描述

BP209-VIS/M 双扫描狭缝光束轮廓仪专为可见光至近红外波段的高精度光束分析设计。该产品提供200至1100 nm的宽波长范围支持，可精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸。凭借双狭缝扫描技术，它能有效捕捉复杂光束轮廓，广泛应用于激光系统调试、光学元件检测及科研领域，是光束质量评估的理想选择。

产品概述

BP209-VIS/M 是一款高性能的双扫描狭缝光束轮廓仪，专为满足现代光学系统对光束质量精确测量的严苛需求而设计。该设备覆盖200至1100 nm的宽广波长范围，能够兼容从紫外到近红外的多种激光源。其核心优势在于采用双扫描狭缝技术，结合高精度机械扫描机构，可实现对Ø2.5 µm至Ø9 mm范围内微小及中等尺寸光束的精准二维轮廓重建。作为公制标准的光束分析工具，BP209-VIS/M不仅具备出色的空间分辨率，还能有效避免传统相机型轮廓仪在高功率或复杂光束下易出现的饱和与衍射伪影问题。它通过快速、可靠的扫描机制，提供高动态范围的光束参数计算，包括束宽、椭圆度、质心位置及峰值强度等。无论是实验室研发还是工业产线的光学对准，BP209-VIS/M均能提供稳定、可重复的测量数据，助力用户全面掌握激光光束特性。

核心特性

• 宽光谱响应：支持200至1100 nm波长范围，兼容多种紫外至近红外激光源
• 双扫描狭缝技术：有效消除衍射伪影，提供高保真度的二维光束轮廓重建
• 宽广测量范围：精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸，满足微小到中等光束需求
• 高空间分辨率：微米级狭缝设计，确保对复杂光束边缘和细微结构的精准捕捉
• 高动态范围：有效避免探测器饱和问题，真实还原光束强度分布
• 公制标准设计：紧凑的机械结构与标准化接口，便于集成至各类光学平台
• 实时数据分析：快速计算束宽、椭圆度、质心等关键光束参数

技术规格

波长范围	200 – 1100 nm
光束尺寸范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
扫描方式	双扫描狭缝
空间分辨率	典型值 2.5 µm
狭缝宽度	2.5 µm / 5 µm / 10 µm
扫描频率	50 Hz
动态范围	典型值 60 dB
数据接口	USB 2.0
适用软件	兼容主流光束分析软件
外壳材质	阳极氧化铝
尺寸 (L x W x H)	130 mm x 130 mm x 52 mm
重量	约 1.2 kg
工作温度	0 °C 至 40 °C
存储温度	-20 °C 至 60 °C
供电方式	USB 供电
最大输入功率	100 mW (连续波)
光束入射接口	SM1螺纹接口
测量维度	X-Y 二维扫描

产品详细说明

BP209-VIS/M 双扫描狭缝光束轮廓仪采用了精密的机械扫描与狭缝光阑相结合的技术原理。与传统基于阵列探测器的相机型轮廓仪不同，该设备通过两个正交方向上高速移动的微米级狭缝对入射光束进行逐线扫描。这种设计从根本上避免了像素化探测器带来的混叠效应和衍射伪影，特别适合测量具有复杂空间分布或高对比度的激光光束。在200至1100 nm的宽光谱范围内，BP209-VIS/M展现出卓越的探测灵敏度与线性度。其Ø2.5 µm至Ø9 mm的测量范围使其能够轻松应对从高度聚焦的微米级光斑到准直良好的毫米级光束。设备内置的狭缝组件不仅提供了极高的空间分辨率，还结合高动态范围探测器，确保了在强光或弱光条件下均能获取真实的光强分布数据。此外，BP209-VIS/M的公制设计充分考虑了用户的集成需求。紧凑的外壳尺寸与标准的SM1螺纹接口使其能够无缝接入各类光学面包板与调整架。通过标准USB接口连接至计算机，配合专业的光束分析软件，用户可实时获取光束宽度、质心坐标、椭圆度及功率分布等关键参数。无论是用于激光器的出厂调试、光学系统的对准优化，还是科研领域的创新实验，BP209-VIS/M都以其稳定性和精确度成为光束诊断的可靠工具。

应用领域

• 激光系统调试与对准
• 光学元件质量检测
• 微纳光学与聚焦光斑分析
• 激光加工与材料处理监控
• 生物医学光学成像系统评估

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为200 – 1100 nm，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。