描述

M2MS-BP209VIS-AL是一款专为250-600 nm波段设计的M²光束质量测量系统，采用高精度双扫描狭缝技术。该系统能够精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm范围内的光束轮廓与M²因子，广泛应用于紫外至可见光激光器的研发与质量控制，为精密光学加工和激光系统调试提供可靠的数据支持。

产品概述

M2MS-BP209VIS-AL M²光束质量测量系统是一款集成化的精密光学检测设备，专为250-600 nm紫外至可见光波段的激光光束特性分析而设计。系统核心采用BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪，结合专用的250-600 nm反射镜组，能够实现对极小至中等尺寸光束的高分辨率空间分布测量。该系统不仅支持光束直径在Ø2.5 µm到Ø9 mm范围内的精确捕捉，还能通过软件自动计算并输出光束的M²因子、发散角、束腰位置等关键参数。凭借其非接触式的狭缝扫描原理，该测量系统有效避免了传统CCD相机在高功率或紫外波段易受损伤及衍射干扰的问题，确保了测量结果的真实性与重复性。M2MS-BP209VIS-AL是激光器研发、工业激光加工及科研实验室中不可或缺的光束质量评估工具。

核心特性

• 双扫描狭缝技术：提供高空间分辨率，精确捕捉微小光束轮廓
• 宽泛光束测量范围：支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的灵活测量，适应多种光束尺寸
• 紫外至可见光优化：配备250-600 nm专用反射镜，完美适配该波段激光特性
• 全自动M²分析：内置软件算法，一键计算M²因子、发散角及束腰等关键参数
• 无损测量原理：狭缝扫描设计避免了高功率或紫外激光对探测器的热损伤
• 高重复性与稳定性：精密机械扫描结构确保长期测量数据的一致性与可靠性
• 紧凑型集成设计：系统结构紧凑，易于集成到现有的光学实验平台或生产线中

技术规格

产品型号	M2MS-BP209VIS-AL
产品类型	M²光束质量测量系统
核心传感器	BP209-VIS 双扫描狭缝光束轮廓仪
扫描方式	双扫描狭缝
系统工作波长	250 – 600 nm
传感器响应范围	200 – 1100 nm
光束尺寸测量范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
配套反射镜规格	适用于 250 – 600 nm 波段
测量维度	X轴与Y轴双维度扫描
可测光束参数	M²因子、束腰位置、发散角、光束轮廓
测量原理	狭缝扫描法
适用光源类型	紫外至可见光连续及脉冲激光器

产品详细说明

M2MS-BP209VIS-AL系统基于高精度的狭缝扫描原理工作。其核心组件BP209-VIS光束轮廓仪内部配备了两组精密控制的扫描狭缝，分别用于X轴和Y轴的独立光束切片扫描。当激光束通过狭缝时，透射光强被后端的宽谱探测器接收，通过机械位移与光强信号的精确同步，系统能够重建出高分辨率的二维光束空间分布。这种非成像式的测量方法彻底消除了像素阵列带来的衍射效应和饱和问题。

针对250-600 nm的紫外至可见光波段，该系统专门配置了高反射率的专用反射镜组，确保了光路的高效耦合与低损耗。得益于双狭缝设计的极高空间分辨率，系统能够轻松应对从Ø2.5 µm的极小光斑到Ø9 mm的较大光束的测量需求，覆盖了绝大多数科研与工业应用中的光束尺寸范围。

配套的专用分析软件能够实时采集扫描数据，并依据ISO 11146标准自动拟合计算出光束的M²因子、束腰直径、瑞利长度及远场发散角。这对于评估激光器的模式纯度、优化聚焦光路以及验证激光加工系统的性能具有决定性意义。M2MS-BP209VIS-AL以其卓越的测量精度和波段针对性，成为紫外及可见光激光系统表征的理想选择。

应用领域

• 紫外及可见光激光器研发与测试
• 精密激光微加工与光刻系统校准
• 荧光显微镜及共聚焦光路优化
• 光纤耦合效率分析与模式匹配
• 科研实验室光束特性表征

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为M2MS-BP209VIS-AL，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。