描述

M2MS-BP209VIS是一款高性能的M²光束质量测量系统，采用先进的双扫描狭缝技术，专为400-1100 nm可见光及近红外波段激光设计。该系统可精确测量Ø2.5 µm至Ø9 mm范围内的微小光束，提供卓越的空间分辨率与扫描速度。广泛应用于激光器研发、工业加工及科研领域，是评估光束质量、优化光学系统不可或缺的专业仪器。

产品概述

M2MS-BP209VIS M²光束质量测量系统专为严苛的激光表征需求而设计，集成了高精度的BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪与优化的光学组件。该系统能够全面、快速地捕获激光束的空间分布，精确计算M²因子、发散角、束腰位置及椭圆度等关键参数，完全符合ISO 11146国际标准。

凭借双狭缝交叉扫描设计，M2MS-BP209VIS有效克服了传统相机型轮廓仪在测量极小光束或高功率密度光束时的饱和与衍射极限问题，实现从Ø2.5 µm超细光束到Ø9 mm常规光束的无缝覆盖。系统配备的400-2700 nm宽带反射镜组件，确保了光路的高效传输与低损耗。结合专业分析软件，用户可实时生成三维光束轮廓及二维截面图，为激光器性能验证、模式分析及光束整形提供可靠的数据支撑。

核心特性

• 双扫描狭缝技术：提供极高的空间分辨率，精准捕捉微小光束细节
• 宽泛测量范围：支持Ø2.5 µm至Ø9 mm的光束尺寸，适应多种激光模式
• 可见-近红外兼容：专为400-1100 nm波段优化，满足主流激光器测试需求
• 全参数M²分析：精确测量M²因子、发散角、束腰等，符合ISO 11146标准
• 高效光学组件：配备400-2700 nm宽带反射镜，保障光路低损耗传输
• 实时软件处理：专业算法支持三维轮廓重建与实时数据可视化
• 无损测量能力：狭缝扫描机制有效避免高能激光对探测器的损伤风险

技术规格

产品型号	M2MS-BP209VIS
系统类型	M²光束质量测量系统
扫描方式	双扫描狭缝
核心轮廓仪	BP209-VIS
工作波长范围	400 – 1100 nm
光束尺寸测量范围	Ø2.5 µm – Ø9 mm
反射镜镀膜范围	400 – 2700 nm
空间分辨率	微米级高精度
测量标准	ISO 11146
分析参数	M², 发散角, 束腰, 椭圆度
适用激光类型	连续及脉冲激光
数据可视化	三维轮廓与二维截面实时显示

产品详细说明

M2MS-BP209VIS M²光束质量测量系统代表了狭缝扫描光束分析技术的前沿水平。其核心在于采用BP209-VIS双扫描狭缝光束轮廓仪，通过两个正交方向的高速移动狭缝对光束进行物理切割与探测。这种机械扫描机制从根本上消除了面阵相机常见的像素衍射、饱和及暗电流噪声问题，使得系统能够以微米级的空间分辨率，精准测量小至Ø2.5 µm的极细光束，同时兼容高达Ø9 mm的常规光束，展现出极宽的动态测量范围。

在光学设计上，该系统集成了专为400-2700 nm波段优化的宽带反射镜组件，确保了从可见光到近红外区域的高反射率与低波前畸变，为光束的无损导入提供了可靠保障。配合专业的M²分析软件，系统能够自动执行多点束腰扫描，严格遵循ISO 11146国际标准，精确拟合出光束的传播曲线，并计算出M²因子、远场发散角、束腰位置及直径等核心参数。

无论是用于固体激光器、光纤激光器的模式验证，还是精密激光加工系统的光束优化，M2MS-BP209VIS都能提供稳定、可重复的测量结果。其直观的三维光束轮廓重建与丰富的数据导出功能，极大地简化了复杂光束特性的分析流程，助力科研人员与工程师深入洞察激光物理特性，提升光学系统的整体性能。

应用领域

• 激光器研发与性能表征
• 工业激光加工光束优化
• 光纤通信与光子学器件测试
• 医疗与科研激光系统校准
• 非线性光学与超快激光分析

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为M2MS-BP209VIS，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。