易于集成：紧凑尺寸与标准接口设计，轻松集成至各类光学平台与激光系统中。
• 多场景适用：广泛满足科研、工业激光加工及光学对准等领域的严苛测试需求。

技术规格

产品型号	BP209-VIS
产品类型	双扫描狭缝光束轮廓仪
扫描方式	双扫描狭缝
波长范围	200 – 1100 nm
光束尺寸范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
最小可测光束尺寸	Ø2.5 µm
最大可测光束尺寸	Ø9 mm
适用光谱波段	紫外至近红外
扫描维度	X-Y双轴正交扫描
数据接口	USB
配套软件	兼容主流光束分析软件
外壳材质	高稳定性金属外壳
安装方式	兼容标准光学平台
单位支持	英制与公制可选
产品定位	高精度科研与工业级

产品详细说明

BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪代表了激光光束分析领域的高精度解决方案。该设备的核心技术在于其精密的双扫描狭缝系统，通过两个相互正交的狭缝在X轴和Y轴上依次扫描入射光束，从而精确重建出激光的二维空间强度分布。这种设计不仅有效避免了传统相机式轮廓仪可能存在的饱和或非线性响应问题，还确保了在宽动态范围内的高线性度测量。

在光谱适应性方面，BP209-VIS覆盖了200至1100 nm的宽广波长范围，使其能够完美适配从深紫外到近红外的各类激光器。其光束尺寸测量范围从极小的Ø2.5 µm到Ø9 mm，这意味着无论是经过高倍物镜紧密聚焦的微米级光斑，还是准直后的毫米级光束，都能被精准捕捉与分析。

此外，BP209-VIS的机械结构经过精心优化，具备出色的抗干扰能力和长期稳定性。其紧凑的设计不仅节省了宝贵的光学平台空间，还便于在狭小的测试环境中进行安装与对准。结合兼容的数据接口与专业分析软件，用户可以快速获取光束宽度、椭圆度、质心位置等关键参数，为激光系统的调试、优化及质量控制提供不可或缺的数据支撑。

应用领域

• 激光加工与材料处理
• 光学系统精密对准
• 激光光束质量分析
• 科学研究与实验室测试
• 光通信与光电检测

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为BP209-VIS，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。