描述

M2MS-BP209IR2是一款专为近红外至中红外波段设计的双扫描狭缝M²光束质量测量系统。其波长覆盖900至2700 nm，支持Ø2.5 µm至Ø9 mm光束尺寸测量。凭借高精度双狭缝扫描技术，精准捕获光束轮廓，广泛应用于红外激光器研发、工业加工等领域的M²因子、发散角等核心参数快速评估。

产品概述

M2MS-BP209IR2 M²光束质量测量系统集成了高性能的BP209-IR2双扫描狭缝光束轮廓仪，专为900至2700 nm波段的红外激光表征而打造。该系统采用先进的双正交狭缝扫描机制，能够有效克服传统相机式轮廓仪在强光或特定红外波段下的饱和与噪声问题，实现对极小至中等尺寸光束的高动态范围、高分辨率测量。系统标配适用于400至2700 nm宽谱段的高反射镜，确保红外光束的高效耦合与引导。通过精密的机械扫描与配套的专业分析软件，用户可一键获取M²因子、束腰直径、远场发散角及光束对称性等关键ISO标准参数。无论是针对光纤激光器、固体激光器还是中红外激光器的光束质量诊断，M2MS-BP209IR2都能提供可靠、可重复的测量数据，是红外激光研发、质量控制及光学系统对准的理想工具。

核心特性

• 宽谱红外兼容：工作波长覆盖900 – 2700 nm，完美适配各类近红外至中红外激光源。
• 双狭缝扫描技术：采用正交双扫描狭缝设计，提供高空间分辨率与高动态范围，避免探测器饱和。
• 宽泛光束测量：支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的极小到中等光束尺寸精准测量。
• 宽谱反射镜组：标配400 – 2700 nm高反镜，保障红外光束的高效导入与低损耗传输。
• 全参数M²分析：自动计算并输出M²因子、束腰位置、发散角等符合ISO标准的激光光束参数。
• 高分辨率轮廓捕获：狭缝扫描机制提供亚微米级步进精度，真实还原红外光束的空间强度分布。
• 坚固耐用设计：专为实验室及工业环境优化，确保长期测量的稳定性与数据可重复性。

技术规格

产品型号	M2MS-BP209IR2
系统类型	M²光束质量测量系统
光束轮廓仪型号	BP209-IR2
扫描方式	双扫描狭缝 (正交双轴)
工作波长范围	900 – 2700 nm
光束尺寸测量范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
配套反射镜波长范围	400 – 2700 nm
测量参数	M²因子, 束腰直径, 发散角, 椭圆度等
适用激光波段	近红外至中红外 (NIR to MIR)
空间分辨率	亚微米级 (基于狭缝扫描机制)
动态范围	高动态范围 (狭缝扫描优势)
光束轮廓维度	二维正交截面 (X轴与Y轴)

产品详细说明

M2MS-BP209IR2系统专为解决红外波段激光光束质量精确测量的挑战而设计。在900至2700 nm波段，传统阵列探测器常面临材料吸收或强光饱和等问题。本系统采用的BP209-IR2双扫描狭缝轮廓仪，通过物理狭缝机械平移对光束逐点扫描，消除了像素化探测器的局限，实现极高空间分辨率与宽广动态范围。

系统的核心在于正交双狭缝设计。X轴与Y轴狭缝依次扫描，同步获取两正交方向的强度分布，精确计算光束宽度与椭圆度。结合高精度步进电机，系统可测量小至Ø2.5 µm的聚焦光斑至Ø9 mm的准直光束，满足多样化需求。

此外，系统配备400 – 2700 nm宽谱高反镜，确保红外激光高效耦合。配合专业M²分析软件，用户可自动拟合光束包络，一键输出符合ISO标准的M²因子、瑞利长度及远场发散角等参数。M2MS-BP209IR2不仅是红外激光器检验的利器，更是光束整形、光纤耦合及模式分析不可或缺的精密仪器。

应用领域

• 红外激光器研发与表征
• 工业激光加工质量监控
• 光纤耦合与光束整形优化
• 医疗与科研用中红外激光诊断
• 自由空间光通信系统对准

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为M2MS-BP209IR2，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。