描述

M2MSBP2I是一款高性能M²光束质量测量系统（狭缝扫描式），专为500至1700 nm波长范围设计。系统集成BP209IR1双扫描狭缝光束轮廓仪与宽带反射镜，具备极高空间分辨率与动态范围。广泛应用于激光研发与工业加工，精准测量光束发散角、束腰及M²因子，是评估近红外激光系统光束质量的理想选择。

产品概述

M2MSBP2I M²光束质量测量系统是一款专为精密激光分析打造的高端光学检测设备。该系统以狭缝扫描技术为核心，完美适配500至1700 nm的宽光谱范围，特别适合近红外波段激光的精确表征。系统标配BP209IR1双扫描狭缝光束轮廓仪，并配备适用于400至2700 nm的高性能反射镜，可灵活构建紧凑且稳定的光路。

通过高精度的机械扫描与先进的信号处理算法，M2MSBP2I能够克服传统相机式轮廓仪在高功率密度或极小光束尺寸测量中的局限。它不仅能实时捕捉光束的二维轮廓，还能自动计算并拟合ISO 11146标准下的M²因子、光束发散角、瑞利长度及束腰位置等关键参数。无论是连续波还是脉冲激光器，该系统都能提供可靠的数据支持，助力科研人员与工程师优化激光谐振腔设计、提升光束传输效率，是激光质量控制不可或缺的利器。

核心特性

• 宽光谱兼容：支持500 – 1700 nm波长范围，完美适配各类可见光与近红外激光器。
• 狭缝扫描技术：采用双扫描狭缝设计，提供微米级空间分辨率，轻松应对微小光束测量。
• 高功率耐受：无传感器饱和风险，可直接测量高功率密度激光，无需复杂衰减。
• 核心组件集成：标配BP209IR1光束轮廓仪及400-2700nm宽带反射镜，光路搭建灵活高效。
• 全参数自动计算：符合ISO 11146标准，一键获取M²因子、束腰位置及发散角等关键数据。
• 英制机械结构：采用英制导轨与安装孔位，便于与标准英制光学平台及调整架无缝集成。
• 智能分析软件：配套专业光束分析软件，支持实时3D轮廓显示与多格式数据导出。

技术规格

产品型号	M2MSBP2I
产品类型	M²光束质量测量系统（狭缝扫描式）
核心传感器	BP209IR1 双扫描狭缝光束轮廓仪
系统工作波长	500 – 1700 nm
配套反射镜波段	400 – 2700 nm
扫描机制	双轴正交狭缝机械扫描
空间分辨率	微米级
机械标准	英制
测量标准	ISO 11146
适用激光模式	连续波 (CW) 与脉冲激光
抗饱和能力	高（无光电传感器饱和风险）
光束尺寸范围	微米至毫米量级
数据分析功能	M²因子、束腰、发散角自动拟合
软件支持	配套专业光束分析软件

产品详细说明

M2MSBP2I M²光束质量测量系统采用先进的狭缝扫描技术，为500至1700 nm波段的激光分析提供卓越解决方案。与传统相机式轮廓仪不同，该系统利用高精度机械移动的狭缝对光束进行逐点扫描，彻底消除了高功率密度导致的传感器饱和或损伤问题，在测量极小束腰或高能量脉冲激光时展现出极高的准确性。

系统核心搭载BP209IR1双扫描狭缝光束轮廓仪，具备微米级空间分辨率与宽动态范围。配合附带的400至2700 nm宽带反射镜，用户可灵活构建紧凑型光路。英制机械结构确保其与主流英制光学平台完美兼容，简化了光路搭建流程。

配套的专业分析软件严格遵循ISO 11146标准，通过多轴向数据采集与双曲线拟合，自动计算M²因子、发散角及束腰位置等参数。无论是评估半导体激光特性还是优化固体激光器谐振腔，M2MSBP2I均能提供详实可靠的数据支撑，是提升激光系统性能的必备工具。

应用领域

• 激光器研发与表征
• 工业激光加工质量控制
• 医疗激光系统校准
• 光束整形与光学设计验证
• 半导体激光阵列分析

订货信息

本产品提供英制和公制两种螺纹版本，订购时请根据需求选择对应型号。产品包含主机、数据线、配套软件授权和必要的安装附件。

常见问题

Q: 这款光束轮廓仪支持哪些波长范围？

A: 本产品的工作波长范围为M2MSBP2I，具体参数请参考技术规格表。

Q: 可以测量脉冲激光吗？

A: 扫描狭缝式光束轮廓仪支持连续光和脉冲光测量，具体适配条件请参考技术规格或联系我们的技术支持。

免责声明

本产品规格参数和外观可能因产品优化升级而有所变更，恕不另行通知。产品图片仅供参考，请以实物为准。使用本产品时请遵守相关安全操作规程，避免直接激光照射对人眼造成伤害。