Gentec-EO PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计

Gentec-EO PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计

Gentec-EO PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计是加拿大Gentec-EO生产的专业激光功率探测器,功率范围16 mW (OD0.3),光谱范围210 – 1080 nm,对流冷却,紫外硅 (SiUV) + OD0.3衰减器吸收体。附带NIST可溯源校准证书,适用于科研和工业激光功率测量。

核心特点

  • 硅光电二极管,pW级噪声水平
  • NIST可溯源校准,最低±1.5%不确定度
  • 可选OD衰减器扩展量程

技术规格

最大平均功率 16 mW (OD0.3)
光谱范围 210 – 1080 nm
典型上升时间 0.2 s
孔径 10 mm Ø
吸收体 紫外硅 (SiUV) + OD0.3衰减器
尺寸 38.1Ø×27.4D mm
重量 0.13 kg

PH光电系列选型对比

型号 传感器 光谱范围 最大功率 孔径
PH100-Si-HA 350-1080nm 36mW/750mW(OD2) 10mm
PH100-SiUV 紫外硅 210-1080nm 4mW/38mW(OD1) 10mm
PH20-Ge 800-1650nm 30mW/500mW(OD2) 5mm

常见问题(FAQ)

Q: PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计与标准硅探测器有何区别?

A: SiUV版本增强了紫外波段灵敏度,光谱范围下延至210nm,适合UV激光测量,但最大功率较低(4mW)。

Q: OD衰减器的作用是什么?

A: OD0.3透光率50%,OD1透光率10%,可扩展量程。PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计的最大功率从16 mW (OD0.3)。

描述

Gentec-EO PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计是加拿大Gentec-EO生产的专业激光功率探测器,功率范围16 mW (OD0.3),光谱范围210 – 1080 nm,对流冷却,紫外硅 (SiUV) + OD0.3衰减器吸收体。附带NIST可溯源校准证书,适用于科研和工业激光功率测量。

核心特点

  • 硅光电二极管,pW级噪声水平
  • NIST可溯源校准,最低±1.5%不确定度
  • 可选OD衰减器扩展量程

技术规格

最大平均功率 16 mW (OD0.3)
光谱范围 210 – 1080 nm
典型上升时间 0.2 s
孔径 10 mm Ø
吸收体 紫外硅 (SiUV) + OD0.3衰减器
尺寸 38.1Ø×27.4D mm
重量 0.13 kg

PH光电系列选型对比

型号 传感器 光谱范围 最大功率 孔径
PH100-Si-HA 350-1080nm 36mW/750mW(OD2) 10mm
PH100-SiUV 紫外硅 210-1080nm 4mW/38mW(OD1) 10mm
PH20-Ge 800-1650nm 30mW/500mW(OD2) 5mm

常见问题(FAQ)

Q: PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计与标准硅探测器有何区别?

A: SiUV版本增强了紫外波段灵敏度,光谱范围下延至210nm,适合UV激光测量,但最大功率较低(4mW)。

Q: OD衰减器的作用是什么?

A: OD0.3透光率50%,OD1透光率10%,可扩展量程。PH100-SiUV-OD.3-D0 紫外硅光电功率计的最大功率从16 mW (OD0.3)。

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