Thorlabs DSD2 双波段光电二极管 400-1700nm Ø2.54mm/Ø1.5mm 4µs

Thorlabs DSD2 双波段光电二极管 400-1700nm Ø2.54mm/Ø1.5mm 4µs

¥7,026.00
Thorlabs DSD2
双波段硅/铟镓砷探测器,上升时间4 µs,400 – 1700 nm,Ø2.54/Ø1.5 mm
Thorlabs DSD2是一款Si / InGaAs光电二极管,工作波长范围覆盖400 – 1100 nm / 1000 – 1800 nm,有源区面积2.54 mm / 1.50 mm,上升时间4.0 µs / 4.0 µs,响应度0.55 A/W / 0.60 A/W。产品采用高标准封装工艺,适用于科研、工业检测及光通信领域的光信号精确测量。
核心规格参数
参数项目 规格值
探测器材料 Si / InGaAs
波长范围 400 – 1100 nm / 1000 – 1800 nm
峰值波长 950 nm / 1300 nm
响应度 0.55 A/W / 0.60 A/W
有源区面积 2.54 mm / 1.50 mm
上升时间 4.0 µs / 4.0 µs
噪声等效功率(NEP) 1.9 x 10-14 W/Hz1/2@ 950 nm / 2.1 x 10-13 W/Hz1/2@ 1300 nm
结电容 450 pF / 300 pF
封装类型 TO-5
最大偏置电压 5 V (Si)2 V (InGaAs)
工作温度 -40 to 100 °C
存储温度 -55 to 125 °C
Dark Current 1 nA / 0.5 nA
核心特点
• 宽光谱探测:覆盖400 – 1100 nm / 1000 – 1800 nm波长范围,满足多波段光电检测需求。
• 高响应度:0.55 A/W / 0.60 A/W,提升光电转换效率。
• 快速响应:上升时间4.0 µs / 4.0 µs,适用于高速光信号检测。
• 低噪声性能:NEP达1.9 x 10-14 W/Hz1/2@ 950 nm / 2.1 x 10-13 W/Hz1/2@ 1300 nm,保障微弱信号高信噪比检测。
• 低暗电流:1 nA / 0.5 nA,减少背景噪声干扰。
• 低结电容:450 pF / 300 pF,优化高频响应特性。
• 标准TO-5封装,兼容标准光学安装系统,易于集成。
数据手册
📄 下载DSD2数据手册PDF
以上参数由Thorlabs官方数据整理,实际规格以产品手册为准。

描述

Thorlabs DSD2
双波段硅/铟镓砷探测器,上升时间4 µs,400 – 1700 nm,Ø2.54/Ø1.5 mm
Thorlabs DSD2是一款Si / InGaAs光电二极管,工作波长范围覆盖400 – 1100 nm / 1000 – 1800 nm,有源区面积2.54 mm / 1.50 mm,上升时间4.0 µs / 4.0 µs,响应度0.55 A/W / 0.60 A/W。产品采用高标准封装工艺,适用于科研、工业检测及光通信领域的光信号精确测量。
核心规格参数
参数项目 规格值
探测器材料 Si / InGaAs
波长范围 400 – 1100 nm / 1000 – 1800 nm
峰值波长 950 nm / 1300 nm
响应度 0.55 A/W / 0.60 A/W
有源区面积 2.54 mm / 1.50 mm
上升时间 4.0 µs / 4.0 µs
噪声等效功率(NEP) 1.9 x 10-14 W/Hz1/2@ 950 nm / 2.1 x 10-13 W/Hz1/2@ 1300 nm
结电容 450 pF / 300 pF
封装类型 TO-5
最大偏置电压 5 V (Si)2 V (InGaAs)
工作温度 -40 to 100 °C
存储温度 -55 to 125 °C
Dark Current 1 nA / 0.5 nA
核心特点
• 宽光谱探测:覆盖400 – 1100 nm / 1000 – 1800 nm波长范围,满足多波段光电检测需求。
• 高响应度:0.55 A/W / 0.60 A/W,提升光电转换效率。
• 快速响应:上升时间4.0 µs / 4.0 µs,适用于高速光信号检测。
• 低噪声性能:NEP达1.9 x 10-14 W/Hz1/2@ 950 nm / 2.1 x 10-13 W/Hz1/2@ 1300 nm,保障微弱信号高信噪比检测。
• 低暗电流:1 nA / 0.5 nA,减少背景噪声干扰。
• 低结电容:450 pF / 300 pF,优化高频响应特性。
• 标准TO-5封装,兼容标准光学安装系统,易于集成。
数据手册
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以上参数由Thorlabs官方数据整理,实际规格以产品手册为准。

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