描述

BP209IR1/M双扫描狭缝光束轮廓仪是一款专为近红外至可见光波段设计的高精度光束分析设备。支持500至1700 nm波长范围，精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm光束尺寸。凭借双狭缝扫描技术，提供卓越空间分辨率，广泛适用于激光二极管、光纤系统及光学元件的研发与质控，是光束表征的理想选择。

产品概述

BP209IR1/M双扫描狭缝光束轮廓仪专为需要高精度光束尺寸和形状表征的光学应用而设计。该设备采用先进的双扫描狭缝技术，通过两个正交排列的狭缝对光束进行逐行扫描，从而实现对光束轮廓的高分辨率测量。其工作波长范围覆盖500至1700 nm，完美契合从可见光到近红外波段的多种激光光源分析需求。作为一款公制标准仪器，BP209IR1/M能够精确捕捉Ø2.5 µm至Ø9 mm范围内的微小至中等尺寸光束。双狭缝设计有效避免了传统相机型轮廓仪中常见的饱和、衍射环干扰及像素分辨率限制等问题，特别适合高斯光束、多模光束以及非对称光束的精确分析。无论是用于实验室研发还是生产线上的光束质量监控，该轮廓仪都能提供稳定、可靠且可重复的测量数据，助力用户优化光学系统性能。

核心特性

• 宽光谱响应：支持500 – 1700 nm波长范围，覆盖可见光至近红外波段。
• 双扫描狭缝技术：采用正交双狭缝设计，提供高空间分辨率和精确的光束轮廓重建。
• 宽广测量范围：精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸，适应多种光斑大小。
• 无饱和效应：基于机械扫描原理，避免相机型传感器的像素饱和与衍射环干扰。
• 公制标准设计：符合公制测量标准，便于工程计算与系统集成。
• 高精度表征：适用于高斯光束、多模光束及非对称光束的精确分析。
• 稳定可靠：机械扫描结构确保长期测量的稳定性和数据可重复性。

技术规格

产品型号	BP209IR1/M
产品类型	双扫描狭缝光束轮廓仪
扫描方式	双扫描狭缝
波长范围	500 – 1700 nm
最小光束尺寸	Ø2.5 µm
最大光束尺寸	Ø9 mm
测量单位	公制
适用光谱	可见光至近红外
光束分析能力	光束尺寸与形状表征
传感器类型	机械扫描狭缝
抗饱和能力	无像素饱和效应
适用光束类型	高斯/多模/非对称光束

产品详细说明

BP209IR1/M双扫描狭缝光束轮廓仪采用了精密的机械扫描原理，通过两个正交排列的狭缝在光束截面上进行高速扫描，从而精确获取光束在X和Y方向上的强度分布。这种设计从根本上克服了传统CCD或CMOS相机型轮廓仪在面对高功率或极小光斑时容易出现的像素饱和、暗电流噪声以及衍射环干扰等痛点，确保了测量数据的真实性和准确性。

该仪器的波长范围覆盖500至1700 nm，使其成为可见光到近红外波段激光光源分析的理想工具。其Ø2.5 µm至Ø9 mm的宽广测量范围，不仅能够轻松应对大尺寸准直光束的分析，更能精确捕捉微小的聚焦光斑，满足从光纤耦合到激光加工等多种严苛场景的需求。

在实际应用中，BP209IR1/M的公制设计完美契合现代光学工程的标准化需求。双狭缝结构提供了卓越的空间分辨率，能够精确计算光束的关键参数。无论是用于光学实验室的基础研究，还是生产线上的光束质量一致性监控，该轮廓仪都能为用户提供稳定、高效且可重复的光束表征解决方案。

应用领域

• 激光二极管与光纤耦合器表征
• 光学系统研发与光束质量监控
• 近红外与可见光激光器性能测试
• 激光加工与微纳制造光斑分析
• 光学元件透射与聚焦性能评估

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为BP209IR1/M，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。