描述

BP209-IR2/M双扫描狭缝光束轮廓仪专为近红外至中红外波段设计，工作波长覆盖900至2700 nm，支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸测量。该仪器采用先进的双扫描狭缝技术，提供卓越的空间分辨率与高动态范围，广泛适用于激光研发、工业加工及光学系统对准等场景，是红外激光表征的理想选择。

产品概述

BP209-IR2/M双扫描狭缝光束轮廓仪是红外激光光束质量分析领域的专业解决方案。该设备专为900至2700 nm波长范围的激光系统打造，能够精确测量从极小光斑（Ø2.5 µm）到较大光束（Ø9 mm）的完整轮廓。通过采用精密的双扫描狭缝设计，它有效克服了传统阵列探测器在红外波段的饱和与噪声限制，实现了对高功率密度和弱光信号的高动态范围捕获。

该轮廓仪不仅提供光束宽度、质心位置、椭圆度等关键参数的精确计算，还具备出色的扫描速度与稳定性。其紧凑的公制设计与即插即用的软件接口，使得系统集成与日常操作极为便捷。无论是用于科研实验室的精密光学调试，还是工业环境下的激光器质量监控，BP209-IR2/M都能为您提供可靠、可重复的光束表征数据，助力提升光学系统的整体性能与良率。

核心特性

• 宽泛红外波段覆盖：支持900 – 2700 nm波长范围，满足各类近红外至中红外激光器的分析需求。
• 双扫描狭缝技术：采用高精度机械扫描狭缝，提供卓越的空间分辨率与高动态范围，避免探测器饱和。
• 宽广光束测量范围：精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸，适应从微聚焦光斑到准直光束的多样化应用。
• 高精度空间分辨率：微米级狭缝设计确保对微小光斑和复杂光束轮廓的精准捕获与解析。
• 实时光束参数分析：快速计算并输出光束宽度、质心、椭圆度、发散角等关键二维与一维光束参数。
• 紧凑公制设计：优化的机械结构便于集成至各类光学面包板、光机系统及自动化测试平台中。
• 易用软件生态：兼容专业光束分析软件，提供直观的用户界面、实时3D轮廓显示及全面的数据导出功能。

技术规格

产品型号	BP209-IR2/M
产品类型	双扫描狭缝光束轮廓仪
扫描方式	双扫描狭缝
波长范围	900 – 2700 nm
光束尺寸范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
狭缝宽度	10 µm
空间分辨率	1 µm
扫描速度	10 – 100 Hz
动态范围	> 60 dB
接口类型	USB 2.0
软件兼容性	BeamGage / 配套分析软件
外壳材质	阳极氧化铝
尺寸规格	紧凑公制设计，适配标准光机系统
工作温度	0 °C 至 40 °C
存储温度	-20 °C 至 60 °C
光束输入方向	垂直于安装面
测量能力	高动态范围，支持衰减后测量

产品详细说明

BP209-IR2/M双扫描狭缝光束轮廓仪专为解决红外波段激光表征的痛点而设计。在900至2700 nm区域，传统阵列探测器常面临暗电流噪声大、易饱和等问题。该仪器采用双扫描狭缝机械扫描技术，通过正交方向的高速旋转狭缝对光束逐点采样。此设计彻底消除了阵列盲区，赋予设备极高动态范围，能同时精准捕捉光束中心强信号与边缘弱信号。

在机械结构方面，BP209-IR2/M实现了微米级空间分辨率与Ø2.5 µm至Ø9 mm宽广测量范围的平衡。内置高精度编码器确保扫描位置绝对准确，为光束宽度、质心、椭圆度等参数计算提供坚实数据基础。紧凑的公制封装使其轻松集成至各类光学平台。

配合专业分析软件，用户可实现实时3D轮廓可视化、ISO标准参数计算及自动化测试。无论是评估红外激光二极管准直、分析光纤耦合效率，还是验证中红外加工系统光束质量，BP209-IR2/M均能提供稳定可靠的测量结果，是红外光学研发与制造的精密工具。

应用领域

• 红外激光二极管与光纤激光器表征
• 光学系统对准与光束准直
• 中红外激光加工质量监控
• 光纤耦合效率分析与优化
• 科研实验室光谱与光束分析
• 医疗与半导体红外激光设备校准

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为BP209-IR2/M，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。