M2MS-BP209VIS/M是一款高性能的M²光束质量测量系统，采用双扫描狭缝技术，专为400-1100 nm波长范围的激光光束分析而设计。该系统能够精确测量从Ø2.5 µm到Ø9 mm的微小至中等光束尺寸，符合ISO 11146标准。广泛应用于激光器研发、工业加工及科研领域，为您提供全面、可靠的光束质量表征方案。
产品概述
M2MS-BP209VIS/M M²光束质量测量系统集成了高精度的BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪与专业分析软件，旨在为科研和工业用户提供符合ISO 11146标准的光束质量评估方案。该系统通过双狭缝扫描机制，能够以极高的空间分辨率捕捉光束轮廓，有效避免了传统相机阵列在强激光或极小光斑测量中面临的饱和与衍射极限问题。其宽广的光束尺寸测量范围（Ø2.5 µm至Ø9 mm）和400-1100 nm的适用波长，使其成为表征可见光至近红外激光器的理想选择。无论是评估激光器的模式纯度、聚焦性能，还是进行复杂的光学系统对准，该系统都能提供精确、可重复的M²因子、发散角及束腰位置等关键参数，助力用户优化激光系统性能。
核心特性
- 双扫描狭缝技术：提供极高的空间分辨率，精准测量微小光斑。
- 宽波长适用范围：支持400-1100 nm波段，覆盖常见可见及近红外激光。
- 宽广测量范围：光束尺寸测量范围覆盖Ø2.5 µm至Ø9 mm。
- 符合ISO标准：严格遵循ISO 11146标准，精确计算M²因子。
- 高动态范围：有效避免强光饱和，适用于多种功率密度的激光测量。
- 一体化系统集成：包含光束轮廓仪、反射镜及专业M²分析软件。
- 公制标准设计：采用公制单位，方便工程与科研数据记录与分析。
技术规格
| 产品型号 | M2MS-BP209VIS/M |
|---|---|
| 产品类型 | M²光束质量测量系统 |
| 扫描方式 | 双扫描狭缝 |
| 核心组件 | BP209-VIS/M 双扫描狭缝光束轮廓仪 |
| 波长范围 | 400 – 1100 nm |
| 光束尺寸范围 | Ø2.5 µm – Ø9 mm |
| 空间分辨率 | 亚微米级 |
| 反射镜波长范围 | 400 – 2700 nm |
| 测量标准 | ISO 11146 |
| 测量参数 | M²因子, 束腰直径, 发散角, 束腰位置 |
| 系统单位 | 公制 |
| 适用激光类型 | 连续波(CW)及脉冲激光 |
| 光束对准 | 配备精密调节架及反射镜组 |
| 数据接口 | USB |
| 扫描速度 | 高速实时扫描 |
产品详细说明
M2MS-BP209VIS/M M²光束质量测量系统专为严苛的激光表征需求而设计。其核心部件BP209-VIS/M采用创新的双扫描狭缝技术，通过两个正交方向上的精密狭缝物理扫描光束，将光信号转换为电信号。这种机制彻底消除了传统CCD/CMOS相机在测量极小光斑或高功率密度激光时面临的像素饱和、衍射伪影及动态范围受限等问题，确保了数据的真实性与高保真度。
在系统架构上，该测量系统不仅包含了高精度的扫描轮廓仪，还配备了适用于400-2700 nm波段的宽带反射镜组，能够灵活引导光束进入测量模块。配合专业的M²分析软件，系统可自动执行多截面扫描，并依据ISO 11146标准严格拟合计算出M²因子、束腰大小、远场发散角等核心光束质量参数。
该系统的光束尺寸测量范围从极小的Ø2.5 µm延伸至Ø9 mm，完美契合从单模光纤激光器到多模工业激光器的广泛测试需求。无论是用于实验室的精密光学研发，还是生产线上的激光器质量抽检，M2MS-BP209VIS/M都能以其卓越的分辨率、宽广的适用性和优异的重复性，为您提供值得信赖的光束质量分析保障。
应用领域
- 激光器研发与测试
- 工业激光加工质量监控
- 光纤耦合与对准优化
- 生物医疗激光系统表征
- 科研与光学实验室光束分析
订货信息
本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。
常见问题
Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？
A: 本产品的工作波长范围为M2MS-BP209VIS/M，具体参数请参考技术规格表。
Q: 可以测量脉冲激光吗？
A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。
免责声明
本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。
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