BP209-IR2是一款专为近红外及短波红外波段设计的双扫描狭缝光束轮廓仪。其波长覆盖900至2700 nm,能够精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm范围内的光束尺寸与空间分布。该设备采用高精度双狭缝扫描技术,为红外激光系统的研发、调试与质量控制提供可靠的光束特性分析方案,是红外光学领域的理想测量工具。
产品概述
BP209-IR2双扫描狭缝光束轮廓仪专为严苛的红外激光测量应用而设计,全面覆盖900至2700 nm的近红外与短波红外波段。作为一款高性能的光束特性分析工具,它能够精确捕捉并重建从Ø2.5 µm到Ø9 mm的极小至中等尺寸光束的二维空间轮廓。该仪器采用成熟的双扫描狭缝技术,通过机械扫描方式直接测量光束的绝对功率分布,避免了阵列探测器常见的像素饱和与非线性响应问题。
凭借其出色的红外探测能力和高分辨率的扫描机制,BP209-IR2不仅适用于常规的红外激光光束质量评估,还能在复杂的光学系统对准、模式分析以及红外光源研发中发挥关键作用。其坚固耐用的设计和直观的操作体验,使其成为科研实验室和工业生产线中不可或缺的光束分析利器。
核心特性
- 宽泛红外波段:支持900 – 2700 nm波长范围,完美适配各类近红外与短波红外激光源
- 高精度双狭缝:采用双扫描狭缝技术,独立测量X轴和Y轴,提供精确的二维光束轮廓
- 宽广测量范围:支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸,满足从微聚焦到准直光束的测量需求
- 绝对功率测量:基于机械扫描狭缝原理,直接测量光束绝对功率分布,无像素饱和与非线性误差
- 高空间分辨率:微米级的狭缝设计确保对微小光束和复杂光束模式的精细解析
- 稳定可靠设计:专为红外波段优化的探测器与机械结构,确保长期测量的稳定性与重复性
技术规格
| 产品型号 | BP209-IR2 |
|---|---|
| 产品类型 | 双扫描狭缝光束轮廓仪 |
| 扫描方式 | 双扫描狭缝 |
| 波长范围 | 900 – 2700 nm |
| 最小光束尺寸 | Ø2.5 µm |
| 最大光束尺寸 | Ø9 mm |
| 适用光谱波段 | 近红外/短波红外 (NIR/SWIR) |
| 测量维度 | X轴和Y轴独立扫描 |
| 测量原理 | 机械扫描狭缝绝对功率测量 |
| 空间分辨率 | 微米级 (受狭缝宽度限制) |
| 光束轮廓类型 | 二维空间分布 |
| 系统单位制 | 英制 |
| 典型应用 | 红外激光光束质量分析 |
| 探测器兼容性 | 优化用于900-2700 nm红外探测 |
产品详细说明
BP209-IR2双扫描狭缝光束轮廓仪的核心优势在于其基于机械扫描狭缝的测量原理。与传统的阵列相机不同,该仪器使用正交排列的精密狭缝对光束进行物理扫描,直接记录透过的光功率,绘制出真实的X轴和Y轴强度分布。这种设计彻底消除了像素化误差和非线性响应,确保了测量结果的极高保真度。
针对900至2700 nm的红外波段,BP209-IR2配备了专门优化的红外敏感探测器。其Ø2.5 µm至Ø9 mm的宽广测量范围,使其能够从容应对从微聚焦光斑到准直光束的测量需求。双狭缝设计允许系统同时获取正交方向上的光束参数,如束腰宽度和椭圆度,提供全面的光束特性数据。
凭借坚固的机械结构和稳定的扫描机制,BP209-IR2保证了出色的测量重复性。无论是红外激光器的出厂校准、光学系统的精密对准,还是新型光源的研发测试,该轮廓仪都能提供准确的光束轮廓图像,助力用户优化系统性能。
应用领域
- 红外激光器研发与测试
- 光学系统精密对准
- 光束质量分析与认证
- 医疗与工业红外激光应用
- 光纤耦合效率优化
订货信息
本产品提供英制和公制两种螺纹版本,订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。
常见问题
Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围?
A: 本产品的工作波长范围为BP209-IR2,具体参数请参考技术规格表。
Q: 可以测量脉冲激光吗?
A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量,具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。
免责声明
本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更,恕不另行通知。产品图片仅供参考,请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程,避免直接激光照射对人眼造成伤害。









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