M2MSBP2I/M是一款高性能M²光束质量测量系统（狭缝扫描式），专为500至1700 nm宽光谱范围内的激光光束分析而设计。该系统集成了BP209IR1/M双扫描狭缝光束轮廓仪，提供卓越的空间分辨率和测量精度，广泛应用于激光器研发、光束整形及工业激光加工领域，是评估和优化激光光束质量的理想选择。
产品概述
M2MSBP2I/M M²光束质量测量系统是一款专为精密激光光束分析打造的高端光学测量设备。系统核心采用BP209IR1/M双扫描狭缝光束轮廓仪，结合高精度电动位移台与专业分析软件，能够全面、准确地测量激光的M²因子、束腰位置、发散角等关键光束质量参数。该设备覆盖500至1700 nm的宽光谱范围，特别适用于近红外及可见光波段的激光系统评估。通过狭缝扫描技术，系统有效避免了像素阵列探测器的饱和与衍射效应，即使在测量高功率密度或具有复杂空间分布的激光束时，也能提供极高的空间分辨率和动态范围。M2MSBP2I/M不仅简化了复杂的M²测量流程，更为激光器的研发、质量控制及光束整形应用提供了可靠的数据支撑，是光学实验室和工业检测不可或缺的核心工具。
核心特性
- 宽光谱覆盖：支持500 – 1700 nm波长范围，兼容多种可见光与近红外激光器
- 双狭缝扫描设计：采用正交双扫描狭缝技术，实现高分辨率的二维光束轮廓精确重建
- 高空间分辨率：狭缝扫描机制有效消除像素化伪影，提供亚微米级的空间分辨率
- 精准M²测量：全自动电动位移台配合专业软件，快速准确获取M²因子、束腰及发散角
- 高动态范围：有效避免探测器饱和，轻松应对高功率密度及复杂光束分布的测量
- 宽谱反射镜组：标配适用于400 – 2700 nm的高性能反射镜，确保光束引入的高效与稳定
- 智能分析软件：提供直观的用户界面，支持实时数据可视化与全面的ISO标准光束参数计算
技术规格
| 产品型号 | M2MSBP2I/M |
|---|---|
| 系统类型 | M²光束质量测量系统 |
| 扫描方式 | 狭缝扫描式 |
| 核心轮廓仪 | BP209IR1/M 双扫描狭缝光束轮廓仪 |
| 工作波长范围 | 500 – 1700 nm |
| 扫描狭缝配置 | 正交双狭缝 (X/Y轴) |
| 配套反射镜 | 适用于 400 – 2700 nm 宽带反射镜 |
| M²测量标准 | 符合 ISO 11146 标准 |
| 位移台驱动 | 高精度电动线性位移台 |
| 软件功能 | M²因子、束腰位置、发散角、椭圆度实时计算 |
| 适用激光类型 | 连续波(CW)及脉冲激光器 |
| 系统单位制 | 公制 |
| 数据接口 | USB / 专用控制接口 |
| 应用领域 | 激光研发、工业检测、光束整形 |
产品详细说明
M2MSBP2I/M M²光束质量测量系统代表了激光光束分析领域的先进水平。该系统以BP209IR1/M双扫描狭缝光束轮廓仪为核心，突破了传统相机在测量高功率密度或极小光斑时的局限性。狭缝扫描技术通过物理狭缝对光束进行逐点扫描，彻底消除了像素阵列带来的衍射伪影和饱和问题，实现极高的空间分辨率，精准捕捉光束细微特征。
在M²因子测量方面，系统集成了高精度电动位移台与自动化软件。系统可自动沿光轴移动轮廓仪，在多个位置采集数据，严格依据ISO 11146标准计算M²因子、束腰半径及远场发散角等参数。全自动化流程大幅降低人为误差，提升测试效率。
此外，系统标配的宽带反射镜组（适用400 – 2700 nm）确保了光束引入的低损耗。结合上位机软件，M2MSBP2I/M支持光束轮廓实时可视化与报告导出，为激光研发、质量控制及光学装调提供坚实保障。
应用领域
- 激光器研发与性能评估
- 工业激光加工光束监控
- 光束整形与衍射光学元件测试
- 光纤激光器与半导体激光器表征
- 科学研究与光学实验室教学
订货信息
本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。
常见问题
Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？
A: 本产品的工作波长范围为M2MSBP2I/M，具体参数请参考技术规格表。
Q: 可以测量脉冲激光吗？
A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。
免责声明
本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。
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